DEVICE STATE PREDICTION METHOD AND DEVICE STATE PREDICTION SYSTEM

Provided is a device state prediction method to be executed by a system having a processor and a storage device, said storage device holding operation data indicating utilization of a device, a first model for predicting the state of the device in a second period subsequent to a first period on the...

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Hauptverfasser: WATANABE Michiharu, ASAHARA Akinori, FUJIBAYASHI Kazuo, SEKIYA Sachio, MURATA Yukio, SUKEDA Hiroko
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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creator WATANABE Michiharu
ASAHARA Akinori
FUJIBAYASHI Kazuo
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description Provided is a device state prediction method to be executed by a system having a processor and a storage device, said storage device holding operation data indicating utilization of a device, a first model for predicting the state of the device in a second period subsequent to a first period on the basis of operation data for the first period, and a second model for predicting the usage of the device in the second period on the basis of the operation data for the first period. This device state prediction method includes: a procedure for predicting the state of the device in the second period by applying the acquired operation data for the first period to the first model; a procedure for predicting the usage of the device in the second period by applying the acquired operation data for the first period to the second model; and a procedure for outputting the result of the prediction for the state of the device in the second period and the result of the prediction for the usage of the device in the second period. L'invention concerne un procédé de prédiction d'état de dispositif à exécuter par un système comprenant un processeur et un dispositif de stockage, ledit dispositif de stockage contenant des données d'opération indiquant l'utilisation d'un dispositif, un premier modèle permettant de prédire l'état du dispositif dans une seconde période consécutive à une première période d'après les données d'opération pour la première période, ainsi qu'un second modèle permettant de prédire l'utilisation du dispositif dans la seconde période d'après les données d'opération pour la première période. Ce procédé de prédiction d'état de dispositif comprend : une procédure permettant de prédire l'état du dispositif dans la seconde période en appliquant les données d'opération acquises pour la première période au premier modèle ; une procédure permettant de prédire l'utilisation du dispositif dans la seconde période en appliquant les données de fonctionnement acquises pour la première période au second modèle ; et une procédure permettant de générer le résultat de la prédiction pour l'état du dispositif dans la seconde période et le résultat de la prédiction pour l'utilisation du dispositif dans la seconde période. プロセッサと、記憶装置と、を有するシステムが実行する機器状態予測方法であって、記憶装置は、機器の稼働状況を示す運転データと、第1の時期の運転データに基づいて第1の時期より後の第2の時期の機器の状態を予測する第1のモデルと、第1の時期の運転データに基づいて第2の時期の機器の使い方を予測する第2のモデルと、を保持し、機器状態予測方法は、取得された第1の時期の運転データを第1のモデルに適用することによって、第2の時期の前記機器の状態を予測する手順と、取得された第1の時期の運転データを第2のモデルに適用することによって、第2
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This device state prediction method includes: a procedure for predicting the state of the device in the second period by applying the acquired operation data for the first period to the first model; a procedure for predicting the usage of the device in the second period by applying the acquired operation data for the first period to the second model; and a procedure for outputting the result of the prediction for the state of the device in the second period and the result of the prediction for the usage of the device in the second period. L'invention concerne un procédé de prédiction d'état de dispositif à exécuter par un système comprenant un processeur et un dispositif de stockage, ledit dispositif de stockage contenant des données d'opération indiquant l'utilisation d'un dispositif, un premier modèle permettant de prédire l'état du dispositif dans une seconde période consécutive à une première période d'après les données d'opération pour la première période, ainsi qu'un second modèle permettant de prédire l'utilisation du dispositif dans la seconde période d'après les données d'opération pour la première période. Ce procédé de prédiction d'état de dispositif comprend : une procédure permettant de prédire l'état du dispositif dans la seconde période en appliquant les données d'opération acquises pour la première période au premier modèle ; une procédure permettant de prédire l'utilisation du dispositif dans la seconde période en appliquant les données de fonctionnement acquises pour la première période au second modèle ; et une procédure permettant de générer le résultat de la prédiction pour l'état du dispositif dans la seconde période et le résultat de la prédiction pour l'utilisation du dispositif dans la seconde période. プロセッサと、記憶装置と、を有するシステムが実行する機器状態予測方法であって、記憶装置は、機器の稼働状況を示す運転データと、第1の時期の運転データに基づいて第1の時期より後の第2の時期の機器の状態を予測する第1のモデルと、第1の時期の運転データに基づいて第2の時期の機器の使い方を予測する第2のモデルと、を保持し、機器状態予測方法は、取得された第1の時期の運転データを第1のモデルに適用することによって、第2の時期の前記機器の状態を予測する手順と、取得された第1の時期の運転データを第2のモデルに適用することによって、第2の時期の機器の使い方を予測する手順と、第2の時期の機器の状態の予測結果及び第2の時期の機器の使い方の予測結果を出力する手順と、を含む。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ; PHYSICS ; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230824&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023157359A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230824&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023157359A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>WATANABE Michiharu</creatorcontrib><creatorcontrib>ASAHARA Akinori</creatorcontrib><creatorcontrib>FUJIBAYASHI Kazuo</creatorcontrib><creatorcontrib>SEKIYA Sachio</creatorcontrib><creatorcontrib>MURATA Yukio</creatorcontrib><creatorcontrib>SUKEDA Hiroko</creatorcontrib><title>DEVICE STATE PREDICTION METHOD AND DEVICE STATE PREDICTION SYSTEM</title><description>Provided is a device state prediction method to be executed by a system having a processor and a storage device, said storage device holding operation data indicating utilization of a device, a first model for predicting the state of the device in a second period subsequent to a first period on the basis of operation data for the first period, and a second model for predicting the usage of the device in the second period on the basis of the operation data for the first period. 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L'invention concerne un procédé de prédiction d'état de dispositif à exécuter par un système comprenant un processeur et un dispositif de stockage, ledit dispositif de stockage contenant des données d'opération indiquant l'utilisation d'un dispositif, un premier modèle permettant de prédire l'état du dispositif dans une seconde période consécutive à une première période d'après les données d'opération pour la première période, ainsi qu'un second modèle permettant de prédire l'utilisation du dispositif dans la seconde période d'après les données d'opération pour la première période. 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