SYSTEMS AND METHODS RELATED TO APPLIED ANOMALY DETECTION AND CONTACT CENTER COMPUTING ENVIRONMENTS

A system for detecting anomalies in metric data provided by one or more customers according to an embodiment includes at least one processor and at least one memory comprising a plurality of instructions stored thereon that, in response to execution by the at least one processor, causes the system t...

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Hauptverfasser: LAMPREA, Luis, OÑATE LÓPEZ, José
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator LAMPREA, Luis
OÑATE LÓPEZ, José
description A system for detecting anomalies in metric data provided by one or more customers according to an embodiment includes at least one processor and at least one memory comprising a plurality of instructions stored thereon that, in response to execution by the at least one processor, causes the system to receive metric data indicative of a plurality of time-series based observations for a particular customer metric, to define, based on the metric data, a plurality of parameters to characterize one or more spheres each configured to capture a number of time- series based observations for the particular customer metric, and to generate, based on the plurality of parameters, the one or more spheres to determine coverage of the metric data within the one or more spheres and detect one or more anomalies in the metric data. L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un système de détection d'anomalies dans des données de métriques fournies par un ou plusieurs clients, qui comprend au moins un processeur et au moins une mémoire sur laquelle est stockée une pluralité d'instructions qui, en réponse à une exécution par le ou les processeurs, amène le système à recevoir des données de métriques indicatives d'une pluralité d'observations basées sur une série chronologique pour une métrique particulière de client, à définir, d'après les données de métriques, une pluralité de paramètres pour caractériser une ou plusieurs sphères dont chacune est configurée pour capturer une multiplicité d'observations basées sur une série chronologique pour la métrique de client considérée, et à générer, d'après la pluralité de paramètres, la ou les sphères pour déterminer la couverture des données de métriques à l'intérieur de la ou des sphères et détecter une ou plusieurs anomalies dans les données de métriques.
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L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un système de détection d'anomalies dans des données de métriques fournies par un ou plusieurs clients, qui comprend au moins un processeur et au moins une mémoire sur laquelle est stockée une pluralité d'instructions qui, en réponse à une exécution par le ou les processeurs, amène le système à recevoir des données de métriques indicatives d'une pluralité d'observations basées sur une série chronologique pour une métrique particulière de client, à définir, d'après les données de métriques, une pluralité de paramètres pour caractériser une ou plusieurs sphères dont chacune est configurée pour capturer une multiplicité d'observations basées sur une série chronologique pour la métrique de client considérée, et à générer, d'après la pluralité de paramètres, la ou les sphères pour déterminer la couverture des données de métriques à l'intérieur de la ou des sphères et détecter une ou plusieurs anomalies dans les données de métriques.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS ; COMPUTING ; COUNTING ; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; HANDLING RECORD CARRIERS ; PHYSICS ; PRESENTATION OF DATA ; RECOGNITION OF DATA ; RECORD CARRIERS ; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220630&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2022140359A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220630&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2022140359A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LAMPREA, Luis</creatorcontrib><creatorcontrib>OÑATE LÓPEZ, José</creatorcontrib><title>SYSTEMS AND METHODS RELATED TO APPLIED ANOMALY DETECTION AND CONTACT CENTER COMPUTING ENVIRONMENTS</title><description>A system for detecting anomalies in metric data provided by one or more customers according to an embodiment includes at least one processor and at least one memory comprising a plurality of instructions stored thereon that, in response to execution by the at least one processor, causes the system to receive metric data indicative of a plurality of time-series based observations for a particular customer metric, to define, based on the metric data, a plurality of parameters to characterize one or more spheres each configured to capture a number of time- series based observations for the particular customer metric, and to generate, based on the plurality of parameters, the one or more spheres to determine coverage of the metric data within the one or more spheres and detect one or more anomalies in the metric data. L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un système de détection d'anomalies dans des données de métriques fournies par un ou plusieurs clients, qui comprend au moins un processeur et au moins une mémoire sur laquelle est stockée une pluralité d'instructions qui, en réponse à une exécution par le ou les processeurs, amène le système à recevoir des données de métriques indicatives d'une pluralité d'observations basées sur une série chronologique pour une métrique particulière de client, à définir, d'après les données de métriques, une pluralité de paramètres pour caractériser une ou plusieurs sphères dont chacune est configurée pour capturer une multiplicité d'observations basées sur une série chronologique pour la métrique de client considérée, et à générer, d'après la pluralité de paramètres, la ou les sphères pour déterminer la couverture des données de métriques à l'intérieur de la ou des sphères et détecter une ou plusieurs anomalies dans les données de métriques.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>HANDLING RECORD CARRIERS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PRESENTATION OF DATA</subject><subject>RECOGNITION OF DATA</subject><subject>RECORD CARRIERS</subject><subject>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNi70KwkAQhNNYiPoOC9ZCfrSwXO5Wc5DbDblVSRWinJVoIL4_BvEBrGa-4Zt5cg1tUPIBkC140lJsgIYqVLKgAljXlZsqsnisWrCkZNQJfw9GWNEoGGKlZkJfn9TxEYjPrhH20x6WyezeP8a4-uUiWR9ITbmJw6uL49Df4jO-u4vkaZ5n27TY7TEr_rM-zsI1IQ</recordid><startdate>20220630</startdate><enddate>20220630</enddate><creator>LAMPREA, Luis</creator><creator>OÑATE LÓPEZ, José</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220630</creationdate><title>SYSTEMS AND METHODS RELATED TO APPLIED ANOMALY DETECTION AND CONTACT CENTER COMPUTING ENVIRONMENTS</title><author>LAMPREA, Luis ; OÑATE LÓPEZ, José</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022140359A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>HANDLING RECORD CARRIERS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>PRESENTATION OF DATA</topic><topic>RECOGNITION OF DATA</topic><topic>RECORD CARRIERS</topic><topic>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LAMPREA, Luis</creatorcontrib><creatorcontrib>OÑATE LÓPEZ, José</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LAMPREA, Luis</au><au>OÑATE LÓPEZ, José</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEMS AND METHODS RELATED TO APPLIED ANOMALY DETECTION AND CONTACT CENTER COMPUTING ENVIRONMENTS</title><date>2022-06-30</date><risdate>2022</risdate><abstract>A system for detecting anomalies in metric data provided by one or more customers according to an embodiment includes at least one processor and at least one memory comprising a plurality of instructions stored thereon that, in response to execution by the at least one processor, causes the system to receive metric data indicative of a plurality of time-series based observations for a particular customer metric, to define, based on the metric data, a plurality of parameters to characterize one or more spheres each configured to capture a number of time- series based observations for the particular customer metric, and to generate, based on the plurality of parameters, the one or more spheres to determine coverage of the metric data within the one or more spheres and detect one or more anomalies in the metric data. L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un système de détection d'anomalies dans des données de métriques fournies par un ou plusieurs clients, qui comprend au moins un processeur et au moins une mémoire sur laquelle est stockée une pluralité d'instructions qui, en réponse à une exécution par le ou les processeurs, amène le système à recevoir des données de métriques indicatives d'une pluralité d'observations basées sur une série chronologique pour une métrique particulière de client, à définir, d'après les données de métriques, une pluralité de paramètres pour caractériser une ou plusieurs sphères dont chacune est configurée pour capturer une multiplicité d'observations basées sur une série chronologique pour la métrique de client considérée, et à générer, d'après la pluralité de paramètres, la ou les sphères pour déterminer la couverture des données de métriques à l'intérieur de la ou des sphères et détecter une ou plusieurs anomalies dans les données de métriques.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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