PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING

A protective layer is formed over a copper seed layer on a semiconductor substrate prior to electroplating. The protective layer is capable of protecting the copper seed layer from oxidation and from dissolution in an electrolyte during initial phases of electroplating. The protective layer, in some...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ZHOU, Jian, ZHU, Huanfeng, MAJID, Tariq, REID, Jonathan David
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator ZHOU, Jian
ZHU, Huanfeng
MAJID, Tariq
REID, Jonathan David
description A protective layer is formed over a copper seed layer on a semiconductor substrate prior to electroplating. The protective layer is capable of protecting the copper seed layer from oxidation and from dissolution in an electrolyte during initial phases of electroplating. The protective layer, in some embodiments, prevents the copper seed layer from contacting atmosphere, and from being oxidized by atmospheric oxygen and/or moisture. The protective layer contains a metal that is less noble than copper (e.g., cobalt), where the metal can be in an oxidized form that is readily soluble in a plating liquid. In one embodiment a protective cobalt layer is formed by depositing cobalt metal by chemical vapor deposition over copper seed layer without exposing the copper seed layer to atmosphere, followed by subsequent oxidation of cobalt to cobalt oxide that occurs after the substrate is exposed to atmosphere. The resulting protective layer is dissolved during electroplating. Selon l'invention, une couche protectrice est formée au-dessus d'une couche germe de cuivre sur un substrat semi-conducteur avant dépôt électrolytique. La couche protectrice peut protéger la couche germe de cuivre contre l'oxydation et contre la dissolution dans un électrolyte pendant des phases initiales du dépôt électrolytique. Dans certains modes de réalisation, la couche protectrice empêche la couche germe de cuivre d'entrer en contact avec l'atmosphère, et d'être oxydée par l'oxygène et/ou l'humidité atmosphériques. La couche protectrice contient un métal qui est moins noble que le cuivre (par exemple, du cobalt), le métal pouvant être sous une forme oxydée qui est facilement soluble dans un liquide de dépôt électrolytique. Dans un mode de réalisation, une couche de cobalt protectrice est formée par dépôt de cobalt métallique par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) sur une couche germe de cuivre sans exposer la couche germe de cuivre à l'atmosphère, suivi d'une oxydation subséquente du cobalt en oxyde de cobalt qui se produit après que le substrat a été exposé à l'atmosphère. La couche protectrice ainsi obtenue est dissoute pendant le dépôt électrolytique.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2020223130A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2020223130A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2020223130A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNjL0KwjAUhbM4iPoOF5yFtnmCkNxoIMkt-VGcSpU4iRbq-2MQ3eUM33C-c5bs0gdKKJMhD6QhIiqw4owhgsrB-D2grXUghT1F8_McJmEjGF8XzkjyKstEARQejURwwmctZPo8rNniNt7nsvlyxbYakzzsyvQcyjyN1_Ior-FEXVPT8ZY3ouX_WW_qtDUu</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING</title><source>esp@cenet</source><creator>ZHOU, Jian ; ZHU, Huanfeng ; MAJID, Tariq ; REID, Jonathan David</creator><creatorcontrib>ZHOU, Jian ; ZHU, Huanfeng ; MAJID, Tariq ; REID, Jonathan David</creatorcontrib><description>A protective layer is formed over a copper seed layer on a semiconductor substrate prior to electroplating. The protective layer is capable of protecting the copper seed layer from oxidation and from dissolution in an electrolyte during initial phases of electroplating. The protective layer, in some embodiments, prevents the copper seed layer from contacting atmosphere, and from being oxidized by atmospheric oxygen and/or moisture. The protective layer contains a metal that is less noble than copper (e.g., cobalt), where the metal can be in an oxidized form that is readily soluble in a plating liquid. In one embodiment a protective cobalt layer is formed by depositing cobalt metal by chemical vapor deposition over copper seed layer without exposing the copper seed layer to atmosphere, followed by subsequent oxidation of cobalt to cobalt oxide that occurs after the substrate is exposed to atmosphere. The resulting protective layer is dissolved during electroplating. Selon l'invention, une couche protectrice est formée au-dessus d'une couche germe de cuivre sur un substrat semi-conducteur avant dépôt électrolytique. La couche protectrice peut protéger la couche germe de cuivre contre l'oxydation et contre la dissolution dans un électrolyte pendant des phases initiales du dépôt électrolytique. Dans certains modes de réalisation, la couche protectrice empêche la couche germe de cuivre d'entrer en contact avec l'atmosphère, et d'être oxydée par l'oxygène et/ou l'humidité atmosphériques. La couche protectrice contient un métal qui est moins noble que le cuivre (par exemple, du cobalt), le métal pouvant être sous une forme oxydée qui est facilement soluble dans un liquide de dépôt électrolytique. Dans un mode de réalisation, une couche de cobalt protectrice est formée par dépôt de cobalt métallique par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) sur une couche germe de cuivre sans exposer la couche germe de cuivre à l'atmosphère, suivi d'une oxydation subséquente du cobalt en oxyde de cobalt qui se produit après que le substrat a été exposé à l'atmosphère. La couche protectrice ainsi obtenue est dissoute pendant le dépôt électrolytique.</description><language>eng ; fre</language><subject>APPARATUS THEREFOR ; BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; ELECTROFORMING ; ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201105&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2020223130A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76294</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201105&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2020223130A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ZHOU, Jian</creatorcontrib><creatorcontrib>ZHU, Huanfeng</creatorcontrib><creatorcontrib>MAJID, Tariq</creatorcontrib><creatorcontrib>REID, Jonathan David</creatorcontrib><title>PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING</title><description>A protective layer is formed over a copper seed layer on a semiconductor substrate prior to electroplating. The protective layer is capable of protecting the copper seed layer from oxidation and from dissolution in an electrolyte during initial phases of electroplating. The protective layer, in some embodiments, prevents the copper seed layer from contacting atmosphere, and from being oxidized by atmospheric oxygen and/or moisture. The protective layer contains a metal that is less noble than copper (e.g., cobalt), where the metal can be in an oxidized form that is readily soluble in a plating liquid. In one embodiment a protective cobalt layer is formed by depositing cobalt metal by chemical vapor deposition over copper seed layer without exposing the copper seed layer to atmosphere, followed by subsequent oxidation of cobalt to cobalt oxide that occurs after the substrate is exposed to atmosphere. The resulting protective layer is dissolved during electroplating. Selon l'invention, une couche protectrice est formée au-dessus d'une couche germe de cuivre sur un substrat semi-conducteur avant dépôt électrolytique. La couche protectrice peut protéger la couche germe de cuivre contre l'oxydation et contre la dissolution dans un électrolyte pendant des phases initiales du dépôt électrolytique. Dans certains modes de réalisation, la couche protectrice empêche la couche germe de cuivre d'entrer en contact avec l'atmosphère, et d'être oxydée par l'oxygène et/ou l'humidité atmosphériques. La couche protectrice contient un métal qui est moins noble que le cuivre (par exemple, du cobalt), le métal pouvant être sous une forme oxydée qui est facilement soluble dans un liquide de dépôt électrolytique. Dans un mode de réalisation, une couche de cobalt protectrice est formée par dépôt de cobalt métallique par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) sur une couche germe de cuivre sans exposer la couche germe de cuivre à l'atmosphère, suivi d'une oxydation subséquente du cobalt en oxyde de cobalt qui se produit après que le substrat a été exposé à l'atmosphère. La couche protectrice ainsi obtenue est dissoute pendant le dépôt électrolytique.</description><subject>APPARATUS THEREFOR</subject><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>ELECTROFORMING</subject><subject>ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjL0KwjAUhbM4iPoOF5yFtnmCkNxoIMkt-VGcSpU4iRbq-2MQ3eUM33C-c5bs0gdKKJMhD6QhIiqw4owhgsrB-D2grXUghT1F8_McJmEjGF8XzkjyKstEARQejURwwmctZPo8rNniNt7nsvlyxbYakzzsyvQcyjyN1_Ior-FEXVPT8ZY3ouX_WW_qtDUu</recordid><startdate>20201105</startdate><enddate>20201105</enddate><creator>ZHOU, Jian</creator><creator>ZHU, Huanfeng</creator><creator>MAJID, Tariq</creator><creator>REID, Jonathan David</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20201105</creationdate><title>PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING</title><author>ZHOU, Jian ; ZHU, Huanfeng ; MAJID, Tariq ; REID, Jonathan David</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2020223130A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2020</creationdate><topic>APPARATUS THEREFOR</topic><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>ELECTROFORMING</topic><topic>ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ZHOU, Jian</creatorcontrib><creatorcontrib>ZHU, Huanfeng</creatorcontrib><creatorcontrib>MAJID, Tariq</creatorcontrib><creatorcontrib>REID, Jonathan David</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ZHOU, Jian</au><au>ZHU, Huanfeng</au><au>MAJID, Tariq</au><au>REID, Jonathan David</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING</title><date>2020-11-05</date><risdate>2020</risdate><abstract>A protective layer is formed over a copper seed layer on a semiconductor substrate prior to electroplating. The protective layer is capable of protecting the copper seed layer from oxidation and from dissolution in an electrolyte during initial phases of electroplating. The protective layer, in some embodiments, prevents the copper seed layer from contacting atmosphere, and from being oxidized by atmospheric oxygen and/or moisture. The protective layer contains a metal that is less noble than copper (e.g., cobalt), where the metal can be in an oxidized form that is readily soluble in a plating liquid. In one embodiment a protective cobalt layer is formed by depositing cobalt metal by chemical vapor deposition over copper seed layer without exposing the copper seed layer to atmosphere, followed by subsequent oxidation of cobalt to cobalt oxide that occurs after the substrate is exposed to atmosphere. The resulting protective layer is dissolved during electroplating. Selon l'invention, une couche protectrice est formée au-dessus d'une couche germe de cuivre sur un substrat semi-conducteur avant dépôt électrolytique. La couche protectrice peut protéger la couche germe de cuivre contre l'oxydation et contre la dissolution dans un électrolyte pendant des phases initiales du dépôt électrolytique. Dans certains modes de réalisation, la couche protectrice empêche la couche germe de cuivre d'entrer en contact avec l'atmosphère, et d'être oxydée par l'oxygène et/ou l'humidité atmosphériques. La couche protectrice contient un métal qui est moins noble que le cuivre (par exemple, du cobalt), le métal pouvant être sous une forme oxydée qui est facilement soluble dans un liquide de dépôt électrolytique. Dans un mode de réalisation, une couche de cobalt protectrice est formée par dépôt de cobalt métallique par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) sur une couche germe de cuivre sans exposer la couche germe de cuivre à l'atmosphère, suivi d'une oxydation subséquente du cobalt en oxyde de cobalt qui se produit après que le substrat a été exposé à l'atmosphère. La couche protectrice ainsi obtenue est dissoute pendant le dépôt électrolytique.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2020223130A1
source esp@cenet
subjects APPARATUS THEREFOR
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
CHEMICAL SURFACE TREATMENT
CHEMISTRY
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL
COATING METALLIC MATERIAL
DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
ELECTROFORMING
ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES
INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL
METALLURGY
PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS
SEMICONDUCTOR DEVICES
SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION
title PROTECTION OF SEED LAYERS DURING ELECTRODEPOSITION OF METALS IN SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-23T10%3A53%3A00IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ZHOU,%20Jian&rft.date=2020-11-05&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2020223130A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true