SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL

To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition...

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Hauptverfasser: SMITH, MARC, L, DAOU, FADI, H
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator SMITH, MARC, L
DAOU, FADI, H
description To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition time with the required resolution. By employing a differentiator (60), test circuitry can detect not only zero crossings but all digital-level transitions, so relatively high jitter-frequency components can be measured. A Fourier-transform unit (76) computes jitter-frequency components from a resultant sequence of deviations from nominal transition times. Although computation of the lowest jitter-frequency components is necessarily based on a sequence that extends over a correspondingly long signal record, the input of a memory (48) that receives the raw samples from which those transition-time deviations are computed is so gated that the memory (48) receives only infrequently occurring bursts of the sampler's high-sample-rate output when the lower jitter frequencies are to be measured. A memory (48) of only moderate size can therefore be employed despite the necessarily high sample rate and necessarily long record duration. L'invention concerne un système pour mesurer les diverses composantes de fréquences de l'instabilité avec laquelle les temps de transition dans un signal sur une ligne de signaux (44) d'un dispositif testé s'écartent des temps binaires nominaux. Un échantillonneur (40) répond à une horloge de référence (50) en échantillonnant le signal à une vitesse suffisamment élevée pour déterminer le temps de transition avec la résolution requise. En utilisant un différentiateur (60), un circuit d'essai (fig 3B) peut détecter non seulement les passages à zéro mais également toutes les transitions de niveau numériques, de telle sorte que des composantes de fréquence d'instabilité relativement élevées peuvent être mesurées. Une unité à transformée de Fourrier (76) calcule des composantes de fréquence d'instabilité à partir d'une séquence obtenue d'écarts par rapport aux temps de transition nominaux. Le calcul des plus faibles composantes de fréquence d'instabilité se fonde nécessairement sur une séquence qui s'étend sur un enregistrement de signaux longs correspondants, toutefois, l'entrée d'une mémoire (48) recevant les échantillons bruts à partir desquels les écarts de temps de transition sont calculés, est commandée par porte. De cette manière, cette mé
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO9707611A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO9707611A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO9707611A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZLAKjgwOcfVVcPMPUvB1dQwODfL0c1fw8gwJcQ1S8PRTcFTw8_fTdfL0cwyKVHDxdPcMcfRRCPZ093P04WFgTUvMKU7lhdLcDApuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-luYG5maGho6GxkQoAQBe9iij</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL</title><source>esp@cenet</source><creator>SMITH, MARC, L ; DAOU, FADI, H</creator><creatorcontrib>SMITH, MARC, L ; DAOU, FADI, H</creatorcontrib><description>To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition time with the required resolution. By employing a differentiator (60), test circuitry can detect not only zero crossings but all digital-level transitions, so relatively high jitter-frequency components can be measured. A Fourier-transform unit (76) computes jitter-frequency components from a resultant sequence of deviations from nominal transition times. Although computation of the lowest jitter-frequency components is necessarily based on a sequence that extends over a correspondingly long signal record, the input of a memory (48) that receives the raw samples from which those transition-time deviations are computed is so gated that the memory (48) receives only infrequently occurring bursts of the sampler's high-sample-rate output when the lower jitter frequencies are to be measured. A memory (48) of only moderate size can therefore be employed despite the necessarily high sample rate and necessarily long record duration. L'invention concerne un système pour mesurer les diverses composantes de fréquences de l'instabilité avec laquelle les temps de transition dans un signal sur une ligne de signaux (44) d'un dispositif testé s'écartent des temps binaires nominaux. Un échantillonneur (40) répond à une horloge de référence (50) en échantillonnant le signal à une vitesse suffisamment élevée pour déterminer le temps de transition avec la résolution requise. En utilisant un différentiateur (60), un circuit d'essai (fig 3B) peut détecter non seulement les passages à zéro mais également toutes les transitions de niveau numériques, de telle sorte que des composantes de fréquence d'instabilité relativement élevées peuvent être mesurées. Une unité à transformée de Fourrier (76) calcule des composantes de fréquence d'instabilité à partir d'une séquence obtenue d'écarts par rapport aux temps de transition nominaux. Le calcul des plus faibles composantes de fréquence d'instabilité se fonde nécessairement sur une séquence qui s'étend sur un enregistrement de signaux longs correspondants, toutefois, l'entrée d'une mémoire (48) recevant les échantillons bruts à partir desquels les écarts de temps de transition sont calculés, est commandée par porte. De cette manière, cette mémoire (48) ne reçoit que les augmentations brusques d'amplitude de la sortie à vitesse d'échantillonnage élevée, se produisant infréquemment, lorsque les fréquences d'instabilité inférieures sont à mesurer. Une mémoire (48) de taille modérée uniquement peut, par conséquent, être utilisée en dépit de la vitesse d'échantillonnage nécessairement élevée, et de la durée d'enregistrement nécessairement longue.</description><edition>6</edition><language>eng ; fre</language><subject>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE ; ELECTRICITY ; TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION</subject><creationdate>1997</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19970227&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9707611A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19970227&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9707611A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SMITH, MARC, L</creatorcontrib><creatorcontrib>DAOU, FADI, H</creatorcontrib><title>SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL</title><description>To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition time with the required resolution. By employing a differentiator (60), test circuitry can detect not only zero crossings but all digital-level transitions, so relatively high jitter-frequency components can be measured. A Fourier-transform unit (76) computes jitter-frequency components from a resultant sequence of deviations from nominal transition times. Although computation of the lowest jitter-frequency components is necessarily based on a sequence that extends over a correspondingly long signal record, the input of a memory (48) that receives the raw samples from which those transition-time deviations are computed is so gated that the memory (48) receives only infrequently occurring bursts of the sampler's high-sample-rate output when the lower jitter frequencies are to be measured. A memory (48) of only moderate size can therefore be employed despite the necessarily high sample rate and necessarily long record duration. L'invention concerne un système pour mesurer les diverses composantes de fréquences de l'instabilité avec laquelle les temps de transition dans un signal sur une ligne de signaux (44) d'un dispositif testé s'écartent des temps binaires nominaux. Un échantillonneur (40) répond à une horloge de référence (50) en échantillonnant le signal à une vitesse suffisamment élevée pour déterminer le temps de transition avec la résolution requise. En utilisant un différentiateur (60), un circuit d'essai (fig 3B) peut détecter non seulement les passages à zéro mais également toutes les transitions de niveau numériques, de telle sorte que des composantes de fréquence d'instabilité relativement élevées peuvent être mesurées. Une unité à transformée de Fourrier (76) calcule des composantes de fréquence d'instabilité à partir d'une séquence obtenue d'écarts par rapport aux temps de transition nominaux. Le calcul des plus faibles composantes de fréquence d'instabilité se fonde nécessairement sur une séquence qui s'étend sur un enregistrement de signaux longs correspondants, toutefois, l'entrée d'une mémoire (48) recevant les échantillons bruts à partir desquels les écarts de temps de transition sont calculés, est commandée par porte. De cette manière, cette mémoire (48) ne reçoit que les augmentations brusques d'amplitude de la sortie à vitesse d'échantillonnage élevée, se produisant infréquemment, lorsque les fréquences d'instabilité inférieures sont à mesurer. Une mémoire (48) de taille modérée uniquement peut, par conséquent, être utilisée en dépit de la vitesse d'échantillonnage nécessairement élevée, et de la durée d'enregistrement nécessairement longue.</description><subject>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>1997</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLAKjgwOcfVVcPMPUvB1dQwODfL0c1fw8gwJcQ1S8PRTcFTw8_fTdfL0cwyKVHDxdPcMcfRRCPZ093P04WFgTUvMKU7lhdLcDApuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-luYG5maGho6GxkQoAQBe9iij</recordid><startdate>19970227</startdate><enddate>19970227</enddate><creator>SMITH, MARC, L</creator><creator>DAOU, FADI, H</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>19970227</creationdate><title>SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL</title><author>SMITH, MARC, L ; DAOU, FADI, H</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO9707611A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>1997</creationdate><topic>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SMITH, MARC, L</creatorcontrib><creatorcontrib>DAOU, FADI, H</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SMITH, MARC, L</au><au>DAOU, FADI, H</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL</title><date>1997-02-27</date><risdate>1997</risdate><abstract>To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition time with the required resolution. By employing a differentiator (60), test circuitry can detect not only zero crossings but all digital-level transitions, so relatively high jitter-frequency components can be measured. A Fourier-transform unit (76) computes jitter-frequency components from a resultant sequence of deviations from nominal transition times. Although computation of the lowest jitter-frequency components is necessarily based on a sequence that extends over a correspondingly long signal record, the input of a memory (48) that receives the raw samples from which those transition-time deviations are computed is so gated that the memory (48) receives only infrequently occurring bursts of the sampler's high-sample-rate output when the lower jitter frequencies are to be measured. A memory (48) of only moderate size can therefore be employed despite the necessarily high sample rate and necessarily long record duration. L'invention concerne un système pour mesurer les diverses composantes de fréquences de l'instabilité avec laquelle les temps de transition dans un signal sur une ligne de signaux (44) d'un dispositif testé s'écartent des temps binaires nominaux. Un échantillonneur (40) répond à une horloge de référence (50) en échantillonnant le signal à une vitesse suffisamment élevée pour déterminer le temps de transition avec la résolution requise. En utilisant un différentiateur (60), un circuit d'essai (fig 3B) peut détecter non seulement les passages à zéro mais également toutes les transitions de niveau numériques, de telle sorte que des composantes de fréquence d'instabilité relativement élevées peuvent être mesurées. Une unité à transformée de Fourrier (76) calcule des composantes de fréquence d'instabilité à partir d'une séquence obtenue d'écarts par rapport aux temps de transition nominaux. Le calcul des plus faibles composantes de fréquence d'instabilité se fonde nécessairement sur une séquence qui s'étend sur un enregistrement de signaux longs correspondants, toutefois, l'entrée d'une mémoire (48) recevant les échantillons bruts à partir desquels les écarts de temps de transition sont calculés, est commandée par porte. De cette manière, cette mémoire (48) ne reçoit que les augmentations brusques d'amplitude de la sortie à vitesse d'échantillonnage élevée, se produisant infréquemment, lorsque les fréquences d'instabilité inférieures sont à mesurer. Une mémoire (48) de taille modérée uniquement peut, par conséquent, être utilisée en dépit de la vitesse d'échantillonnage nécessairement élevée, et de la durée d'enregistrement nécessairement longue.</abstract><edition>6</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO9707611A1
source esp@cenet
subjects ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
ELECTRICITY
TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION
title SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-15T19%3A59%3A06IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=SMITH,%20MARC,%20L&rft.date=1997-02-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO9707611A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true