ATMOSPHERIC PRESSURE ION INTERFACE FOR A MASS ANALYZER

ATMOSPHERIC PRESSURE ION INTERFACE FOR A MASS ANALYZER

A novel atmospheric pressure ionization device (10) for the transport of charged particle produced at atmospheric pressure to a mass analyzer (24) includes a liquid shield (60) between the particle source (22) and the sample inlet (66) into the mass analyzer. The analyzer is located in a high vacuum...

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Hauptverfasser: HOPFGARTNER, GERARD, HENION, JOHN, D, MORDEHAI, ALEX
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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creator HOPFGARTNER, GERARD
HENION, JOHN, D
MORDEHAI, ALEX
description A novel atmospheric pressure ionization device (10) for the transport of charged particle produced at atmospheric pressure to a mass analyzer (24) includes a liquid shield (60) between the particle source (22) and the sample inlet (66) into the mass analyzer. The analyzer is located in a high vacuum region (20) and an intermediate low vacuum region (18) is provided between the sample inlet and the analyzer. An ion optical system includes electrostatic lens assemblies (80) in said vacuum regions for transporting charged particles from the inlet to the analyzer. L'invention concerne un nouveau dispositif d'ionisation à pression atmosphérique (10) destiné au transport de particules chargées produites à pression atmosphérique vers un analyseur de masses (24), le dispositif comprenant un écran pour liquide (60) placé entre la source (22) et l'entrée d'échantillon (66) dans l'analyseur de masses. L'analyseur est placé dans une région à vide poussé (20), et une région intermédiaire à faible vide (18) est prévue entre l'entrée d'échantillon et l'analyseur. Un système optique ionique comprend des ensembles lentilles électrostatiques (80) situés dans lesdites régions à vide afin d'assurer le transport des particules chargées de l'entrée d'échantillon à l'analyseur.
format Patent
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The analyzer is located in a high vacuum region (20) and an intermediate low vacuum region (18) is provided between the sample inlet and the analyzer. An ion optical system includes electrostatic lens assemblies (80) in said vacuum regions for transporting charged particles from the inlet to the analyzer. L'invention concerne un nouveau dispositif d'ionisation à pression atmosphérique (10) destiné au transport de particules chargées produites à pression atmosphérique vers un analyseur de masses (24), le dispositif comprenant un écran pour liquide (60) placé entre la source (22) et l'entrée d'échantillon (66) dans l'analyseur de masses. L'analyseur est placé dans une région à vide poussé (20), et une région intermédiaire à faible vide (18) est prévue entre l'entrée d'échantillon et l'analyseur. Un système optique ionique comprend des ensembles lentilles électrostatiques (80) situés dans lesdites régions à vide afin d'assurer le transport des particules chargées de l'entrée d'échantillon à l'analyseur.</description><edition>5</edition><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>1993</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19931209&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9324209A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19931209&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=9324209A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>HOPFGARTNER, GERARD</creatorcontrib><creatorcontrib>HENION, JOHN, D</creatorcontrib><creatorcontrib>MORDEHAI, ALEX</creatorcontrib><title>ATMOSPHERIC PRESSURE ION INTERFACE FOR A MASS ANALYZER</title><description>A novel atmospheric pressure ionization device (10) for the transport of charged particle produced at atmospheric pressure to a mass analyzer (24) includes a liquid shield (60) between the particle source (22) and the sample inlet (66) into the mass analyzer. The analyzer is located in a high vacuum region (20) and an intermediate low vacuum region (18) is provided between the sample inlet and the analyzer. An ion optical system includes electrostatic lens assemblies (80) in said vacuum regions for transporting charged particles from the inlet to the analyzer. L'invention concerne un nouveau dispositif d'ionisation à pression atmosphérique (10) destiné au transport de particules chargées produites à pression atmosphérique vers un analyseur de masses (24), le dispositif comprenant un écran pour liquide (60) placé entre la source (22) et l'entrée d'échantillon (66) dans l'analyseur de masses. L'analyseur est placé dans une région à vide poussé (20), et une région intermédiaire à faible vide (18) est prévue entre l'entrée d'échantillon et l'analyseur. 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