DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS

Beschrieben wird eine Vorrichtung zur Überprüfung von transparenten und/oder halbtransparenten Objekten (6), wie flächigen Glas- und/oder Kunststoffprodukten, auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler. Der Grundaufbau der Vorrichtung besteht aus einer Punktlichtquelle (1), einer...

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Hauptverfasser: KIECKHAEFER, JOERG, ZHOU, PING
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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container_end_page
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creator KIECKHAEFER, JOERG
ZHOU, PING
description Beschrieben wird eine Vorrichtung zur Überprüfung von transparenten und/oder halbtransparenten Objekten (6), wie flächigen Glas- und/oder Kunststoffprodukten, auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler. Der Grundaufbau der Vorrichtung besteht aus einer Punktlichtquelle (1), einer das Licht zu einem homogenen Strahlenprofil aufweitenden Optik (3) und aus einer die Abbildung von gegebenenfalls im Objekt (6) vorhandenen Materialfehlern ermöglichenden Mattscheibe (7). Die Optik (3) ist so ausgelegt, dass kollineares bis leicht divergierendes Licht auf das Objekt (6) fällt, so dass sie ausschliesslich durch Brechungsindexänderung im Material bedingte Kontrastbilder abbildet. Die Punktlichtquelle (1) kann eine Weisslichtquelle oder eine Laserlichtquelle sein, und es kann für die Messanordnung wünschenswert sein, dass auf das Objekt monochromatisches Licht auftrifft. A device for checking transparent and/or semi-transparent objects (6), such as flat glass and/or plastic articles, for scratches, impurities or similar material defects essentially consists of a punctual light source (1), an optic (3) that widens the light into a beam with a homogeneous profile, and a ground-glass screen (7) that makes it possible to picture any material defects that may be present in the object (6). The optic (3) is designed to project co-linear to slightly diverging light onto the object (6), so that only contrasting factors that are caused by a change in the index of refraction of the material are pictured. The punctual light source (1) may be a white light source or a laser light source. It may be desirable for the measurement device that monochromatic light be projected onto the object. Un dispositif sert à déceler des rayures, des impuretés ou d'autres défauts similaires du matériau dont sont constitués des objets transparents et/ou semi-transparents (6), tels que des articles plats en verre et/ou en plastique. Le dispositif comprend essentiellement une source de lumière ponctuelle (1), une optique (3) qui élargit la lumière en un faisceau à profil homogène et un écran dépoli (7) qui permet de reproduire les défauts éventuels du matériau dont est constitué l'objet (6). L'optique projette une lumière colinéaire ou légèrement divergente sur l'objet (6), de sorte qu'elle ne reproduit que les éléments générateurs de contraste dus à un changement de l'indice de réfraction du matériau. La source de lumière ponctuelle (1) peut être une source de lumière blanche ou u
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO9618882A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO9618882A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO9618882A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNjEEKwjAQRbtxIeod5gIiVZC4HJOJjWimJrFdliJxJVqoG29vKroXBob3ebxx9lJUGUmg2YGxviQZjN1BcJgAHdkAvN2n1QNatUjWD0vHlVGkgG06Ap8AahOKJAKXeDoTSMZPbqgfMZAzeABFeghMs9G1vfVx9v2TDDQFWcxj92hi37WXeI_PpubNOhdCLDFf_aG8AT-ZOcI</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS</title><source>esp@cenet</source><creator>KIECKHAEFER, JOERG ; ZHOU, PING</creator><creatorcontrib>KIECKHAEFER, JOERG ; ZHOU, PING</creatorcontrib><description>Beschrieben wird eine Vorrichtung zur Überprüfung von transparenten und/oder halbtransparenten Objekten (6), wie flächigen Glas- und/oder Kunststoffprodukten, auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler. Der Grundaufbau der Vorrichtung besteht aus einer Punktlichtquelle (1), einer das Licht zu einem homogenen Strahlenprofil aufweitenden Optik (3) und aus einer die Abbildung von gegebenenfalls im Objekt (6) vorhandenen Materialfehlern ermöglichenden Mattscheibe (7). Die Optik (3) ist so ausgelegt, dass kollineares bis leicht divergierendes Licht auf das Objekt (6) fällt, so dass sie ausschliesslich durch Brechungsindexänderung im Material bedingte Kontrastbilder abbildet. Die Punktlichtquelle (1) kann eine Weisslichtquelle oder eine Laserlichtquelle sein, und es kann für die Messanordnung wünschenswert sein, dass auf das Objekt monochromatisches Licht auftrifft. A device for checking transparent and/or semi-transparent objects (6), such as flat glass and/or plastic articles, for scratches, impurities or similar material defects essentially consists of a punctual light source (1), an optic (3) that widens the light into a beam with a homogeneous profile, and a ground-glass screen (7) that makes it possible to picture any material defects that may be present in the object (6). The optic (3) is designed to project co-linear to slightly diverging light onto the object (6), so that only contrasting factors that are caused by a change in the index of refraction of the material are pictured. The punctual light source (1) may be a white light source or a laser light source. It may be desirable for the measurement device that monochromatic light be projected onto the object. Un dispositif sert à déceler des rayures, des impuretés ou d'autres défauts similaires du matériau dont sont constitués des objets transparents et/ou semi-transparents (6), tels que des articles plats en verre et/ou en plastique. Le dispositif comprend essentiellement une source de lumière ponctuelle (1), une optique (3) qui élargit la lumière en un faisceau à profil homogène et un écran dépoli (7) qui permet de reproduire les défauts éventuels du matériau dont est constitué l'objet (6). L'optique projette une lumière colinéaire ou légèrement divergente sur l'objet (6), de sorte qu'elle ne reproduit que les éléments générateurs de contraste dus à un changement de l'indice de réfraction du matériau. La source de lumière ponctuelle (1) peut être une source de lumière blanche ou une source de lumière laser. Il peut être souhaitable pour le dispositif de mesure que la lumière projetée sur l'objet soit une lumière monochromatique.</description><edition>6</edition><language>eng ; fre ; ger</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>1996</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19960620&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9618882A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19960620&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9618882A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KIECKHAEFER, JOERG</creatorcontrib><creatorcontrib>ZHOU, PING</creatorcontrib><title>DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS</title><description>Beschrieben wird eine Vorrichtung zur Überprüfung von transparenten und/oder halbtransparenten Objekten (6), wie flächigen Glas- und/oder Kunststoffprodukten, auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler. Der Grundaufbau der Vorrichtung besteht aus einer Punktlichtquelle (1), einer das Licht zu einem homogenen Strahlenprofil aufweitenden Optik (3) und aus einer die Abbildung von gegebenenfalls im Objekt (6) vorhandenen Materialfehlern ermöglichenden Mattscheibe (7). Die Optik (3) ist so ausgelegt, dass kollineares bis leicht divergierendes Licht auf das Objekt (6) fällt, so dass sie ausschliesslich durch Brechungsindexänderung im Material bedingte Kontrastbilder abbildet. Die Punktlichtquelle (1) kann eine Weisslichtquelle oder eine Laserlichtquelle sein, und es kann für die Messanordnung wünschenswert sein, dass auf das Objekt monochromatisches Licht auftrifft. A device for checking transparent and/or semi-transparent objects (6), such as flat glass and/or plastic articles, for scratches, impurities or similar material defects essentially consists of a punctual light source (1), an optic (3) that widens the light into a beam with a homogeneous profile, and a ground-glass screen (7) that makes it possible to picture any material defects that may be present in the object (6). The optic (3) is designed to project co-linear to slightly diverging light onto the object (6), so that only contrasting factors that are caused by a change in the index of refraction of the material are pictured. The punctual light source (1) may be a white light source or a laser light source. It may be desirable for the measurement device that monochromatic light be projected onto the object. Un dispositif sert à déceler des rayures, des impuretés ou d'autres défauts similaires du matériau dont sont constitués des objets transparents et/ou semi-transparents (6), tels que des articles plats en verre et/ou en plastique. Le dispositif comprend essentiellement une source de lumière ponctuelle (1), une optique (3) qui élargit la lumière en un faisceau à profil homogène et un écran dépoli (7) qui permet de reproduire les défauts éventuels du matériau dont est constitué l'objet (6). L'optique projette une lumière colinéaire ou légèrement divergente sur l'objet (6), de sorte qu'elle ne reproduit que les éléments générateurs de contraste dus à un changement de l'indice de réfraction du matériau. La source de lumière ponctuelle (1) peut être une source de lumière blanche ou une source de lumière laser. Il peut être souhaitable pour le dispositif de mesure que la lumière projetée sur l'objet soit une lumière monochromatique.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>1996</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjEEKwjAQRbtxIeod5gIiVZC4HJOJjWimJrFdliJxJVqoG29vKroXBob3ebxx9lJUGUmg2YGxviQZjN1BcJgAHdkAvN2n1QNatUjWD0vHlVGkgG06Ap8AahOKJAKXeDoTSMZPbqgfMZAzeABFeghMs9G1vfVx9v2TDDQFWcxj92hi37WXeI_PpubNOhdCLDFf_aG8AT-ZOcI</recordid><startdate>19960620</startdate><enddate>19960620</enddate><creator>KIECKHAEFER, JOERG</creator><creator>ZHOU, PING</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>19960620</creationdate><title>DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS</title><author>KIECKHAEFER, JOERG ; ZHOU, PING</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO9618882A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; ger</language><creationdate>1996</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KIECKHAEFER, JOERG</creatorcontrib><creatorcontrib>ZHOU, PING</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KIECKHAEFER, JOERG</au><au>ZHOU, PING</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS</title><date>1996-06-20</date><risdate>1996</risdate><abstract>Beschrieben wird eine Vorrichtung zur Überprüfung von transparenten und/oder halbtransparenten Objekten (6), wie flächigen Glas- und/oder Kunststoffprodukten, auf Kratzer, Fremdeinschlüsse oder dergleichen Materialfehler. Der Grundaufbau der Vorrichtung besteht aus einer Punktlichtquelle (1), einer das Licht zu einem homogenen Strahlenprofil aufweitenden Optik (3) und aus einer die Abbildung von gegebenenfalls im Objekt (6) vorhandenen Materialfehlern ermöglichenden Mattscheibe (7). Die Optik (3) ist so ausgelegt, dass kollineares bis leicht divergierendes Licht auf das Objekt (6) fällt, so dass sie ausschliesslich durch Brechungsindexänderung im Material bedingte Kontrastbilder abbildet. Die Punktlichtquelle (1) kann eine Weisslichtquelle oder eine Laserlichtquelle sein, und es kann für die Messanordnung wünschenswert sein, dass auf das Objekt monochromatisches Licht auftrifft. A device for checking transparent and/or semi-transparent objects (6), such as flat glass and/or plastic articles, for scratches, impurities or similar material defects essentially consists of a punctual light source (1), an optic (3) that widens the light into a beam with a homogeneous profile, and a ground-glass screen (7) that makes it possible to picture any material defects that may be present in the object (6). The optic (3) is designed to project co-linear to slightly diverging light onto the object (6), so that only contrasting factors that are caused by a change in the index of refraction of the material are pictured. The punctual light source (1) may be a white light source or a laser light source. It may be desirable for the measurement device that monochromatic light be projected onto the object. Un dispositif sert à déceler des rayures, des impuretés ou d'autres défauts similaires du matériau dont sont constitués des objets transparents et/ou semi-transparents (6), tels que des articles plats en verre et/ou en plastique. Le dispositif comprend essentiellement une source de lumière ponctuelle (1), une optique (3) qui élargit la lumière en un faisceau à profil homogène et un écran dépoli (7) qui permet de reproduire les défauts éventuels du matériau dont est constitué l'objet (6). L'optique projette une lumière colinéaire ou légèrement divergente sur l'objet (6), de sorte qu'elle ne reproduit que les éléments générateurs de contraste dus à un changement de l'indice de réfraction du matériau. La source de lumière ponctuelle (1) peut être une source de lumière blanche ou une source de lumière laser. Il peut être souhaitable pour le dispositif de mesure que la lumière projetée sur l'objet soit une lumière monochromatique.</abstract><edition>6</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre ; ger
recordid cdi_epo_espacenet_WO9618882A1
source esp@cenet
subjects INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
title DEVICE FOR INSPECTING TRANSPARENT OBJECTS AND/OR OBJECTS PROVIDED ON ONE SIDE WITH AN OPAQUE COATING FOR MATERIAL DEFECTS
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-07T02%3A43%3A22IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=KIECKHAEFER,%20JOERG&rft.date=1996-06-20&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO9618882A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true