OPTICAL STABILIZATION TECHNIQUES INCORPORATING PIXEL CURRENT MEASUREMENTS

Described herein are techniques for determining an illumination position on an integrated photodetector, as may be used within a fluorescence detection system. In some embodiments, such techniques may include determining an illumination position on an integrated photodetector based, at least in part...

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Hauptverfasser: REARICK, Todd, STEWMAN, Shannon
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator REARICK, Todd
STEWMAN, Shannon
description Described herein are techniques for determining an illumination position on an integrated photodetector, as may be used within a fluorescence detection system. In some embodiments, such techniques may include determining an illumination position on an integrated photodetector based, at least in part, on a measurement of an amount of current output from a pixel of the integrated photodetector, the amount of current corresponding to an amount of excitation light (e.g., used for exciting fluorescence in a sample) that is received at the pixel. In some embodiments, such techniques may include measuring an amount of current output from one or more drain regions of one or more pixels of an integrated photodetector (e.g., regions used to draw away charge carriers corresponding to excitation light so as to not pollute collected charge carriers that correspond to fluorescence light to be detected). La présente invention concerne des techniques pour déterminer une position d'éclairage sur un photodétecteur intégré, comme elles peuvent être utilisées dans un système de détection de fluorescence. Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à déterminer une position d'éclairage sur un photodétecteur intégré sur la base, au moins en partie, d'une mesure d'une quantité de courant délivrée à partir d'un pixel du photodétecteur intégré, la quantité de courant correspondant à une quantité de lumière d'excitation (par exemple, utilisée pour exciter la fluorescence dans un échantillon) qui est reçue au niveau du pixel. Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à mesurer une quantité de courant délivrée à partir d'une ou plusieurs régions de drain d'un ou plusieurs pixels d'un photodétecteur intégré (par exemple, des régions utilisées pour éloigner les porteurs de charge correspondant à la lumière d'excitation de façon à ne pas polluer les porteurs de charge collectés qui correspondent à la lumière de fluorescence à détecter).
format Patent
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In some embodiments, such techniques may include determining an illumination position on an integrated photodetector based, at least in part, on a measurement of an amount of current output from a pixel of the integrated photodetector, the amount of current corresponding to an amount of excitation light (e.g., used for exciting fluorescence in a sample) that is received at the pixel. In some embodiments, such techniques may include measuring an amount of current output from one or more drain regions of one or more pixels of an integrated photodetector (e.g., regions used to draw away charge carriers corresponding to excitation light so as to not pollute collected charge carriers that correspond to fluorescence light to be detected). La présente invention concerne des techniques pour déterminer une position d'éclairage sur un photodétecteur intégré, comme elles peuvent être utilisées dans un système de détection de fluorescence. Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à déterminer une position d'éclairage sur un photodétecteur intégré sur la base, au moins en partie, d'une mesure d'une quantité de courant délivrée à partir d'un pixel du photodétecteur intégré, la quantité de courant correspondant à une quantité de lumière d'excitation (par exemple, utilisée pour exciter la fluorescence dans un échantillon) qui est reçue au niveau du pixel. Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à mesurer une quantité de courant délivrée à partir d'une ou plusieurs régions de drain d'un ou plusieurs pixels d'un photodétecteur intégré (par exemple, des régions utilisées pour éloigner les porteurs de charge correspondant à la lumière d'excitation de façon à ne pas polluer les porteurs de charge collectés qui correspondent à la lumière de fluorescence à détecter).</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240425&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2024086308A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240425&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2024086308A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>REARICK, Todd</creatorcontrib><creatorcontrib>STEWMAN, Shannon</creatorcontrib><title>OPTICAL STABILIZATION TECHNIQUES INCORPORATING PIXEL CURRENT MEASUREMENTS</title><description>Described herein are techniques for determining an illumination position on an integrated photodetector, as may be used within a fluorescence detection system. 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Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à déterminer une position d'éclairage sur un photodétecteur intégré sur la base, au moins en partie, d'une mesure d'une quantité de courant délivrée à partir d'un pixel du photodétecteur intégré, la quantité de courant correspondant à une quantité de lumière d'excitation (par exemple, utilisée pour exciter la fluorescence dans un échantillon) qui est reçue au niveau du pixel. Dans certains modes de réalisation, de telles techniques peuvent consister à mesurer une quantité de courant délivrée à partir d'une ou plusieurs régions de drain d'un ou plusieurs pixels d'un photodétecteur intégré (par exemple, des régions utilisées pour éloigner les porteurs de charge correspondant à la lumière d'excitation de façon à ne pas polluer les porteurs de charge collectés qui correspondent à la lumière de fluorescence à détecter).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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