METHOD OF CREATING A LOCAL OSCILLATOR LIGHT BEAM AND LOCAL OSCILLATOR SOURCE APPARATUS FOR PHASE-RESOLVED SPECTROSCOPY
A method of creating a local oscillator light beam LO for a phase- resolved spectroscopy measurement comprises the steps of providing a first measuring light beam (1) and a second measuring light beam (2) being aligned to each other, creating the local oscillator light beam LO by an optical non-line...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | BONN, Mischa GRECHKO, Maksim VIETZKE, Laura LUKAS, Max |
| description | A method of creating a local oscillator light beam LO for a phase- resolved spectroscopy measurement comprises the steps of providing a first measuring light beam (1) and a second measuring light beam (2) being aligned to each other, creating the local oscillator light beam LO by an optical non-linear interaction of a first portion (1A) of the first measuring light beam (1) and a first portion (2A) of the second measuring light beam (2) in an optical nonlinear medium (20), and superimposing the local oscillator light beam LO, a second portion (1B) of the first measuring light beam (1) and a second portion (2B) of the second measuring light beam (2) with a predetermined mutual phase relationship, for providing a sample light beam (3) for the phase-resolved spectroscopy measurement. The local oscillator light beam LO and the second portions (1B, 2B) of the first and second measuring light beams (1, 2) are superimposed with a displaced Sagnac interferometer (10).
L'invention concerne un procédé de création d'un faisceau lumineux d'oscillateur local LO pour une mesure de spectroscopie à résolution de phase, comprenant les étapes suivantes : la fourniture d'un premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'un second faisceau lumineux de mesure (2) alignés l'un sur l'autre, la création du faisceau lumineux d'oscillateur local LO par une interaction optique non linéaire d'une première partie (1A) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une première partie (2A) du second faisceau lumineux de mesure (2) dans un milieu optique non linéaire (20), et la superposition du faisceau lumineux d'oscillateur local LO, d'une seconde partie (1B) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une seconde partie (2B) du second faisceau lumineux de mesure (2) avec une relation de phase mutuelle prédéterminée, pour fournir un faisceau lumineux d'échantillon (3) pour la mesure de spectroscopie à résolution de phase. Le faisceau lumineux d'oscillateur local LO et les secondes parties (1B, 2B) des premier et second faisceaux lumineux de mesure (1, 2) sont superposés avec un interféromètre de Sagnac déplacé (10). |
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L'invention concerne un procédé de création d'un faisceau lumineux d'oscillateur local LO pour une mesure de spectroscopie à résolution de phase, comprenant les étapes suivantes : la fourniture d'un premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'un second faisceau lumineux de mesure (2) alignés l'un sur l'autre, la création du faisceau lumineux d'oscillateur local LO par une interaction optique non linéaire d'une première partie (1A) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une première partie (2A) du second faisceau lumineux de mesure (2) dans un milieu optique non linéaire (20), et la superposition du faisceau lumineux d'oscillateur local LO, d'une seconde partie (1B) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une seconde partie (2B) du second faisceau lumineux de mesure (2) avec une relation de phase mutuelle prédéterminée, pour fournir un faisceau lumineux d'échantillon (3) pour la mesure de spectroscopie à résolution de phase. Le faisceau lumineux d'oscillateur local LO et les secondes parties (1B, 2B) des premier et second faisceaux lumineux de mesure (1, 2) sont superposés avec un interféromètre de Sagnac déplacé (10).</description><language>eng ; fre</language><subject>COLORIMETRY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220825&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022175471A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220825&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022175471A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BONN, Mischa</creatorcontrib><creatorcontrib>GRECHKO, Maksim</creatorcontrib><creatorcontrib>VIETZKE, Laura</creatorcontrib><creatorcontrib>LUKAS, Max</creatorcontrib><title>METHOD OF CREATING A LOCAL OSCILLATOR LIGHT BEAM AND LOCAL OSCILLATOR SOURCE APPARATUS FOR PHASE-RESOLVED SPECTROSCOPY</title><description>A method of creating a local oscillator light beam LO for a phase- resolved spectroscopy measurement comprises the steps of providing a first measuring light beam (1) and a second measuring light beam (2) being aligned to each other, creating the local oscillator light beam LO by an optical non-linear interaction of a first portion (1A) of the first measuring light beam (1) and a first portion (2A) of the second measuring light beam (2) in an optical nonlinear medium (20), and superimposing the local oscillator light beam LO, a second portion (1B) of the first measuring light beam (1) and a second portion (2B) of the second measuring light beam (2) with a predetermined mutual phase relationship, for providing a sample light beam (3) for the phase-resolved spectroscopy measurement. The local oscillator light beam LO and the second portions (1B, 2B) of the first and second measuring light beams (1, 2) are superimposed with a displaced Sagnac interferometer (10).
L'invention concerne un procédé de création d'un faisceau lumineux d'oscillateur local LO pour une mesure de spectroscopie à résolution de phase, comprenant les étapes suivantes : la fourniture d'un premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'un second faisceau lumineux de mesure (2) alignés l'un sur l'autre, la création du faisceau lumineux d'oscillateur local LO par une interaction optique non linéaire d'une première partie (1A) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une première partie (2A) du second faisceau lumineux de mesure (2) dans un milieu optique non linéaire (20), et la superposition du faisceau lumineux d'oscillateur local LO, d'une seconde partie (1B) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une seconde partie (2B) du second faisceau lumineux de mesure (2) avec une relation de phase mutuelle prédéterminée, pour fournir un faisceau lumineux d'échantillon (3) pour la mesure de spectroscopie à résolution de phase. Le faisceau lumineux d'oscillateur local LO et les secondes parties (1B, 2B) des premier et second faisceaux lumineux de mesure (1, 2) sont superposés avec un interféromètre de Sagnac déplacé (10).</description><subject>COLORIMETRY</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNi0ELgkAQRr10iOo_DHQW0grP0zq6wuosu6PRSSS2U5Rg9Pvz0K1Lpw_ee98yetckmnPgApQjlKopAcGwQgPsVWUMCjswVakFToQ1YJP_es-tUwRoLTqU1kMxQ6vRU-zIs-koB29JiZtPbC_raHEb7lPYfHcVbQsSpeMwPvswjcM1PMKrP3O6S9MkOx6yBJP9f9UH4wk6Vg</recordid><startdate>20220825</startdate><enddate>20220825</enddate><creator>BONN, Mischa</creator><creator>GRECHKO, Maksim</creator><creator>VIETZKE, Laura</creator><creator>LUKAS, Max</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220825</creationdate><title>METHOD OF CREATING A LOCAL OSCILLATOR LIGHT BEAM AND LOCAL OSCILLATOR SOURCE APPARATUS FOR PHASE-RESOLVED SPECTROSCOPY</title><author>BONN, Mischa ; GRECHKO, Maksim ; VIETZKE, Laura ; LUKAS, Max</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022175471A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>COLORIMETRY</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BONN, Mischa</creatorcontrib><creatorcontrib>GRECHKO, Maksim</creatorcontrib><creatorcontrib>VIETZKE, Laura</creatorcontrib><creatorcontrib>LUKAS, Max</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BONN, Mischa</au><au>GRECHKO, Maksim</au><au>VIETZKE, Laura</au><au>LUKAS, Max</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF CREATING A LOCAL OSCILLATOR LIGHT BEAM AND LOCAL OSCILLATOR SOURCE APPARATUS FOR PHASE-RESOLVED SPECTROSCOPY</title><date>2022-08-25</date><risdate>2022</risdate><abstract>A method of creating a local oscillator light beam LO for a phase- resolved spectroscopy measurement comprises the steps of providing a first measuring light beam (1) and a second measuring light beam (2) being aligned to each other, creating the local oscillator light beam LO by an optical non-linear interaction of a first portion (1A) of the first measuring light beam (1) and a first portion (2A) of the second measuring light beam (2) in an optical nonlinear medium (20), and superimposing the local oscillator light beam LO, a second portion (1B) of the first measuring light beam (1) and a second portion (2B) of the second measuring light beam (2) with a predetermined mutual phase relationship, for providing a sample light beam (3) for the phase-resolved spectroscopy measurement. The local oscillator light beam LO and the second portions (1B, 2B) of the first and second measuring light beams (1, 2) are superimposed with a displaced Sagnac interferometer (10).
L'invention concerne un procédé de création d'un faisceau lumineux d'oscillateur local LO pour une mesure de spectroscopie à résolution de phase, comprenant les étapes suivantes : la fourniture d'un premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'un second faisceau lumineux de mesure (2) alignés l'un sur l'autre, la création du faisceau lumineux d'oscillateur local LO par une interaction optique non linéaire d'une première partie (1A) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une première partie (2A) du second faisceau lumineux de mesure (2) dans un milieu optique non linéaire (20), et la superposition du faisceau lumineux d'oscillateur local LO, d'une seconde partie (1B) du premier faisceau lumineux de mesure (1) et d'une seconde partie (2B) du second faisceau lumineux de mesure (2) avec une relation de phase mutuelle prédéterminée, pour fournir un faisceau lumineux d'échantillon (3) pour la mesure de spectroscopie à résolution de phase. Le faisceau lumineux d'oscillateur local LO et les secondes parties (1B, 2B) des premier et second faisceaux lumineux de mesure (1, 2) sont superposés avec un interféromètre de Sagnac déplacé (10).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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