INTELLECTUAL PROPERTY EVALUATION DEVICE, INTELLECTUAL PROPERTY EVALUATION METHOD, AND PROGRAM

The present invention provides more suggestive evaluation of intellectual properties. An intellectual property evaluation device (patent evaluation device 1) according to one embodiment of the present disclosure: uses a first evaluation (first evaluation information V1) that is at least dependent on attribute information (first attribute information α1) representing features of an application document for a patent, a utility model, or a design (patent or the like), and a second evaluation (second evaluation information V2) that is at least dependent on attribute information (second attribute information α2) that can be imparted as a result of registration of the patent or the like as a necessary condition; and evaluates a patent or the like (evaluation target patent T). La présente invention permet une évaluation plus suggestive des propriétés intellectuelles. Selon un mode de réalisation de la présente divulgation, un dispositif d'évaluation de propriété intellectuelle (dispositif d'évaluation de brevet 1) : utilise une première évaluation (premières informations d'évaluation V1) qui dépend au moins d'informations d'attribut (premières informations d'attribut alpha 1) représentant les caractéristiques d'un document d'application pour un brevet, un modèle d'utilité ou une conception (brevet ou similaire), et une seconde évaluation (secondes informations d'évaluation V2) qui dépend au moins d'informations d'attribut (secondes informations d'attribut alpha 2) qui peuvent être conférées suite à l'enregistrement du brevet ou d'un élément similaire en tant que condition nécessaire ; et évalue un brevet ou élément similaire (brevet cible d'évaluation T). より示唆的な知的財産の評価を提供する。本開示の一態様の知的財産評価装置（特許評価装置１）は、特許、実用新案、または意匠（特許等）の出願書類の特徴を表す属性情報（第１属性情報α１）に少なくとも依存する第１評価（第１評価情報Ｖ１）と、特許等の登録を必要条件として生じ得る属性情報（第２属性情報α２）に少なくとも依存する第２評価（第２評価情報Ｖ２）と、を用いて特許等（評価対象特許Ｔ）を評価する。