FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS
The present invention comprises: installing, inside a film-forming chamber (2a), at least a vapor deposition material and substrates (S); supplying a gas that does not change the composition of exhaust gas and/or the vapor deposition material to establish, for a first region (A) that includes the su...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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creator | MUROTANI, Hiroshi OHTAKI, Yoshiyuki MIYAUCHI, Mitsuhiro HASEGAWA, Tomokazu MATSUDAIRA, Takayuki |
description | The present invention comprises: installing, inside a film-forming chamber (2a), at least a vapor deposition material and substrates (S); supplying a gas that does not change the composition of exhaust gas and/or the vapor deposition material to establish, for a first region (A) that includes the substrates (S) inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of 0.05 to 100 Pa and to establish, for a second region (B) that includes the vapor deposition material inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of no more than 0.05 Pa; and, in this state, using vacuum deposition to vaporize the vapor deposition material in the second region (B) and form a film from the vapor deposition material that has been vaporized onto an object which is subject to deposition in the first region (A).
La présente invention comprend : l'installation, à l'intérieur d'une chambre de formation de film (2a), d'au moins un matériau de dépôt en phase vapeur et de substrats (S) ; la fourniture d'un gaz qui ne change pas la composition du gaz d'échappement et/ou du matériau de dépôt en phase vapeur pour établir, pour une première région (A) qui comprend les substrats (S) à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère de 0,05 à 100 Pa et pour établir, pour une seconde région (B) qui comprend le matériau de dépôt en phase vapeur à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère ne dépassant pas 0,05 Pa ; et, dans cet état, l'utilisation du dépôt sous vide pour vaporiser le matériau de dépôt en phase vapeur dans la seconde région (B) et former un film à partir du matériau de dépôt en phase vapeur qui a été vaporisé sur un objet qui est soumis à un dépôt dans la première région (A).
成膜室(2a)の内部に少なくとも蒸着材料と基板(S)を設置し、排気及び/又は蒸着材料の組成を変えないガスの供給により、前記成膜室(2a)の内部の前記基板(S)を含む第1領域(A)を0.05~100Paの雰囲気に設定し、前記成膜室(2a)の内部の前記蒸着材料を含む第2領域(B)を0.05Pa以下の雰囲気に設定し、この状態で、真空蒸着法により、第2領域(B)において蒸着材料を蒸発させ、第1領域(A)において被蒸着物に蒸発した蒸着材料を成膜する。 |
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La présente invention comprend : l'installation, à l'intérieur d'une chambre de formation de film (2a), d'au moins un matériau de dépôt en phase vapeur et de substrats (S) ; la fourniture d'un gaz qui ne change pas la composition du gaz d'échappement et/ou du matériau de dépôt en phase vapeur pour établir, pour une première région (A) qui comprend les substrats (S) à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère de 0,05 à 100 Pa et pour établir, pour une seconde région (B) qui comprend le matériau de dépôt en phase vapeur à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère ne dépassant pas 0,05 Pa ; et, dans cet état, l'utilisation du dépôt sous vide pour vaporiser le matériau de dépôt en phase vapeur dans la seconde région (B) et former un film à partir du matériau de dépôt en phase vapeur qui a été vaporisé sur un objet qui est soumis à un dépôt dans la première région (A).
成膜室(2a)の内部に少なくとも蒸着材料と基板(S)を設置し、排気及び/又は蒸着材料の組成を変えないガスの供給により、前記成膜室(2a)の内部の前記基板(S)を含む第1領域(A)を0.05~100Paの雰囲気に設定し、前記成膜室(2a)の内部の前記蒸着材料を含む第2領域(B)を0.05Pa以下の雰囲気に設定し、この状態で、真空蒸着法により、第2領域(B)において蒸着材料を蒸発させ、第1領域(A)において被蒸着物に蒸発した蒸着材料を成膜する。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210422&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2021075384A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25544,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210422&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2021075384A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MUROTANI, Hiroshi</creatorcontrib><creatorcontrib>OHTAKI, Yoshiyuki</creatorcontrib><creatorcontrib>MIYAUCHI, Mitsuhiro</creatorcontrib><creatorcontrib>HASEGAWA, Tomokazu</creatorcontrib><creatorcontrib>MATSUDAIRA, Takayuki</creatorcontrib><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><description>The present invention comprises: installing, inside a film-forming chamber (2a), at least a vapor deposition material and substrates (S); supplying a gas that does not change the composition of exhaust gas and/or the vapor deposition material to establish, for a first region (A) that includes the substrates (S) inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of 0.05 to 100 Pa and to establish, for a second region (B) that includes the vapor deposition material inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of no more than 0.05 Pa; and, in this state, using vacuum deposition to vaporize the vapor deposition material in the second region (B) and form a film from the vapor deposition material that has been vaporized onto an object which is subject to deposition in the first region (A).
La présente invention comprend : l'installation, à l'intérieur d'une chambre de formation de film (2a), d'au moins un matériau de dépôt en phase vapeur et de substrats (S) ; la fourniture d'un gaz qui ne change pas la composition du gaz d'échappement et/ou du matériau de dépôt en phase vapeur pour établir, pour une première région (A) qui comprend les substrats (S) à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère de 0,05 à 100 Pa et pour établir, pour une seconde région (B) qui comprend le matériau de dépôt en phase vapeur à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère ne dépassant pas 0,05 Pa ; et, dans cet état, l'utilisation du dépôt sous vide pour vaporiser le matériau de dépôt en phase vapeur dans la seconde région (B) et former un film à partir du matériau de dépôt en phase vapeur qui a été vaporisé sur un objet qui est soumis à un dépôt dans la première région (A).
成膜室(2a)の内部に少なくとも蒸着材料と基板(S)を設置し、排気及び/又は蒸着材料の組成を変えないガスの供給により、前記成膜室(2a)の内部の前記基板(S)を含む第1領域(A)を0.05~100Paの雰囲気に設定し、前記成膜室(2a)の内部の前記蒸着材料を含む第2領域(B)を0.05Pa以下の雰囲気に設定し、この状態で、真空蒸着法により、第2領域(B)において蒸着材料を蒸発させ、第1領域(A)において被蒸着物に蒸発した蒸着材料を成膜する。</description><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNBz8_Tx1XXzD_L19HNX8HUN8fB3UXD0c1FAEXcMCHAMcgwJDeZhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGRoYG5qbGFiaOhsbEqQIAb0ImmA</recordid><startdate>20210422</startdate><enddate>20210422</enddate><creator>MUROTANI, Hiroshi</creator><creator>OHTAKI, Yoshiyuki</creator><creator>MIYAUCHI, Mitsuhiro</creator><creator>HASEGAWA, Tomokazu</creator><creator>MATSUDAIRA, Takayuki</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210422</creationdate><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><author>MUROTANI, Hiroshi ; OHTAKI, Yoshiyuki ; MIYAUCHI, Mitsuhiro ; HASEGAWA, Tomokazu ; MATSUDAIRA, Takayuki</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2021075384A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; jpn</language><creationdate>2021</creationdate><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MUROTANI, Hiroshi</creatorcontrib><creatorcontrib>OHTAKI, Yoshiyuki</creatorcontrib><creatorcontrib>MIYAUCHI, Mitsuhiro</creatorcontrib><creatorcontrib>HASEGAWA, Tomokazu</creatorcontrib><creatorcontrib>MATSUDAIRA, Takayuki</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MUROTANI, Hiroshi</au><au>OHTAKI, Yoshiyuki</au><au>MIYAUCHI, Mitsuhiro</au><au>HASEGAWA, Tomokazu</au><au>MATSUDAIRA, Takayuki</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>FILM-FORMING METHOD AND FILM-FORMING APPARATUS</title><date>2021-04-22</date><risdate>2021</risdate><abstract>The present invention comprises: installing, inside a film-forming chamber (2a), at least a vapor deposition material and substrates (S); supplying a gas that does not change the composition of exhaust gas and/or the vapor deposition material to establish, for a first region (A) that includes the substrates (S) inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of 0.05 to 100 Pa and to establish, for a second region (B) that includes the vapor deposition material inside the film-forming chamber (2a), an atmosphere of no more than 0.05 Pa; and, in this state, using vacuum deposition to vaporize the vapor deposition material in the second region (B) and form a film from the vapor deposition material that has been vaporized onto an object which is subject to deposition in the first region (A).
La présente invention comprend : l'installation, à l'intérieur d'une chambre de formation de film (2a), d'au moins un matériau de dépôt en phase vapeur et de substrats (S) ; la fourniture d'un gaz qui ne change pas la composition du gaz d'échappement et/ou du matériau de dépôt en phase vapeur pour établir, pour une première région (A) qui comprend les substrats (S) à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère de 0,05 à 100 Pa et pour établir, pour une seconde région (B) qui comprend le matériau de dépôt en phase vapeur à l'intérieur de la chambre de formation de film (2a), une atmosphère ne dépassant pas 0,05 Pa ; et, dans cet état, l'utilisation du dépôt sous vide pour vaporiser le matériau de dépôt en phase vapeur dans la seconde région (B) et former un film à partir du matériau de dépôt en phase vapeur qui a été vaporisé sur un objet qui est soumis à un dépôt dans la première région (A).
成膜室(2a)の内部に少なくとも蒸着材料と基板(S)を設置し、排気及び/又は蒸着材料の組成を変えないガスの供給により、前記成膜室(2a)の内部の前記基板(S)を含む第1領域(A)を0.05~100Paの雰囲気に設定し、前記成膜室(2a)の内部の前記蒸着材料を含む第2領域(B)を0.05Pa以下の雰囲気に設定し、この状態で、真空蒸着法により、第2領域(B)において蒸着材料を蒸発させ、第1領域(A)において被蒸着物に蒸発した蒸着材料を成膜する。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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