APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS
A system may include a device under test, a body having a plurality of conductors, a rotation section, a probe associated with the rotation section, the probe configured to house at least a portion of one or more of the plurality of conductors, and a nest having at least one terminal, the nest confi...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio SCHROEDER, Jeremy D FISCHELS, Collin Richard RIEHL, Kenneth |
| description | A system may include a device under test, a body having a plurality of conductors, a rotation section, a probe associated with the rotation section, the probe configured to house at least a portion of one or more of the plurality of conductors, and a nest having at least one terminal, the nest configured to couple to the device under test and to permit at least a portion of the probe to pass through an opening of the device under test.
Un système peut comprendre un dispositif sous test, un corps doté d'une pluralité de conducteurs, une section de rotation, une sonde associée à la section de rotation, la sonde étant configurée pour loger au moins une partie d'un ou de plusieurs conducteurs de la pluralité de conducteurs, et un logement doté d'au moins une borne, le logement étant configuré pour se coupler au dispositif sous test et pour permettre à au moins une partie de la sonde de passer à travers une ouverture du dispositif sous test. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2024145039A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2024145039A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2024145039A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHB1DAhwDHIMCQ12DdZRCI4MDnH1BTIc_VwUfF1DPPxdghXc_IMUgp2DXF39PP3cFVx9XJ1Dgvz9PJ0VnP19A_z9XP1CgnkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBkYmhiamBsaWjoTFxqgBMQS0r</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS</title><source>esp@cenet</source><creator>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio ; SCHROEDER, Jeremy D ; FISCHELS, Collin Richard ; RIEHL, Kenneth</creator><creatorcontrib>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio ; SCHROEDER, Jeremy D ; FISCHELS, Collin Richard ; RIEHL, Kenneth</creatorcontrib><description>A system may include a device under test, a body having a plurality of conductors, a rotation section, a probe associated with the rotation section, the probe configured to house at least a portion of one or more of the plurality of conductors, and a nest having at least one terminal, the nest configured to couple to the device under test and to permit at least a portion of the probe to pass through an opening of the device under test.
Un système peut comprendre un dispositif sous test, un corps doté d'une pluralité de conducteurs, une section de rotation, une sonde associée à la section de rotation, la sonde étant configurée pour loger au moins une partie d'un ou de plusieurs conducteurs de la pluralité de conducteurs, et un logement doté d'au moins une borne, le logement étant configuré pour se coupler au dispositif sous test et pour permettre à au moins une partie de la sonde de passer à travers une ouverture du dispositif sous test.</description><language>eng ; fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240704&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024145039A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240704&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024145039A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHROEDER, Jeremy D</creatorcontrib><creatorcontrib>FISCHELS, Collin Richard</creatorcontrib><creatorcontrib>RIEHL, Kenneth</creatorcontrib><title>APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS</title><description>A system may include a device under test, a body having a plurality of conductors, a rotation section, a probe associated with the rotation section, the probe configured to house at least a portion of one or more of the plurality of conductors, and a nest having at least one terminal, the nest configured to couple to the device under test and to permit at least a portion of the probe to pass through an opening of the device under test.
Un système peut comprendre un dispositif sous test, un corps doté d'une pluralité de conducteurs, une section de rotation, une sonde associée à la section de rotation, la sonde étant configurée pour loger au moins une partie d'un ou de plusieurs conducteurs de la pluralité de conducteurs, et un logement doté d'au moins une borne, le logement étant configuré pour se coupler au dispositif sous test et pour permettre à au moins une partie de la sonde de passer à travers une ouverture du dispositif sous test.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHB1DAhwDHIMCQ12DdZRCI4MDnH1BTIc_VwUfF1DPPxdghXc_IMUgp2DXF39PP3cFVx9XJ1Dgvz9PJ0VnP19A_z9XP1CgnkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBkYmhiamBsaWjoTFxqgBMQS0r</recordid><startdate>20240704</startdate><enddate>20240704</enddate><creator>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio</creator><creator>SCHROEDER, Jeremy D</creator><creator>FISCHELS, Collin Richard</creator><creator>RIEHL, Kenneth</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240704</creationdate><title>APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS</title><author>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio ; SCHROEDER, Jeremy D ; FISCHELS, Collin Richard ; RIEHL, Kenneth</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2024145039A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2024</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHROEDER, Jeremy D</creatorcontrib><creatorcontrib>FISCHELS, Collin Richard</creatorcontrib><creatorcontrib>RIEHL, Kenneth</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MELECIO RAMIREZ, Juan Ignacio</au><au>SCHROEDER, Jeremy D</au><au>FISCHELS, Collin Richard</au><au>RIEHL, Kenneth</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS</title><date>2024-07-04</date><risdate>2024</risdate><abstract>A system may include a device under test, a body having a plurality of conductors, a rotation section, a probe associated with the rotation section, the probe configured to house at least a portion of one or more of the plurality of conductors, and a nest having at least one terminal, the nest configured to couple to the device under test and to permit at least a portion of the probe to pass through an opening of the device under test.
Un système peut comprendre un dispositif sous test, un corps doté d'une pluralité de conducteurs, une section de rotation, une sonde associée à la section de rotation, la sonde étant configurée pour loger au moins une partie d'un ou de plusieurs conducteurs de la pluralité de conducteurs, et un logement doté d'au moins une borne, le logement étant configuré pour se coupler au dispositif sous test et pour permettre à au moins une partie de la sonde de passer à travers une ouverture du dispositif sous test.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; fre |
| recordid | cdi_epo_espacenet_WO2024145039A1 |
| source | esp@cenet |
| subjects | MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING |
| title | APPARATUSES, SYSTEMS, AND METHODS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-10T23%3A32%3A25IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=MELECIO%20RAMIREZ,%20Juan%20Ignacio&rft.date=2024-07-04&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2024145039A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |