NANOWIRE INK PERFORMANCE CORRELATION TO NANOWIRE DIMENSION

A method for predicting at least one performance property of a transparent conductive film to be made from an ink containing nanowires prior to making the transparent conductive film. The method includes obtaining a nanowire population from the ink for analysis. The method includes determining at least one of lengths and diameters for all the nanowires within the population from the ink. The method includes comparing the determined at least one of lengths and diameters to a value index that is correlated to the at least one performance property of the to-be-made transparent conductive film. L'invention concerne un procédé de prédiction d'au moins une propriété de performance d'un film conducteur transparent à fabriquer à partir d'une encre contenant des nanofils avant la fabrication du film conducteur transparent. Le procédé comprend l'obtention d'une population de nanofils à partir de l'encre pour analyse. Le procédé consiste à déterminer au moins un paramètre parmi les longueurs et les diamètres pour tous les nanofils à l'intérieur de la population à partir de l'encre. Le procédé consiste à comparer le ou les paramètres parmi les longueurs et diamètres déterminés à un indice de valeur qui est corrélé à la ou aux propriétés de performance du film conducteur transparent à fabriquer.