INFORMATION PROCESSING DEVICE AND AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM
In order to enable rapid identification of a failure mode, the present disclosure proposes an information processing device comprising: an extended FMEA database containing, on a per-failure effect basis, information on check items, information on the degree of association between the check items an...
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Format: | Patent |
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creator | NISHIKI Kenichiro YOKOHARI Takashi |
description | In order to enable rapid identification of a failure mode, the present disclosure proposes an information processing device comprising: an extended FMEA database containing, on a per-failure effect basis, information on check items, information on the degree of association between the check items and the failure effect, and information on previous events of the check items; and a processor that obtains information on a check item confirmed as an event and that identifies a failure mode corresponding to a failure effect on the basis of the obtained check item, wherein the processor executes a first process for extracting information on the failure effect related to the check item from the extended FMEA database, a second process for calculating a score value for the failure effect extracted in the first process by referring to information on the degree of association between the check item and the failure effect, and a third process for presenting, on the basis of the score value, the failure mode corresponding to the failure effect extracted in the first process (see FIG. 2).
Afin de permettre l'identification rapide d'un mode de défaillance, la présente invention concerne un dispositif de traitement d'informations comprenant : une base de données d'analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDEC) étendue contenant, sur la base d'un effet par défaut, des informations sur des éléments de vérification, des informations sur le degré d'association entre les éléments de vérification et l'effet de défaillance, et des informations sur des événements précédents des éléments de vérification ; et un processeur qui obtient des informations sur un élément de vérification confirmé en tant qu'événement et qui identifie un mode de défaillance correspondant à un effet de défaillance sur la base de l'élément de vérification obtenu, le processeur exécutant un premier processus pour extraire des informations sur l'effet de défaillance se rapportant à l'élément de vérification à partir de la base de données d'AMDEC étendue, un deuxième processus pour calculer une valeur de score pour l'effet de défaillance extrait au premier processus en se référant à des informations sur le degré d'association entre l'élément de vérification et l'effet de défaillance, et un troisième processus pour présenter, sur la base de la valeur de score, le mode de défaillance correspondant à l'effet de défaillance extrait au premier processus (voir Figure 2).
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Afin de permettre l'identification rapide d'un mode de défaillance, la présente invention concerne un dispositif de traitement d'informations comprenant : une base de données d'analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDEC) étendue contenant, sur la base d'un effet par défaut, des informations sur des éléments de vérification, des informations sur le degré d'association entre les éléments de vérification et l'effet de défaillance, et des informations sur des événements précédents des éléments de vérification ; et un processeur qui obtient des informations sur un élément de vérification confirmé en tant qu'événement et qui identifie un mode de défaillance correspondant à un effet de défaillance sur la base de l'élément de vérification obtenu, le processeur exécutant un premier processus pour extraire des informations sur l'effet de défaillance se rapportant à l'élément de vérification à partir de la base de données d'AMDEC étendue, un deuxième processus pour calculer une valeur de score pour l'effet de défaillance extrait au premier processus en se référant à des informations sur le degré d'association entre l'élément de vérification et l'effet de défaillance, et un troisième processus pour présenter, sur la base de la valeur de score, le mode de défaillance correspondant à l'effet de défaillance extrait au premier processus (voir Figure 2).
故障モードを迅速に特定することを可能にするため、本開示は、故障影響毎に、チェック対象の情報と、チェック対象と故障影響との関連度の情報と、チェック対象の先行事象の情報とを含む、拡張したFMEAデータベースと、事象として確認されたチェック対象の情報を取得し、当該取得したチェック対象に基づいて、故障影響に対応する故障モードを特定するプロセッサと、を備え、当該プロセッサは、チェック対象に関連する故障影響の情報を拡張したFMEAデータベースから抽出する第1処理と、チェック対象と故障影響の関連度の情報を参照し、第1処理で抽出した故障影響のスコア値を算出する第2処理と、スコア値に基づいて、第1処理で抽出した故障影響に対応する故障モードを提示する第3処理と、を実行する情報処理装置を提案する(図2参照)。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; CALCULATING ; COMPUTING ; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; COUNTING ; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING ; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230330&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023047806A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76418</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230330&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023047806A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>NISHIKI Kenichiro</creatorcontrib><creatorcontrib>YOKOHARI Takashi</creatorcontrib><title>INFORMATION PROCESSING DEVICE AND AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM</title><description>In order to enable rapid identification of a failure mode, the present disclosure proposes an information processing device comprising: an extended FMEA database containing, on a per-failure effect basis, information on check items, information on the degree of association between the check items and the failure effect, and information on previous events of the check items; and a processor that obtains information on a check item confirmed as an event and that identifies a failure mode corresponding to a failure effect on the basis of the obtained check item, wherein the processor executes a first process for extracting information on the failure effect related to the check item from the extended FMEA database, a second process for calculating a score value for the failure effect extracted in the first process by referring to information on the degree of association between the check item and the failure effect, and a third process for presenting, on the basis of the score value, the failure mode corresponding to the failure effect extracted in the first process (see FIG. 2).
Afin de permettre l'identification rapide d'un mode de défaillance, la présente invention concerne un dispositif de traitement d'informations comprenant : une base de données d'analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDEC) étendue contenant, sur la base d'un effet par défaut, des informations sur des éléments de vérification, des informations sur le degré d'association entre les éléments de vérification et l'effet de défaillance, et des informations sur des événements précédents des éléments de vérification ; et un processeur qui obtient des informations sur un élément de vérification confirmé en tant qu'événement et qui identifie un mode de défaillance correspondant à un effet de défaillance sur la base de l'élément de vérification obtenu, le processeur exécutant un premier processus pour extraire des informations sur l'effet de défaillance se rapportant à l'élément de vérification à partir de la base de données d'AMDEC étendue, un deuxième processus pour calculer une valeur de score pour l'effet de défaillance extrait au premier processus en se référant à des informations sur le degré d'association entre l'élément de vérification et l'effet de défaillance, et un troisième processus pour présenter, sur la base de la valeur de score, le mode de défaillance correspondant à l'effet de défaillance extrait au premier processus (voir Figure 2).
故障モードを迅速に特定することを可能にするため、本開示は、故障影響毎に、チェック対象の情報と、チェック対象と故障影響との関連度の情報と、チェック対象の先行事象の情報とを含む、拡張したFMEAデータベースと、事象として確認されたチェック対象の情報を取得し、当該取得したチェック対象に基づいて、故障影響に対応する故障モードを特定するプロセッサと、を備え、当該プロセッサは、チェック対象に関連する故障影響の情報を拡張したFMEAデータベースから抽出する第1処理と、チェック対象と故障影響の関連度の情報を参照し、第1処理で抽出した故障影響のスコア値を算出する第2処理と、スコア値に基づいて、第1処理で抽出した故障影響に対応する故障モードを提示する第3処理と、を実行する情報処理装置を提案する(図2参照)。</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><subject>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLD29HPzD_J1DPH091MICPJ3dg0O9vRzV3BxDfN0dlVw9HNRcAwN8QcpcAbyHH0igz2DFYIjg0NcfXkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBkbGBibmFgZmjoTFxqgCpByqI</recordid><startdate>20230330</startdate><enddate>20230330</enddate><creator>NISHIKI Kenichiro</creator><creator>YOKOHARI Takashi</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230330</creationdate><title>INFORMATION PROCESSING DEVICE AND AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM</title><author>NISHIKI Kenichiro ; 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Afin de permettre l'identification rapide d'un mode de défaillance, la présente invention concerne un dispositif de traitement d'informations comprenant : une base de données d'analyse des modes de défaillance et de leurs effets (AMDEC) étendue contenant, sur la base d'un effet par défaut, des informations sur des éléments de vérification, des informations sur le degré d'association entre les éléments de vérification et l'effet de défaillance, et des informations sur des événements précédents des éléments de vérification ; et un processeur qui obtient des informations sur un élément de vérification confirmé en tant qu'événement et qui identifie un mode de défaillance correspondant à un effet de défaillance sur la base de l'élément de vérification obtenu, le processeur exécutant un premier processus pour extraire des informations sur l'effet de défaillance se rapportant à l'élément de vérification à partir de la base de données d'AMDEC étendue, un deuxième processus pour calculer une valeur de score pour l'effet de défaillance extrait au premier processus en se référant à des informations sur le degré d'association entre l'élément de vérification et l'effet de défaillance, et un troisième processus pour présenter, sur la base de la valeur de score, le mode de défaillance correspondant à l'effet de défaillance extrait au premier processus (voir Figure 2).
故障モードを迅速に特定することを可能にするため、本開示は、故障影響毎に、チェック対象の情報と、チェック対象と故障影響との関連度の情報と、チェック対象の先行事象の情報とを含む、拡張したFMEAデータベースと、事象として確認されたチェック対象の情報を取得し、当該取得したチェック対象に基づいて、故障影響に対応する故障モードを特定するプロセッサと、を備え、当該プロセッサは、チェック対象に関連する故障影響の情報を拡張したFMEAデータベースから抽出する第1処理と、チェック対象と故障影響の関連度の情報を参照し、第1処理で抽出した故障影響のスコア値を算出する第2処理と、スコア値に基づいて、第1処理で抽出した故障影響に対応する故障モードを提示する第3処理と、を実行する情報処理装置を提案する(図2参照)。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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