HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY
A digital measuring device implemented on a photonic integrated circuit, the digital measuring device including a laser source configured to provide light, a first ring resonator configured to produce a first frequency comb of light from the laser source, wherein at least a portion of the first freq...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | MARRON, Joseph KENDRICK, Richard |
description | A digital measuring device implemented on a photonic integrated circuit, the digital measuring device including a laser source configured to provide light, a first ring resonator configured to produce a first frequency comb of light from the laser source, wherein at least a portion of the first frequency comb of light is directed at a moving object, a local oscillator configured to provide a reference beam, at least one waveguide structure configured to combine the reference beam with light reflected from the moving object to produce a measurement beam, a first multiplexer configured to split the measurement beam into a plurality of channels spaced in frequency, and a plurality of detectors configured to detect an intensity value of each channel of the plurality of channels to measure a distance between the digital measuring device and the moving object.
L'invention concerne un dispositif de mesure numérique mis en œuvre sur un circuit intégré photonique, le dispositif de mesure numérique comprenant une source laser configurée pour fournir de la lumière, un premier résonateur annulaire configuré pour produire un premier peigne de fréquences de lumière à partir de la source laser, au moins une portion du premier peigne de fréquences de lumière étant dirigée sur un objet mobile, un oscillateur local configuré pour fournir un faisceau de référence, au moins une structure de guide d'ondes configurée pour combiner le faisceau de référence avec la lumière réfléchie par l'objet mobile afin de produire un faisceau de mesure, un premier multiplexeur configuré pour diviser le faisceau de mesure en une pluralité de canaux espacés en fréquence, et une pluralité de détecteurs configurés pour détecter une valeur d'intensité de chaque canal de la pluralité de canaux afin de mesurer une distance entre le dispositif de mesure numérique et l'objet mobile. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2022035757A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2022035757A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2022035757A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZLD1cA1xDfJ3ifRzVQjw8A_x9_N0VvD0C3F1D3IMcXVRcPYMcg71DFFw8w9ScHQK9vcJDXFV8HUNCfL38XeP5GFgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgZGRgbGpuam5o6GxsSpAgAKjSsz</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY</title><source>esp@cenet</source><creator>MARRON, Joseph ; KENDRICK, Richard</creator><creatorcontrib>MARRON, Joseph ; KENDRICK, Richard</creatorcontrib><description>A digital measuring device implemented on a photonic integrated circuit, the digital measuring device including a laser source configured to provide light, a first ring resonator configured to produce a first frequency comb of light from the laser source, wherein at least a portion of the first frequency comb of light is directed at a moving object, a local oscillator configured to provide a reference beam, at least one waveguide structure configured to combine the reference beam with light reflected from the moving object to produce a measurement beam, a first multiplexer configured to split the measurement beam into a plurality of channels spaced in frequency, and a plurality of detectors configured to detect an intensity value of each channel of the plurality of channels to measure a distance between the digital measuring device and the moving object.
L'invention concerne un dispositif de mesure numérique mis en œuvre sur un circuit intégré photonique, le dispositif de mesure numérique comprenant une source laser configurée pour fournir de la lumière, un premier résonateur annulaire configuré pour produire un premier peigne de fréquences de lumière à partir de la source laser, au moins une portion du premier peigne de fréquences de lumière étant dirigée sur un objet mobile, un oscillateur local configuré pour fournir un faisceau de référence, au moins une structure de guide d'ondes configurée pour combiner le faisceau de référence avec la lumière réfléchie par l'objet mobile afin de produire un faisceau de mesure, un premier multiplexeur configuré pour diviser le faisceau de mesure en une pluralité de canaux espacés en fréquence, et une pluralité de détecteurs configurés pour détecter une valeur d'intensité de chaque canal de la pluralité de canaux afin de mesurer une distance entre le dispositif de mesure numérique et l'objet mobile.</description><language>eng ; fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220217&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022035757A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25555,76308</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220217&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2022035757A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MARRON, Joseph</creatorcontrib><creatorcontrib>KENDRICK, Richard</creatorcontrib><title>HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY</title><description>A digital measuring device implemented on a photonic integrated circuit, the digital measuring device including a laser source configured to provide light, a first ring resonator configured to produce a first frequency comb of light from the laser source, wherein at least a portion of the first frequency comb of light is directed at a moving object, a local oscillator configured to provide a reference beam, at least one waveguide structure configured to combine the reference beam with light reflected from the moving object to produce a measurement beam, a first multiplexer configured to split the measurement beam into a plurality of channels spaced in frequency, and a plurality of detectors configured to detect an intensity value of each channel of the plurality of channels to measure a distance between the digital measuring device and the moving object.
L'invention concerne un dispositif de mesure numérique mis en œuvre sur un circuit intégré photonique, le dispositif de mesure numérique comprenant une source laser configurée pour fournir de la lumière, un premier résonateur annulaire configuré pour produire un premier peigne de fréquences de lumière à partir de la source laser, au moins une portion du premier peigne de fréquences de lumière étant dirigée sur un objet mobile, un oscillateur local configuré pour fournir un faisceau de référence, au moins une structure de guide d'ondes configurée pour combiner le faisceau de référence avec la lumière réfléchie par l'objet mobile afin de produire un faisceau de mesure, un premier multiplexeur configuré pour diviser le faisceau de mesure en une pluralité de canaux espacés en fréquence, et une pluralité de détecteurs configurés pour détecter une valeur d'intensité de chaque canal de la pluralité de canaux afin de mesurer une distance entre le dispositif de mesure numérique et l'objet mobile.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLD1cA1xDfJ3ifRzVQjw8A_x9_N0VvD0C3F1D3IMcXVRcPYMcg71DFFw8w9ScHQK9vcJDXFV8HUNCfL38XeP5GFgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgZGRgbGpuam5o6GxsSpAgAKjSsz</recordid><startdate>20220217</startdate><enddate>20220217</enddate><creator>MARRON, Joseph</creator><creator>KENDRICK, Richard</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220217</creationdate><title>HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY</title><author>MARRON, Joseph ; KENDRICK, Richard</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2022035757A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2022</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MARRON, Joseph</creatorcontrib><creatorcontrib>KENDRICK, Richard</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MARRON, Joseph</au><au>KENDRICK, Richard</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY</title><date>2022-02-17</date><risdate>2022</risdate><abstract>A digital measuring device implemented on a photonic integrated circuit, the digital measuring device including a laser source configured to provide light, a first ring resonator configured to produce a first frequency comb of light from the laser source, wherein at least a portion of the first frequency comb of light is directed at a moving object, a local oscillator configured to provide a reference beam, at least one waveguide structure configured to combine the reference beam with light reflected from the moving object to produce a measurement beam, a first multiplexer configured to split the measurement beam into a plurality of channels spaced in frequency, and a plurality of detectors configured to detect an intensity value of each channel of the plurality of channels to measure a distance between the digital measuring device and the moving object.
L'invention concerne un dispositif de mesure numérique mis en œuvre sur un circuit intégré photonique, le dispositif de mesure numérique comprenant une source laser configurée pour fournir de la lumière, un premier résonateur annulaire configuré pour produire un premier peigne de fréquences de lumière à partir de la source laser, au moins une portion du premier peigne de fréquences de lumière étant dirigée sur un objet mobile, un oscillateur local configuré pour fournir un faisceau de référence, au moins une structure de guide d'ondes configurée pour combiner le faisceau de référence avec la lumière réfléchie par l'objet mobile afin de produire un faisceau de mesure, un premier multiplexeur configuré pour diviser le faisceau de mesure en une pluralité de canaux espacés en fréquence, et une pluralité de détecteurs configurés pour détecter une valeur d'intensité de chaque canal de la pluralité de canaux afin de mesurer une distance entre le dispositif de mesure numérique et l'objet mobile.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; fre |
recordid | cdi_epo_espacenet_WO2022035757A1 |
source | esp@cenet |
subjects | MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING |
title | HETERODYNE PHOTONIC INTEGRATED CIRCUIT FOR ABSOLUTE METROLOGY |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-15T07%3A13%3A12IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=MARRON,%20Joseph&rft.date=2022-02-17&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2022035757A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |