DEVICE DIAGNOSIS SYSTEM

It is not possible to easily divide an analysis process according to torque or a speed change. Provided is a device diagnosis system characterized by comprising: a threshold value calculation unit that uses, as reference data, a portion of time-series data measured during operation of a device and t...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: NAGATA Kouichirou, ABE Shigeyuki, MAEKAWA Tatsuya
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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creator NAGATA Kouichirou
ABE Shigeyuki
MAEKAWA Tatsuya
description It is not possible to easily divide an analysis process according to torque or a speed change. Provided is a device diagnosis system characterized by comprising: a threshold value calculation unit that uses, as reference data, a portion of time-series data measured during operation of a device and that sets a plurality of threshold values for the reference data; a data dividing unit that divides, as statuses of respective ranges, the time-series data that meets conditions based on the plurality of threshold values; a feature amount calculation unit that calculates, from the time-series data in each status, a feature amount (summary statistics) thereof; an abnormality degree calculation unit that uses, as test data, another portion of the time-series data measured during operation of the device, and that analyzes and calculates an abnormality degree, which is the degree of an abnormality of the test data, for each status by applying the feature amount to the test data. Il n'est pas possible de diviser aisément un processus d'analyse suivant un couple ou un changement de vitesse. L'invention concerne un système de diagnostic de dispositif caractérisé en ce qu'il comprend : une unité de calcul de valeur de seuil qui utilise, en tant que données de référence, une partie de données de série chronologique mesurées pendant le fonctionnement d'un dispositif et qui définit une pluralité de valeurs de seuil pour les données de référence ; une unité de division des données qui divise, en tant qu'états de plages respectives, les données de série chronologique qui remplissent des conditions sur la base de la pluralité de valeurs de seuil ; une unité de calcul de quantité de caractéristiques qui calcule, à partir des données de série chronologique dans chaque état, une quantité de caractéristiques (statistiques récapitulatives) de celle-ci ; une unité de calcul de degré d'anomalie qui utilise, en tant que données test, une autre partie des données chronologiques mesurées pendant le fonctionnement du dispositif, et qui analyse et calcule un degré d'anomalie, qui est le degré d'une anomalie des données test, pour chaque état par application de la quantité de caractéristiques aux données test. トルクや速度変化などに応じて、簡易に分析プロセスを分割する事ができない。機器の運転時に計測した時系列データの一部を基準データとし、基準データに対して複数の閾値を設定する閾値演算部と、複数の閾値で定まる条件に合致する前記時系列データを各範囲のステータスとして分割するデータ分割部と、各ステータスでの前記時系列データからその特徴量(基本統計量)を演算する特徴量演算部と、機器の運転時に計測した時系列データの他部を検査データとし、前記検査データについて前記特徴量を用いて、各々のステータスに対し、前記検査データの異常の度合いである異常度を分析演算する異常度演算部を備えること
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Provided is a device diagnosis system characterized by comprising: a threshold value calculation unit that uses, as reference data, a portion of time-series data measured during operation of a device and that sets a plurality of threshold values for the reference data; a data dividing unit that divides, as statuses of respective ranges, the time-series data that meets conditions based on the plurality of threshold values; a feature amount calculation unit that calculates, from the time-series data in each status, a feature amount (summary statistics) thereof; an abnormality degree calculation unit that uses, as test data, another portion of the time-series data measured during operation of the device, and that analyzes and calculates an abnormality degree, which is the degree of an abnormality of the test data, for each status by applying the feature amount to the test data. Il n'est pas possible de diviser aisément un processus d'analyse suivant un couple ou un changement de vitesse. L'invention concerne un système de diagnostic de dispositif caractérisé en ce qu'il comprend : une unité de calcul de valeur de seuil qui utilise, en tant que données de référence, une partie de données de série chronologique mesurées pendant le fonctionnement d'un dispositif et qui définit une pluralité de valeurs de seuil pour les données de référence ; une unité de division des données qui divise, en tant qu'états de plages respectives, les données de série chronologique qui remplissent des conditions sur la base de la pluralité de valeurs de seuil ; une unité de calcul de quantité de caractéristiques qui calcule, à partir des données de série chronologique dans chaque état, une quantité de caractéristiques (statistiques récapitulatives) de celle-ci ; une unité de calcul de degré d'anomalie qui utilise, en tant que données test, une autre partie des données chronologiques mesurées pendant le fonctionnement du dispositif, et qui analyse et calcule un degré d'anomalie, qui est le degré d'une anomalie des données test, pour chaque état par application de la quantité de caractéristiques aux données test. トルクや速度変化などに応じて、簡易に分析プロセスを分割する事ができない。機器の運転時に計測した時系列データの一部を基準データとし、基準データに対して複数の閾値を設定する閾値演算部と、複数の閾値で定まる条件に合致する前記時系列データを各範囲のステータスとして分割するデータ分割部と、各ステータスでの前記時系列データからその特徴量(基本統計量)を演算する特徴量演算部と、機器の運転時に計測した時系列データの他部を検査データとし、前記検査データについて前記特徴量を用いて、各々のステータスに対し、前記検査データの異常の度合いである異常度を分析演算する異常度演算部を備えることを特徴とする機器診断システム。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MEASURING ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING ; TESTING ; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES ; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230330&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023047903A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76516</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230330&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2023047903A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>NAGATA Kouichirou</creatorcontrib><creatorcontrib>ABE Shigeyuki</creatorcontrib><creatorcontrib>MAEKAWA Tatsuya</creatorcontrib><title>DEVICE DIAGNOSIS SYSTEM</title><description>It is not possible to easily divide an analysis process according to torque or a speed change. Provided is a device diagnosis system characterized by comprising: a threshold value calculation unit that uses, as reference data, a portion of time-series data measured during operation of a device and that sets a plurality of threshold values for the reference data; a data dividing unit that divides, as statuses of respective ranges, the time-series data that meets conditions based on the plurality of threshold values; a feature amount calculation unit that calculates, from the time-series data in each status, a feature amount (summary statistics) thereof; an abnormality degree calculation unit that uses, as test data, another portion of the time-series data measured during operation of the device, and that analyzes and calculates an abnormality degree, which is the degree of an abnormality of the test data, for each status by applying the feature amount to the test data. Il n'est pas possible de diviser aisément un processus d'analyse suivant un couple ou un changement de vitesse. L'invention concerne un système de diagnostic de dispositif caractérisé en ce qu'il comprend : une unité de calcul de valeur de seuil qui utilise, en tant que données de référence, une partie de données de série chronologique mesurées pendant le fonctionnement d'un dispositif et qui définit une pluralité de valeurs de seuil pour les données de référence ; une unité de division des données qui divise, en tant qu'états de plages respectives, les données de série chronologique qui remplissent des conditions sur la base de la pluralité de valeurs de seuil ; une unité de calcul de quantité de caractéristiques qui calcule, à partir des données de série chronologique dans chaque état, une quantité de caractéristiques (statistiques récapitulatives) de celle-ci ; une unité de calcul de degré d'anomalie qui utilise, en tant que données test, une autre partie des données chronologiques mesurées pendant le fonctionnement du dispositif, et qui analyse et calcule un degré d'anomalie, qui est le degré d'une anomalie des données test, pour chaque état par application de la quantité de caractéristiques aux données test. トルクや速度変化などに応じて、簡易に分析プロセスを分割する事ができない。機器の運転時に計測した時系列データの一部を基準データとし、基準データに対して複数の閾値を設定する閾値演算部と、複数の閾値で定まる条件に合致する前記時系列データを各範囲のステータスとして分割するデータ分割部と、各ステータスでの前記時系列データからその特徴量(基本統計量)を演算する特徴量演算部と、機器の運転時に計測した時系列データの他部を検査データとし、前記検査データについて前記特徴量を用いて、各々のステータスに対し、前記検査データの異常の度合いである異常度を分析演算する異常度演算部を備えることを特徴とする機器診断システム。</description><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><subject>TESTING</subject><subject>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</subject><subject>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBB3cQ3zdHZVcPF0dPfzD_YMVgiODA5x9eVhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGRsYGJuaWBsaOhsbEqQIAVDAgYA</recordid><startdate>20230330</startdate><enddate>20230330</enddate><creator>NAGATA Kouichirou</creator><creator>ABE Shigeyuki</creator><creator>MAEKAWA Tatsuya</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230330</creationdate><title>DEVICE DIAGNOSIS SYSTEM</title><author>NAGATA Kouichirou ; ABE Shigeyuki ; MAEKAWA Tatsuya</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2023047903A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; jpn</language><creationdate>2023</creationdate><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><topic>TESTING</topic><topic>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</topic><topic>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>NAGATA Kouichirou</creatorcontrib><creatorcontrib>ABE Shigeyuki</creatorcontrib><creatorcontrib>MAEKAWA Tatsuya</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>NAGATA Kouichirou</au><au>ABE Shigeyuki</au><au>MAEKAWA Tatsuya</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DEVICE DIAGNOSIS SYSTEM</title><date>2023-03-30</date><risdate>2023</risdate><abstract>It is not possible to easily divide an analysis process according to torque or a speed change. Provided is a device diagnosis system characterized by comprising: a threshold value calculation unit that uses, as reference data, a portion of time-series data measured during operation of a device and that sets a plurality of threshold values for the reference data; a data dividing unit that divides, as statuses of respective ranges, the time-series data that meets conditions based on the plurality of threshold values; a feature amount calculation unit that calculates, from the time-series data in each status, a feature amount (summary statistics) thereof; an abnormality degree calculation unit that uses, as test data, another portion of the time-series data measured during operation of the device, and that analyzes and calculates an abnormality degree, which is the degree of an abnormality of the test data, for each status by applying the feature amount to the test data. Il n'est pas possible de diviser aisément un processus d'analyse suivant un couple ou un changement de vitesse. L'invention concerne un système de diagnostic de dispositif caractérisé en ce qu'il comprend : une unité de calcul de valeur de seuil qui utilise, en tant que données de référence, une partie de données de série chronologique mesurées pendant le fonctionnement d'un dispositif et qui définit une pluralité de valeurs de seuil pour les données de référence ; une unité de division des données qui divise, en tant qu'états de plages respectives, les données de série chronologique qui remplissent des conditions sur la base de la pluralité de valeurs de seuil ; une unité de calcul de quantité de caractéristiques qui calcule, à partir des données de série chronologique dans chaque état, une quantité de caractéristiques (statistiques récapitulatives) de celle-ci ; une unité de calcul de degré d'anomalie qui utilise, en tant que données test, une autre partie des données chronologiques mesurées pendant le fonctionnement du dispositif, et qui analyse et calcule un degré d'anomalie, qui est le degré d'une anomalie des données test, pour chaque état par application de la quantité de caractéristiques aux données test. トルクや速度変化などに応じて、簡易に分析プロセスを分割する事ができない。機器の運転時に計測した時系列データの一部を基準データとし、基準データに対して複数の閾値を設定する閾値演算部と、複数の閾値で定まる条件に合致する前記時系列データを各範囲のステータスとして分割するデータ分割部と、各ステータスでの前記時系列データからその特徴量(基本統計量)を演算する特徴量演算部と、機器の運転時に計測した時系列データの他部を検査データとし、前記検査データについて前記特徴量を用いて、各々のステータスに対し、前記検査データの異常の度合いである異常度を分析演算する異常度演算部を備えることを特徴とする機器診断システム。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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