SUBSYSTEM-LEVEL MODEL-BASED DIAGNOSIS
One embodiment provides a method and a system for diagnosing faults in a physical system. During operation, the system can obtain a model of the physical system comprising a plurality of components and can perform a structural analysis on the model to decompose the model into multiple independent su...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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creator | MATEI, Ion CAMPOS PEREZ, Alexandre DE KLEER, Johan |
description | One embodiment provides a method and a system for diagnosing faults in a physical system. During operation, the system can obtain a model of the physical system comprising a plurality of components and can perform a structural analysis on the model to decompose the model into multiple independent subsystem models. A subsystem model corresponds to a subsystem comprising a subset of the plurality of components. The system can then perform, in parallel, a fault-diagnosis operation on each subsystem based on the corresponding subsystem model and can generate a diagnostic output indicating one or more components within the physical system being faulty based on outcomes of the fault-diagnosis operation on each subsystem.
Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé et un système de diagnostic de pannes dans un système physique. Pendant le fonctionnement, le système peut obtenir un modèle du système physique comprenant une pluralité de composants et peut effectuer une analyse structurelle sur le modèle pour décomposer le modèle en de multiples modèles de sous-système indépendants. Un modèle de sous-système correspond à un sous-système comprenant un sous-ensemble de la pluralité de composants. Le système peut ensuite effectuer, en parallèle, une opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système en fonction du modèle de sous-système correspondant et peut produire une sortie de diagnostic indiquant un ou plusieurs composants défectueux dans le système physique en fonction des résultats de l'opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système. |
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Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé et un système de diagnostic de pannes dans un système physique. Pendant le fonctionnement, le système peut obtenir un modèle du système physique comprenant une pluralité de composants et peut effectuer une analyse structurelle sur le modèle pour décomposer le modèle en de multiples modèles de sous-système indépendants. Un modèle de sous-système correspond à un sous-système comprenant un sous-ensemble de la pluralité de composants. Le système peut ensuite effectuer, en parallèle, une opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système en fonction du modèle de sous-système correspondant et peut produire une sortie de diagnostic indiquant un ou plusieurs composants défectueux dans le système physique en fonction des résultats de l'opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230817&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023154348A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,309,781,886,25566,76549</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230817&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023154348A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MATEI, Ion</creatorcontrib><creatorcontrib>CAMPOS PEREZ, Alexandre</creatorcontrib><creatorcontrib>DE KLEER, Johan</creatorcontrib><title>SUBSYSTEM-LEVEL MODEL-BASED DIAGNOSIS</title><description>One embodiment provides a method and a system for diagnosing faults in a physical system. During operation, the system can obtain a model of the physical system comprising a plurality of components and can perform a structural analysis on the model to decompose the model into multiple independent subsystem models. A subsystem model corresponds to a subsystem comprising a subset of the plurality of components. The system can then perform, in parallel, a fault-diagnosis operation on each subsystem based on the corresponding subsystem model and can generate a diagnostic output indicating one or more components within the physical system being faulty based on outcomes of the fault-diagnosis operation on each subsystem.
Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé et un système de diagnostic de pannes dans un système physique. Pendant le fonctionnement, le système peut obtenir un modèle du système physique comprenant une pluralité de composants et peut effectuer une analyse structurelle sur le modèle pour décomposer le modèle en de multiples modèles de sous-système indépendants. Un modèle de sous-système correspond à un sous-système comprenant un sous-ensemble de la pluralité de composants. Le système peut ensuite effectuer, en parallèle, une opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système en fonction du modèle de sous-système correspondant et peut produire une sortie de diagnostic indiquant un ou plusieurs composants défectueux dans le système physique en fonction des résultats de l'opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFANDnUKjgwOcfXV9XENc_VR8PV3cfXRdXIMdnVRcPF0dPfzD_YM5mFgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgZGxoamJsYmFo6GxsSpAgA8QSRO</recordid><startdate>20230817</startdate><enddate>20230817</enddate><creator>MATEI, Ion</creator><creator>CAMPOS PEREZ, Alexandre</creator><creator>DE KLEER, Johan</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230817</creationdate><title>SUBSYSTEM-LEVEL MODEL-BASED DIAGNOSIS</title><author>MATEI, Ion ; CAMPOS PEREZ, Alexandre ; DE KLEER, Johan</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2023154348A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2023</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MATEI, Ion</creatorcontrib><creatorcontrib>CAMPOS PEREZ, Alexandre</creatorcontrib><creatorcontrib>DE KLEER, Johan</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MATEI, Ion</au><au>CAMPOS PEREZ, Alexandre</au><au>DE KLEER, Johan</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SUBSYSTEM-LEVEL MODEL-BASED DIAGNOSIS</title><date>2023-08-17</date><risdate>2023</risdate><abstract>One embodiment provides a method and a system for diagnosing faults in a physical system. During operation, the system can obtain a model of the physical system comprising a plurality of components and can perform a structural analysis on the model to decompose the model into multiple independent subsystem models. A subsystem model corresponds to a subsystem comprising a subset of the plurality of components. The system can then perform, in parallel, a fault-diagnosis operation on each subsystem based on the corresponding subsystem model and can generate a diagnostic output indicating one or more components within the physical system being faulty based on outcomes of the fault-diagnosis operation on each subsystem.
Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un procédé et un système de diagnostic de pannes dans un système physique. Pendant le fonctionnement, le système peut obtenir un modèle du système physique comprenant une pluralité de composants et peut effectuer une analyse structurelle sur le modèle pour décomposer le modèle en de multiples modèles de sous-système indépendants. Un modèle de sous-système correspond à un sous-système comprenant un sous-ensemble de la pluralité de composants. Le système peut ensuite effectuer, en parallèle, une opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système en fonction du modèle de sous-système correspondant et peut produire une sortie de diagnostic indiquant un ou plusieurs composants défectueux dans le système physique en fonction des résultats de l'opération de diagnostic de pannes sur chaque sous-système.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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