SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT

In at least one embodiment, the sensor device (1) comprises: a light source (2) configured to emit a primary radiation (P), - a detector (3) comprising a plurality of detector units ( 31 ), and - a sensor film (5) comprising metallic nanoparticles (51) geometrically between the reflecting optical el...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: VERDOOLD, Remco, LOUS, Erik Jan
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator VERDOOLD, Remco
LOUS, Erik Jan
description In at least one embodiment, the sensor device (1) comprises: a light source (2) configured to emit a primary radiation (P), - a detector (3) comprising a plurality of detector units ( 31 ), and - a sensor film (5) comprising metallic nanoparticles (51) geometrically between the reflecting optical element (4) and the detector (3), wherein - the sensor film (5) is configured to be exposed to a liquid or gas (7), and - the detector (3) is configured to detect a spectral change in the primary radiation (P) caused by the sensor film (5) upon exposure to the liquid or gas (7). Selon au moins un mode de réalisation, un dispositif capteur (1) comprend : une source lumineuse (2), conçue pour émettre un rayonnement primaire (P) ; un détecteur (3) comprenant une pluralité d'unités détectrices (31) ; et un film capteur (5) comprenant géométriquement des nanoparticules métalliques (51) entre un élément optique réfléchissant (4) et le détecteur (3). Le film capteur (5) est conçu pour être exposé à un liquide ou à un gaz (7), tandis que le détecteur (3) est conçu pour détecter une variation spectrale du rayonnement primaire (P), causée par le film capteur (5) lors de l'exposition au liquide ou au gaz (7).
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2022171454A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2022171454A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2022171454A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFAJdvUL9g9ScHEN83R2VXD0c1GAijgGBTn6ubv6uvqF8DCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSS-HB_IwMjI0NzQxNTE0dDY-JUAQAEtyPe</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT</title><source>esp@cenet</source><creator>VERDOOLD, Remco ; LOUS, Erik Jan</creator><creatorcontrib>VERDOOLD, Remco ; LOUS, Erik Jan</creatorcontrib><description>In at least one embodiment, the sensor device (1) comprises: a light source (2) configured to emit a primary radiation (P), - a detector (3) comprising a plurality of detector units ( 31 ), and - a sensor film (5) comprising metallic nanoparticles (51) geometrically between the reflecting optical element (4) and the detector (3), wherein - the sensor film (5) is configured to be exposed to a liquid or gas (7), and - the detector (3) is configured to detect a spectral change in the primary radiation (P) caused by the sensor film (5) upon exposure to the liquid or gas (7). Selon au moins un mode de réalisation, un dispositif capteur (1) comprend : une source lumineuse (2), conçue pour émettre un rayonnement primaire (P) ; un détecteur (3) comprenant une pluralité d'unités détectrices (31) ; et un film capteur (5) comprenant géométriquement des nanoparticules métalliques (51) entre un élément optique réfléchissant (4) et le détecteur (3). Le film capteur (5) est conçu pour être exposé à un liquide ou à un gaz (7), tandis que le détecteur (3) est conçu pour détecter une variation spectrale du rayonnement primaire (P), causée par le film capteur (5) lors de l'exposition au liquide ou au gaz (7).</description><language>eng ; fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES ; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES ; MEASURING ; NANOTECHNOLOGY ; PERFORMING OPERATIONS ; PHYSICS ; SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES ; TESTING ; TRANSPORTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220818&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2022171454A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220818&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2022171454A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>VERDOOLD, Remco</creatorcontrib><creatorcontrib>LOUS, Erik Jan</creatorcontrib><title>SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT</title><description>In at least one embodiment, the sensor device (1) comprises: a light source (2) configured to emit a primary radiation (P), - a detector (3) comprising a plurality of detector units ( 31 ), and - a sensor film (5) comprising metallic nanoparticles (51) geometrically between the reflecting optical element (4) and the detector (3), wherein - the sensor film (5) is configured to be exposed to a liquid or gas (7), and - the detector (3) is configured to detect a spectral change in the primary radiation (P) caused by the sensor film (5) upon exposure to the liquid or gas (7). Selon au moins un mode de réalisation, un dispositif capteur (1) comprend : une source lumineuse (2), conçue pour émettre un rayonnement primaire (P) ; un détecteur (3) comprenant une pluralité d'unités détectrices (31) ; et un film capteur (5) comprenant géométriquement des nanoparticules métalliques (51) entre un élément optique réfléchissant (4) et le détecteur (3). Le film capteur (5) est conçu pour être exposé à un liquide ou à un gaz (7), tandis que le détecteur (3) est conçu pour détecter une variation spectrale du rayonnement primaire (P), causée par le film capteur (5) lors de l'exposition au liquide ou au gaz (7).</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES</subject><subject>MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>NANOTECHNOLOGY</subject><subject>PERFORMING OPERATIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES</subject><subject>TESTING</subject><subject>TRANSPORTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFAJdvUL9g9ScHEN83R2VXD0c1GAijgGBTn6ubv6uvqF8DCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSS-HB_IwMjI0NzQxNTE0dDY-JUAQAEtyPe</recordid><startdate>20220818</startdate><enddate>20220818</enddate><creator>VERDOOLD, Remco</creator><creator>LOUS, Erik Jan</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220818</creationdate><title>SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT</title><author>VERDOOLD, Remco ; LOUS, Erik Jan</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022171454A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES</topic><topic>MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>NANOTECHNOLOGY</topic><topic>PERFORMING OPERATIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES</topic><topic>TESTING</topic><topic>TRANSPORTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>VERDOOLD, Remco</creatorcontrib><creatorcontrib>LOUS, Erik Jan</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>VERDOOLD, Remco</au><au>LOUS, Erik Jan</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT</title><date>2022-08-18</date><risdate>2022</risdate><abstract>In at least one embodiment, the sensor device (1) comprises: a light source (2) configured to emit a primary radiation (P), - a detector (3) comprising a plurality of detector units ( 31 ), and - a sensor film (5) comprising metallic nanoparticles (51) geometrically between the reflecting optical element (4) and the detector (3), wherein - the sensor film (5) is configured to be exposed to a liquid or gas (7), and - the detector (3) is configured to detect a spectral change in the primary radiation (P) caused by the sensor film (5) upon exposure to the liquid or gas (7). Selon au moins un mode de réalisation, un dispositif capteur (1) comprend : une source lumineuse (2), conçue pour émettre un rayonnement primaire (P) ; un détecteur (3) comprenant une pluralité d'unités détectrices (31) ; et un film capteur (5) comprenant géométriquement des nanoparticules métalliques (51) entre un élément optique réfléchissant (4) et le détecteur (3). Le film capteur (5) est conçu pour être exposé à un liquide ou à un gaz (7), tandis que le détecteur (3) est conçu pour détecter une variation spectrale du rayonnement primaire (P), causée par le film capteur (5) lors de l'exposition au liquide ou au gaz (7).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2022171454A1
source esp@cenet
subjects INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES
MEASURING
NANOTECHNOLOGY
PERFORMING OPERATIONS
PHYSICS
SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES
TESTING
TRANSPORTING
title SENSOR DEVICE AND SENSOR ARRANGEMENT
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-28T05%3A47%3A17IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=VERDOOLD,%20Remco&rft.date=2022-08-18&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2022171454A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true