OPTICAL ARRANGEMENT FOR OPTOELECTRONIC REFLECTIVE MEASUREMENT

OPTICAL ARRANGEMENT FOR OPTOELECTRONIC REFLECTIVE MEASUREMENT

An optical arrangement (1, 2, 3) for optoelectronic reflective measurement comprises a light source (10) for emitting light, a supporting device (20) having a supporting area (21) for supporting a target object (2), an optical device (30) comprising at least an optical reflector (31), and an optoele...

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1. Verfasser: SIESS, Gunter
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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creator SIESS, Gunter
description An optical arrangement (1, 2, 3) for optoelectronic reflective measurement comprises a light source (10) for emitting light, a supporting device (20) having a supporting area (21) for supporting a target object (2), an optical device (30) comprising at least an optical reflector (31), and an optoelectronic sensor (40). The light source (10) and the optical reflector (31) are arranged so that a first light portion of the light is emitted towards the optical reflector (31) and impacts on the optical reflector (31). The optical reflector (31) and the supporting device (20) are arranged so that the first light portion is reflected by the optical reflector (31) onto the supporting area (21). La présente invention concerne un arrangement optique (1, 2, 3) pour une mesure réfléchissante optoélectronique, qui comprend une source de lumière (10) pour émettre une lumière, un dispositif de support (20) ayant une zone de support (21) pour supporter un objet cible (2), un dispositif optique (30) comprenant au moins un réflecteur optique (31), et un capteur optoélectronique (40). La source de lumière (10) et le réflecteur optique (31) sont agencés de telle sorte qu'une première partie de lumière de la lumière est émise vers le réflecteur optique (31) et frappe le réflecteur optique (31). Le réflecteur optique (31) et le dispositif de support (20) sont agencés de telle sorte que la première partie de lumière est réfléchie par le réflecteur optique (31) sur la zone de support (21).
format Patent
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The light source (10) and the optical reflector (31) are arranged so that a first light portion of the light is emitted towards the optical reflector (31) and impacts on the optical reflector (31). The optical reflector (31) and the supporting device (20) are arranged so that the first light portion is reflected by the optical reflector (31) onto the supporting area (21). La présente invention concerne un arrangement optique (1, 2, 3) pour une mesure réfléchissante optoélectronique, qui comprend une source de lumière (10) pour émettre une lumière, un dispositif de support (20) ayant une zone de support (21) pour supporter un objet cible (2), un dispositif optique (30) comprenant au moins un réflecteur optique (31), et un capteur optoélectronique (40). La source de lumière (10) et le réflecteur optique (31) sont agencés de telle sorte qu'une première partie de lumière de la lumière est émise vers le réflecteur optique (31) et frappe le réflecteur optique (31). Le réflecteur optique (31) et le dispositif de support (20) sont agencés de telle sorte que la première partie de lumière est réfléchie par le réflecteur optique (31) sur la zone de support (21).</description><language>eng ; fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20231005&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023186538A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20231005&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023186538A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SIESS, Gunter</creatorcontrib><title>OPTICAL ARRANGEMENT FOR OPTOELECTRONIC REFLECTIVE MEASUREMENT</title><description>An optical arrangement (1, 2, 3) for optoelectronic reflective measurement comprises a light source (10) for emitting light, a supporting device (20) having a supporting area (21) for supporting a target object (2), an optical device (30) comprising at least an optical reflector (31), and an optoelectronic sensor (40). The light source (10) and the optical reflector (31) are arranged so that a first light portion of the light is emitted towards the optical reflector (31) and impacts on the optical reflector (31). The optical reflector (31) and the supporting device (20) are arranged so that the first light portion is reflected by the optical reflector (31) onto the supporting area (21). La présente invention concerne un arrangement optique (1, 2, 3) pour une mesure réfléchissante optoélectronique, qui comprend une source de lumière (10) pour émettre une lumière, un dispositif de support (20) ayant une zone de support (21) pour supporter un objet cible (2), un dispositif optique (30) comprenant au moins un réflecteur optique (31), et un capteur optoélectronique (40). La source de lumière (10) et le réflecteur optique (31) sont agencés de telle sorte qu'une première partie de lumière de la lumière est émise vers le réflecteur optique (31) et frappe le réflecteur optique (31). 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