SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTION OF COMPONENTS WITH ROTATIONAL SYMMETRY

Systems and methods for inspecting an object(200) having n-fold rotational symmetry are disclosed. An aspect of the system comprises of an object mount (120) configured to support the object (200). The system also comprises of an imager (140)configured to capture images (152) of the object through one or more image capturing devices(142, 144, 146, 148). A controller (130) is configured to control the capturing of images of the object by controlling the imager to capture images of the object at an initial orientation and at subsequent orientations which are rotationally displaced through a predefined angle from the previous orientation. The system also comprises of a database (160) for storing the captured images of the object and an image processor (180) configured to analyze the captured images and identify anomalies in the object. L'invention concerne des systèmes et des procédés d'inspection d'un objet (200) ayant une symétrie rotationnelle de n fois. Un aspect du système fait appel à un support (120) d'objet conçu pour supporter l'objet (200). Le système comprend également un imageur (140) conçu pour capturer des images (152) de l'objet par l'intermédiaire d'un ou de plusieurs dispositifs de capture d'image (142, 144, 146, 148). Un dispositif de commande (130) est conçu pour commander la capture d'images de l'objet par commande de l'imageur pour capturer des images de l'objet à une orientation initiale et à des orientations ultérieures qui sont décalées en rotation d'un angle prédéfini par rapport à l'orientation précédente. Le système comprend également une base de données (160) servant à mémoriser les images capturées de l'objet et un processeur d'images (180) conçu pour analyser les images capturées et pour identifier des anomalies dans l'objet.