COUPON FOR TESTING QUALITY OF RELATED COMPONENT CARRIERS BY AUTOMATED QUALITY TEST APPARATUS
Coupon (200) for carrying out a quality test concerning related component carriers (256), wherein the coupon (200) comprises a base plate (202) configured as a layer stack of at least one electrically conductive layer structure (204) and/or at least one electrically insulating layer structure (206),...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | TITJUNG, Florian GRUBER, Irene SCHUTTING, Günter PACHER, Gernot SCHWAIGER, Jürgen SPITZER, Robert |
| description | Coupon (200) for carrying out a quality test concerning related component carriers (256), wherein the coupon (200) comprises a base plate (202) configured as a layer stack of at least one electrically conductive layer structure (204) and/or at least one electrically insulating layer structure (206), a handling area (208) on a first portion of the base plate (202), configured for handling the coupon (200) by a robotic handling unit (104) and being free of test targets (116) for the quality test, and a test area (212) on and/or in a second portion of the base plate (202) and comprising test targets (116) for the quality test.
L'invention concerne un coupon (200) pour effectuer un test de qualité concernant des supports de composants associés (256), le coupon (200) comprenant une plaque de base (202) configurée sous la forme d'un empilement de couches d'au moins une structure de couche électriquement conductrice (204) et/ou d'au moins une structure de couche électriquement isolante (206), une zone de manipulation (208) sur une première partie de la plaque de base (202), configurée pour manipuler le coupon (200) par une unité de manipulation robotique (104) et étant exempte de cibles de test (116) pour le test de qualité, et une zone de test (212) sur et/ou dans une seconde partie de la plaque de base (202) et comprenant des cibles de test (116) pour le test de qualité. |
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L'invention concerne un coupon (200) pour effectuer un test de qualité concernant des supports de composants associés (256), le coupon (200) comprenant une plaque de base (202) configurée sous la forme d'un empilement de couches d'au moins une structure de couche électriquement conductrice (204) et/ou d'au moins une structure de couche électriquement isolante (206), une zone de manipulation (208) sur une première partie de la plaque de base (202), configurée pour manipuler le coupon (200) par une unité de manipulation robotique (104) et étant exempte de cibles de test (116) pour le test de qualité, et une zone de test (212) sur et/ou dans une seconde partie de la plaque de base (202) et comprenant des cibles de test (116) pour le test de qualité.</description><language>eng ; fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220421&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022078891A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,309,781,886,25569,76552</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220421&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022078891A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TITJUNG, Florian</creatorcontrib><creatorcontrib>GRUBER, Irene</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHUTTING, Günter</creatorcontrib><creatorcontrib>PACHER, Gernot</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHWAIGER, Jürgen</creatorcontrib><creatorcontrib>SPITZER, Robert</creatorcontrib><title>COUPON FOR TESTING QUALITY OF RELATED COMPONENT CARRIERS BY AUTOMATED QUALITY TEST APPARATUS</title><description>Coupon (200) for carrying out a quality test concerning related component carriers (256), wherein the coupon (200) comprises a base plate (202) configured as a layer stack of at least one electrically conductive layer structure (204) and/or at least one electrically insulating layer structure (206), a handling area (208) on a first portion of the base plate (202), configured for handling the coupon (200) by a robotic handling unit (104) and being free of test targets (116) for the quality test, and a test area (212) on and/or in a second portion of the base plate (202) and comprising test targets (116) for the quality test.
L'invention concerne un coupon (200) pour effectuer un test de qualité concernant des supports de composants associés (256), le coupon (200) comprenant une plaque de base (202) configurée sous la forme d'un empilement de couches d'au moins une structure de couche électriquement conductrice (204) et/ou d'au moins une structure de couche électriquement isolante (206), une zone de manipulation (208) sur une première partie de la plaque de base (202), configurée pour manipuler le coupon (200) par une unité de manipulation robotique (104) et étant exempte de cibles de test (116) pour le test de qualité, et une zone de test (212) sur et/ou dans une seconde partie de la plaque de base (202) et comprenant des cibles de test (116) pour le test de qualité.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZIhx9g8N8PdTcPMPUghxDQ7x9HNXCAx19PEMiVTwd1MIcvVxDHF1UXD29wWqcvULUXB2DArydA0KVnCKVHAMDfH3BcvDtICMUHAMCHAMcgwJDeZhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGRkYG5hYWloaOhsbEqQIAuIQzwA</recordid><startdate>20220421</startdate><enddate>20220421</enddate><creator>TITJUNG, Florian</creator><creator>GRUBER, Irene</creator><creator>SCHUTTING, Günter</creator><creator>PACHER, Gernot</creator><creator>SCHWAIGER, Jürgen</creator><creator>SPITZER, Robert</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220421</creationdate><title>COUPON FOR TESTING QUALITY OF RELATED COMPONENT CARRIERS BY AUTOMATED QUALITY TEST APPARATUS</title><author>TITJUNG, Florian ; GRUBER, Irene ; SCHUTTING, Günter ; PACHER, Gernot ; SCHWAIGER, Jürgen ; SPITZER, Robert</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022078891A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TITJUNG, Florian</creatorcontrib><creatorcontrib>GRUBER, Irene</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHUTTING, Günter</creatorcontrib><creatorcontrib>PACHER, Gernot</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHWAIGER, Jürgen</creatorcontrib><creatorcontrib>SPITZER, Robert</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TITJUNG, Florian</au><au>GRUBER, Irene</au><au>SCHUTTING, Günter</au><au>PACHER, Gernot</au><au>SCHWAIGER, Jürgen</au><au>SPITZER, Robert</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>COUPON FOR TESTING QUALITY OF RELATED COMPONENT CARRIERS BY AUTOMATED QUALITY TEST APPARATUS</title><date>2022-04-21</date><risdate>2022</risdate><abstract>Coupon (200) for carrying out a quality test concerning related component carriers (256), wherein the coupon (200) comprises a base plate (202) configured as a layer stack of at least one electrically conductive layer structure (204) and/or at least one electrically insulating layer structure (206), a handling area (208) on a first portion of the base plate (202), configured for handling the coupon (200) by a robotic handling unit (104) and being free of test targets (116) for the quality test, and a test area (212) on and/or in a second portion of the base plate (202) and comprising test targets (116) for the quality test.
L'invention concerne un coupon (200) pour effectuer un test de qualité concernant des supports de composants associés (256), le coupon (200) comprenant une plaque de base (202) configurée sous la forme d'un empilement de couches d'au moins une structure de couche électriquement conductrice (204) et/ou d'au moins une structure de couche électriquement isolante (206), une zone de manipulation (208) sur une première partie de la plaque de base (202), configurée pour manipuler le coupon (200) par une unité de manipulation robotique (104) et étant exempte de cibles de test (116) pour le test de qualité, et une zone de test (212) sur et/ou dans une seconde partie de la plaque de base (202) et comprenant des cibles de test (116) pour le test de qualité.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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