CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD
Provided is a current waveform analyzing device (1) for analyzing a measured current waveform, the current waveform analyzing device (1) comprising an image data creating unit (2) for creating two-dimensional image data from the measured current waveform, an analyzing unit (3) for calculating latent...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | SEGAWA Koji |
description | Provided is a current waveform analyzing device (1) for analyzing a measured current waveform, the current waveform analyzing device (1) comprising an image data creating unit (2) for creating two-dimensional image data from the measured current waveform, an analyzing unit (3) for calculating latent variable data by inputting second two-dimensional image data, created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) in accordance with a current waveform to be analyzed, into a trained neural network that has been trained on first two-dimensional image data created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) from a current waveform measured in a learning phase, and a display unit (4) for displaying the latent variable data calculated by the analyzing unit (3), wherein the image data creating unit (2) creates the two-dimensional image data by means of a procedure that maximizes a difference between the latent variable data calculated when the current waveform is in a normal state and the latent variable data calculated when the current waveform is in an abnormal state.
L'invention concerne un dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) permettant d'analyser une forme d'onde de courant mesuré, le dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) comprenant une unité de création de données d'image (2) permettant de créer des données d'image bidimensionnelle à partir de la forme d'onde de courant mesuré, une unité d'analyse (3) permettant de calculer des données de variable latente en entrant des secondes données d'image bidimensionnelle, créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) en fonction d'une forme d'onde de courant à analyser, dans un réseau neuronal entraîné ayant été entraîné sur des premières données d'image bidimensionnelle créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) à partir d'une forme d'onde de courant mesuré dans une phase d'apprentissage, et une unité d'affichage (4) permettant d'afficher les données de variable latente calculées par l'unité d'analyse (3), l'unité de création de données d'image (2) créant les données d'image bidimensionnelle au moyen d'une procédure qui maximise une différence entre les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état normal et les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2024038624A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2024038624A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2024038624A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPBwDg0KcvULUQh3DHN18w_yVXD0c_SJjPL0c1dwcQ3zdHbVAYq4KOBR5usa4uHvwsPAmpaYU5zKC6W5GZTdXEOcPXRTC_LjU4sLEpNT81JL4sP9jQyMTAyMLcyMTBwNjYlTBQDXbi37</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD</title><source>esp@cenet</source><creator>SEGAWA Koji</creator><creatorcontrib>SEGAWA Koji</creatorcontrib><description>Provided is a current waveform analyzing device (1) for analyzing a measured current waveform, the current waveform analyzing device (1) comprising an image data creating unit (2) for creating two-dimensional image data from the measured current waveform, an analyzing unit (3) for calculating latent variable data by inputting second two-dimensional image data, created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) in accordance with a current waveform to be analyzed, into a trained neural network that has been trained on first two-dimensional image data created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) from a current waveform measured in a learning phase, and a display unit (4) for displaying the latent variable data calculated by the analyzing unit (3), wherein the image data creating unit (2) creates the two-dimensional image data by means of a procedure that maximizes a difference between the latent variable data calculated when the current waveform is in a normal state and the latent variable data calculated when the current waveform is in an abnormal state.
L'invention concerne un dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) permettant d'analyser une forme d'onde de courant mesuré, le dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) comprenant une unité de création de données d'image (2) permettant de créer des données d'image bidimensionnelle à partir de la forme d'onde de courant mesuré, une unité d'analyse (3) permettant de calculer des données de variable latente en entrant des secondes données d'image bidimensionnelle, créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) en fonction d'une forme d'onde de courant à analyser, dans un réseau neuronal entraîné ayant été entraîné sur des premières données d'image bidimensionnelle créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) à partir d'une forme d'onde de courant mesuré dans une phase d'apprentissage, et une unité d'affichage (4) permettant d'afficher les données de variable latente calculées par l'unité d'analyse (3), l'unité de création de données d'image (2) créant les données d'image bidimensionnelle au moyen d'une procédure qui maximise une différence entre les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état normal et les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état anormal.
測定された電流波形を分析する電流波形分析装置(1)であって、測定された電流波形から二次元画像データを作成する画像データ作成部(2)と、学習フェーズにおいて測定された電流波形から画像データ作成部(2)によって上記二次元画像データとして作成された第1二次元画像データを学習させた学習済みニューラルネットワークへ、分析対象とする電流波形に応じて画像データ作成部(2)により上記二次元画像データとして作成された第2二次元画像データを入力することによって、潜在変数データを算出する解析部(3)と、解析部(3)で算出された潜在変数データを表示する表示部(4)を備え、画像データ作成部(2)は、上記電流波形が正常な状態にあるときに算出される潜在変数データと、上記電流波形が異常な状態にあるときに算出される潜在変数データとの差異が最大となる手順により、上記二次元画像データを作成する、電流波形分析装置(1)を提供する。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240222&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024038624A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240222&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2024038624A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SEGAWA Koji</creatorcontrib><title>CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD</title><description>Provided is a current waveform analyzing device (1) for analyzing a measured current waveform, the current waveform analyzing device (1) comprising an image data creating unit (2) for creating two-dimensional image data from the measured current waveform, an analyzing unit (3) for calculating latent variable data by inputting second two-dimensional image data, created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) in accordance with a current waveform to be analyzed, into a trained neural network that has been trained on first two-dimensional image data created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) from a current waveform measured in a learning phase, and a display unit (4) for displaying the latent variable data calculated by the analyzing unit (3), wherein the image data creating unit (2) creates the two-dimensional image data by means of a procedure that maximizes a difference between the latent variable data calculated when the current waveform is in a normal state and the latent variable data calculated when the current waveform is in an abnormal state.
L'invention concerne un dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) permettant d'analyser une forme d'onde de courant mesuré, le dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) comprenant une unité de création de données d'image (2) permettant de créer des données d'image bidimensionnelle à partir de la forme d'onde de courant mesuré, une unité d'analyse (3) permettant de calculer des données de variable latente en entrant des secondes données d'image bidimensionnelle, créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) en fonction d'une forme d'onde de courant à analyser, dans un réseau neuronal entraîné ayant été entraîné sur des premières données d'image bidimensionnelle créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) à partir d'une forme d'onde de courant mesuré dans une phase d'apprentissage, et une unité d'affichage (4) permettant d'afficher les données de variable latente calculées par l'unité d'analyse (3), l'unité de création de données d'image (2) créant les données d'image bidimensionnelle au moyen d'une procédure qui maximise une différence entre les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état normal et les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état anormal.
測定された電流波形を分析する電流波形分析装置(1)であって、測定された電流波形から二次元画像データを作成する画像データ作成部(2)と、学習フェーズにおいて測定された電流波形から画像データ作成部(2)によって上記二次元画像データとして作成された第1二次元画像データを学習させた学習済みニューラルネットワークへ、分析対象とする電流波形に応じて画像データ作成部(2)により上記二次元画像データとして作成された第2二次元画像データを入力することによって、潜在変数データを算出する解析部(3)と、解析部(3)で算出された潜在変数データを表示する表示部(4)を備え、画像データ作成部(2)は、上記電流波形が正常な状態にあるときに算出される潜在変数データと、上記電流波形が異常な状態にあるときに算出される潜在変数データとの差異が最大となる手順により、上記二次元画像データを作成する、電流波形分析装置(1)を提供する。</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPBwDg0KcvULUQh3DHN18w_yVXD0c_SJjPL0c1dwcQ3zdHbVAYq4KOBR5usa4uHvwsPAmpaYU5zKC6W5GZTdXEOcPXRTC_LjU4sLEpNT81JL4sP9jQyMTAyMLcyMTBwNjYlTBQDXbi37</recordid><startdate>20240222</startdate><enddate>20240222</enddate><creator>SEGAWA Koji</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240222</creationdate><title>CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD</title><author>SEGAWA Koji</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2024038624A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; jpn</language><creationdate>2024</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SEGAWA Koji</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SEGAWA Koji</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD</title><date>2024-02-22</date><risdate>2024</risdate><abstract>Provided is a current waveform analyzing device (1) for analyzing a measured current waveform, the current waveform analyzing device (1) comprising an image data creating unit (2) for creating two-dimensional image data from the measured current waveform, an analyzing unit (3) for calculating latent variable data by inputting second two-dimensional image data, created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) in accordance with a current waveform to be analyzed, into a trained neural network that has been trained on first two-dimensional image data created as the two-dimensional image data by the image data creating unit (2) from a current waveform measured in a learning phase, and a display unit (4) for displaying the latent variable data calculated by the analyzing unit (3), wherein the image data creating unit (2) creates the two-dimensional image data by means of a procedure that maximizes a difference between the latent variable data calculated when the current waveform is in a normal state and the latent variable data calculated when the current waveform is in an abnormal state.
L'invention concerne un dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) permettant d'analyser une forme d'onde de courant mesuré, le dispositif d'analyse de forme d'onde de courant (1) comprenant une unité de création de données d'image (2) permettant de créer des données d'image bidimensionnelle à partir de la forme d'onde de courant mesuré, une unité d'analyse (3) permettant de calculer des données de variable latente en entrant des secondes données d'image bidimensionnelle, créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) en fonction d'une forme d'onde de courant à analyser, dans un réseau neuronal entraîné ayant été entraîné sur des premières données d'image bidimensionnelle créées en tant que données d'image bidimensionnelle par l'unité de création de données d'image (2) à partir d'une forme d'onde de courant mesuré dans une phase d'apprentissage, et une unité d'affichage (4) permettant d'afficher les données de variable latente calculées par l'unité d'analyse (3), l'unité de création de données d'image (2) créant les données d'image bidimensionnelle au moyen d'une procédure qui maximise une différence entre les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état normal et les données de variable latente calculées lorsque la forme d'onde de courant est dans un état anormal.
測定された電流波形を分析する電流波形分析装置(1)であって、測定された電流波形から二次元画像データを作成する画像データ作成部(2)と、学習フェーズにおいて測定された電流波形から画像データ作成部(2)によって上記二次元画像データとして作成された第1二次元画像データを学習させた学習済みニューラルネットワークへ、分析対象とする電流波形に応じて画像データ作成部(2)により上記二次元画像データとして作成された第2二次元画像データを入力することによって、潜在変数データを算出する解析部(3)と、解析部(3)で算出された潜在変数データを表示する表示部(4)を備え、画像データ作成部(2)は、上記電流波形が正常な状態にあるときに算出される潜在変数データと、上記電流波形が異常な状態にあるときに算出される潜在変数データとの差異が最大となる手順により、上記二次元画像データを作成する、電流波形分析装置(1)を提供する。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; fre ; jpn |
recordid | cdi_epo_espacenet_WO2024038624A1 |
source | esp@cenet |
subjects | CALCULATING COMPUTING COUNTING IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING |
title | CURRENT WAVEFORM ANALYZING DEVICE, AND CURRENT WAVEFORM ANALYZING METHOD |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-04T02%3A21%3A11IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=SEGAWA%20Koji&rft.date=2024-02-22&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2024038624A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |