SINGLE POINT SENSING
A single point sensing system may include a microscope having a field of view, a single-point sensor having a focal point, a stage to support a substance, an actuator to move at least one of the single-point sensor and the stage relative to one another, and in alignment controller. The alignment con...
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| Format: | Patent |
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| creator | LEI, Yang D'APUZZO, Fausto |
| description | A single point sensing system may include a microscope having a field of view, a single-point sensor having a focal point, a stage to support a substance, an actuator to move at least one of the single-point sensor and the stage relative to one another, and in alignment controller. The alignment controller is to identify a location of the substance on the stage based upon signals from the microscope and output sensor alignment signals to the actuator to align the location of the substance on the stage with the focal point of the single-point sensor based upon the identified location of the substance.
Un système de détection à point unique peut comprendre un microscope ayant un champ de vision, un capteur à point unique ayant un point focal, un étage destiné à soutenir une substance, un actionneur destiné à déplacer le capteur à point unique et/ou l'étage l'un par rapport à l'autre, et dans un dispositif de commande d'alignement. Le dispositif de commande d'alignement est destiné à identifier un emplacement de la substance sur l'étage sur la base de signaux provenant du microscope et à émettre des signaux d'alignement de capteur vers l'actionneur pour aligner l'emplacement de la substance sur l'étage avec le point focal du capteur à point unique sur la base de l'emplacement identifié de la substance. |
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Un système de détection à point unique peut comprendre un microscope ayant un champ de vision, un capteur à point unique ayant un point focal, un étage destiné à soutenir une substance, un actionneur destiné à déplacer le capteur à point unique et/ou l'étage l'un par rapport à l'autre, et dans un dispositif de commande d'alignement. Le dispositif de commande d'alignement est destiné à identifier un emplacement de la substance sur l'étage sur la base de signaux provenant du microscope et à émettre des signaux d'alignement de capteur vers l'actionneur pour aligner l'emplacement de la substance sur l'étage avec le point focal du capteur à point unique sur la base de l'emplacement identifié de la substance.</description><language>eng ; fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL ; METERING BY VOLUME ; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS ; OPTICS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220728&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022159116A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220728&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022159116A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LEI, Yang</creatorcontrib><creatorcontrib>D'APUZZO, Fausto</creatorcontrib><title>SINGLE POINT SENSING</title><description>A single point sensing system may include a microscope having a field of view, a single-point sensor having a focal point, a stage to support a substance, an actuator to move at least one of the single-point sensor and the stage relative to one another, and in alignment controller. The alignment controller is to identify a location of the substance on the stage based upon signals from the microscope and output sensor alignment signals to the actuator to align the location of the substance on the stage with the focal point of the single-point sensor based upon the identified location of the substance.
Un système de détection à point unique peut comprendre un microscope ayant un champ de vision, un capteur à point unique ayant un point focal, un étage destiné à soutenir une substance, un actionneur destiné à déplacer le capteur à point unique et/ou l'étage l'un par rapport à l'autre, et dans un dispositif de commande d'alignement. Le dispositif de commande d'alignement est destiné à identifier un emplacement de la substance sur l'étage sur la base de signaux provenant du microscope et à émettre des signaux d'alignement de capteur vers l'actionneur pour aligner l'emplacement de la substance sur l'étage avec le point focal du capteur à point unique sur la base de l'emplacement identifié de la substance.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL</subject><subject>METERING BY VOLUME</subject><subject>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</subject><subject>OPTICS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBAJ9vRz93FVCPD39AtRCHb1A_F5GFjTEnOKU3mhNDeDsptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakl8uL-RgZGRoamloaGZo6ExcaoA9csfiA</recordid><startdate>20220728</startdate><enddate>20220728</enddate><creator>LEI, Yang</creator><creator>D'APUZZO, Fausto</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220728</creationdate><title>SINGLE POINT SENSING</title><author>LEI, Yang ; D'APUZZO, Fausto</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022159116A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL</topic><topic>METERING BY VOLUME</topic><topic>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</topic><topic>OPTICS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LEI, Yang</creatorcontrib><creatorcontrib>D'APUZZO, Fausto</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LEI, Yang</au><au>D'APUZZO, Fausto</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SINGLE POINT SENSING</title><date>2022-07-28</date><risdate>2022</risdate><abstract>A single point sensing system may include a microscope having a field of view, a single-point sensor having a focal point, a stage to support a substance, an actuator to move at least one of the single-point sensor and the stage relative to one another, and in alignment controller. The alignment controller is to identify a location of the substance on the stage based upon signals from the microscope and output sensor alignment signals to the actuator to align the location of the substance on the stage with the focal point of the single-point sensor based upon the identified location of the substance.
Un système de détection à point unique peut comprendre un microscope ayant un champ de vision, un capteur à point unique ayant un point focal, un étage destiné à soutenir une substance, un actionneur destiné à déplacer le capteur à point unique et/ou l'étage l'un par rapport à l'autre, et dans un dispositif de commande d'alignement. Le dispositif de commande d'alignement est destiné à identifier un emplacement de la substance sur l'étage sur la base de signaux provenant du microscope et à émettre des signaux d'alignement de capteur vers l'actionneur pour aligner l'emplacement de la substance sur l'étage avec le point focal du capteur à point unique sur la base de l'emplacement identifié de la substance.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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