TEST METHOD

This test method: causes data to be saved in a plurality of flip-flops of a logic circuit (10) and scans out the data, the flip-flops having functions of saving data and restoring the saved data; then executes a built-in self-test for the logic circuit (10); then restores the data to the plurality of flip-flops and scan-outs the data; then determines whether first scan-out data scanned out by scanning out for the first time coincides with second scan-out data scanned out by scanning out for the second time; and restores the data to the plurality of flip-flops when it is determined that the first scan-out data coincides with the second scan-out data. Le présent procédé de test : entraîne l'enregistrement de données dans une pluralité de bascules d'un circuit logique (10) et balaie les données, les bascules ayant des fonctions d'enregistrement de données et de restauration des données sauvegardées ; puis exécute un auto-test intégré pour le circuit logique (10) ; puis restaure les données sur la pluralité de bascules et effectue un balayage des données ; détermine ensuite si des premières données de balayage balayées pour la première fois coïncident avec des secondes données de balayage balayées pour la seconde fois ; et restaure les données sur la pluralité de bascules lorsqu'il est déterminé que les premières données de balayage coïncident avec les secondes données de balayage. 検査方法は、ロジック回路（１０）の複数のフリップフロップであって、データを退避する機能と退避したデータを復帰する機能とを有する複数のフリップフロップに、データを退避させてスキャンアウトさせ、その後ロジック回路（１０）にビルトインセルフテストを実行させ、その後、複数のフリップフロップにデータを復帰させてスキャンアウトさせ、１回目のスキャンアウトによりスキャンアウトされた第１のスキャンアウトデータと２回目のスキャンアウトによりスキャンアウトされた第２のスキャンアウトデータとが一致するか否かを判定し、一致すると判定した場合に、複数のフリップフロップにデータを復帰させる。