METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY

Methods, apparatus, systems and articles of manufacture to improve job scheduling efficiency are disclosed. An example apparatus includes a feature generator to import default values of features corresponding to a first model type, a label trainer to train labels corresponding to the first model typ...

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Hauptverfasser: KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh, WHITNEY, Michael, SEMA, Nathaniel, DOSHI, Kshitij A
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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container_end_page
container_issue
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creator KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh
WHITNEY, Michael
SEMA, Nathaniel
DOSHI, Kshitij A
description Methods, apparatus, systems and articles of manufacture to improve job scheduling efficiency are disclosed. An example apparatus includes a feature generator to import default values of features corresponding to a first model type, a label trainer to train labels corresponding to the first model type, and a model evaluator to determine an accuracy metric of the first model type based on a first prediction corresponding to the default features, and update the features from the default values to updated values when the accuracy metric does not satisfy an accuracy threshold. L'invention concerne des procédés, un appareil, des systèmes et des articles manufacturés pour améliorer l'efficacité de planification de travail. Un appareil donné à titre d'exemple comprend un générateur de caractéristiques pour importer des valeurs par défaut de caractéristiques correspondant à un premier type de modèle, un dispositif de formation d'étiquette pour former des étiquettes correspondant au premier type de modèle, et un évaluateur de modèle pour déterminer une métrique de précision du premier type de modèle sur la base d'une première prédiction correspondant aux caractéristiques par défaut, et mettre à jour les caractéristiques à partir des valeurs par défaut à des valeurs mises à jour lorsque la mesure de précision ne satisfait pas à un seuil de précision.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2021026481A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2021026481A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2021026481A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNyr0KwjAUQOEuDqK-wwVXhbaKuF7TGxtpfkhulIJQisRJtFDfHx18AKfzDWeaXTVxbauwgtAGJv0FelaioQBWgkYTJQqOngBNBegceuQYgC0o7bw9E5zsAYKoqYqNMkcgKZVQZEQ7zyb3_jGmxa-zbCmJRb1Ow6tL49Df0jO9u4st87LIy912X2Cx-e_6AHyiMzE</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY</title><source>esp@cenet</source><creator>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh ; WHITNEY, Michael ; SEMA, Nathaniel ; DOSHI, Kshitij A</creator><creatorcontrib>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh ; WHITNEY, Michael ; SEMA, Nathaniel ; DOSHI, Kshitij A</creatorcontrib><description>Methods, apparatus, systems and articles of manufacture to improve job scheduling efficiency are disclosed. An example apparatus includes a feature generator to import default values of features corresponding to a first model type, a label trainer to train labels corresponding to the first model type, and a model evaluator to determine an accuracy metric of the first model type based on a first prediction corresponding to the default features, and update the features from the default values to updated values when the accuracy metric does not satisfy an accuracy threshold. L'invention concerne des procédés, un appareil, des systèmes et des articles manufacturés pour améliorer l'efficacité de planification de travail. Un appareil donné à titre d'exemple comprend un générateur de caractéristiques pour importer des valeurs par défaut de caractéristiques correspondant à un premier type de modèle, un dispositif de formation d'étiquette pour former des étiquettes correspondant au premier type de modèle, et un évaluateur de modèle pour déterminer une métrique de précision du premier type de modèle sur la base d'une première prédiction correspondant aux caractéristiques par défaut, et mettre à jour les caractéristiques à partir des valeurs par défaut à des valeurs mises à jour lorsque la mesure de précision ne satisfait pas à un seuil de précision.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES ; PHYSICS ; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210211&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2021026481A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210211&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2021026481A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh</creatorcontrib><creatorcontrib>WHITNEY, Michael</creatorcontrib><creatorcontrib>SEMA, Nathaniel</creatorcontrib><creatorcontrib>DOSHI, Kshitij A</creatorcontrib><title>METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY</title><description>Methods, apparatus, systems and articles of manufacture to improve job scheduling efficiency are disclosed. An example apparatus includes a feature generator to import default values of features corresponding to a first model type, a label trainer to train labels corresponding to the first model type, and a model evaluator to determine an accuracy metric of the first model type based on a first prediction corresponding to the default features, and update the features from the default values to updated values when the accuracy metric does not satisfy an accuracy threshold. L'invention concerne des procédés, un appareil, des systèmes et des articles manufacturés pour améliorer l'efficacité de planification de travail. Un appareil donné à titre d'exemple comprend un générateur de caractéristiques pour importer des valeurs par défaut de caractéristiques correspondant à un premier type de modèle, un dispositif de formation d'étiquette pour former des étiquettes correspondant au premier type de modèle, et un évaluateur de modèle pour déterminer une métrique de précision du premier type de modèle sur la base d'une première prédiction correspondant aux caractéristiques par défaut, et mettre à jour les caractéristiques à partir des valeurs par défaut à des valeurs mises à jour lorsque la mesure de précision ne satisfait pas à un seuil de précision.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyr0KwjAUQOEuDqK-wwVXhbaKuF7TGxtpfkhulIJQisRJtFDfHx18AKfzDWeaXTVxbauwgtAGJv0FelaioQBWgkYTJQqOngBNBegceuQYgC0o7bw9E5zsAYKoqYqNMkcgKZVQZEQ7zyb3_jGmxa-zbCmJRb1Ow6tL49Df0jO9u4st87LIy912X2Cx-e_6AHyiMzE</recordid><startdate>20210211</startdate><enddate>20210211</enddate><creator>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh</creator><creator>WHITNEY, Michael</creator><creator>SEMA, Nathaniel</creator><creator>DOSHI, Kshitij A</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210211</creationdate><title>METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY</title><author>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh ; WHITNEY, Michael ; SEMA, Nathaniel ; DOSHI, Kshitij A</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2021026481A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2021</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh</creatorcontrib><creatorcontrib>WHITNEY, Michael</creatorcontrib><creatorcontrib>SEMA, Nathaniel</creatorcontrib><creatorcontrib>DOSHI, Kshitij A</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KHALIGH, Ehsan Hosseinzadeh</au><au>WHITNEY, Michael</au><au>SEMA, Nathaniel</au><au>DOSHI, Kshitij A</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY</title><date>2021-02-11</date><risdate>2021</risdate><abstract>Methods, apparatus, systems and articles of manufacture to improve job scheduling efficiency are disclosed. An example apparatus includes a feature generator to import default values of features corresponding to a first model type, a label trainer to train labels corresponding to the first model type, and a model evaluator to determine an accuracy metric of the first model type based on a first prediction corresponding to the default features, and update the features from the default values to updated values when the accuracy metric does not satisfy an accuracy threshold. L'invention concerne des procédés, un appareil, des systèmes et des articles manufacturés pour améliorer l'efficacité de planification de travail. Un appareil donné à titre d'exemple comprend un générateur de caractéristiques pour importer des valeurs par défaut de caractéristiques correspondant à un premier type de modèle, un dispositif de formation d'étiquette pour former des étiquettes correspondant au premier type de modèle, et un évaluateur de modèle pour déterminer une métrique de précision du premier type de modèle sur la base d'une première prédiction correspondant aux caractéristiques par défaut, et mettre à jour les caractéristiques à partir des valeurs par défaut à des valeurs mises à jour lorsque la mesure de précision ne satisfait pas à un seuil de précision.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2021026481A1
source esp@cenet
subjects CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES
PHYSICS
SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
title METHODS, SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE AND APPARATUS TO IMPROVE JOB SCHEDULING EFFICIENCY
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-20T09%3A45%3A07IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=KHALIGH,%20Ehsan%20Hosseinzadeh&rft.date=2021-02-11&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2021026481A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true