AN APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING PHOTOLUMINESCENT LIGHT EMITTED FROM A SAMPLE
The present invention provides an apparatus for detecting photoluminescent light emitted from a sample, said apparatus (200; 300) comprising at least one light source (210; 310, 318), which is configured to emit light of a first and a second wavelength towards a sample comprising photoluminescent pa...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | VAN DORPE, Pol JAMES SHIRLEY, Finub |
| description | The present invention provides an apparatus for detecting photoluminescent light emitted from a sample, said apparatus (200; 300) comprising at least one light source (210; 310, 318), which is configured to emit light of a first and a second wavelength towards a sample comprising photoluminescent particles, wherein said first wavelength is an excitation wavelength for inducing photoluminescent light from said photoluminescent particles, and wherein said second wavelength is longer than said first wavelength and for gathering background noise information from said sample. The apparatus further comprises a photo-detector (206) for detecting light incident on the photo-detector (206); and an interference filter (204; 304) arranged on the photo-detector (206), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively collect and transmit light towards the photo-detector (206) based on an angle of incidence of the light towards the interference filter (204; 304), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively transmit supercritical angle light from the sample towards the photo-detector (206) and suppress undercritical angle light from the sample.
La présente invention concerne un appareil de détection d'une lumière photoluminescente émise par un échantillon, ledit appareil (200 ; 300) comprenant au moins une source de lumière (210 ; 310, 318), qui est conçue pour émettre de la lumière d'une première et d'une seconde longueur d'onde vers un échantillon comprenant des particules photoluminescentes, ladite première longueur d'onde étant une longueur d'onde d'excitation pour l'induction d'une lumière photoluminescente à partir desdites particules photoluminescentes, et ladite seconde longueur d'onde étant plus longue que ladite première longueur d'onde et servant à recueillir des informations de bruit de fond à partir dudit échantillon. L'appareil comprend en outre un photo-détecteur (206), conçu pour détecter une lumière incidente sur le photo-détecteur (206) ; et un filtre d'interférence (204 ; 304) agencé sur le photo-détecteur (206), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour recueillir et transmettre sélectivement la lumière vers le photo-détecteur (206) sur la base d'un angle d'incidence de la lumière en direction du filtre d'interférence (204 304), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour transmettre sélectivement la lumière émise selon des angles supercritiques depuis l'échantillon vers le photo |
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La présente invention concerne un appareil de détection d'une lumière photoluminescente émise par un échantillon, ledit appareil (200 ; 300) comprenant au moins une source de lumière (210 ; 310, 318), qui est conçue pour émettre de la lumière d'une première et d'une seconde longueur d'onde vers un échantillon comprenant des particules photoluminescentes, ladite première longueur d'onde étant une longueur d'onde d'excitation pour l'induction d'une lumière photoluminescente à partir desdites particules photoluminescentes, et ladite seconde longueur d'onde étant plus longue que ladite première longueur d'onde et servant à recueillir des informations de bruit de fond à partir dudit échantillon. L'appareil comprend en outre un photo-détecteur (206), conçu pour détecter une lumière incidente sur le photo-détecteur (206) ; et un filtre d'interférence (204 ; 304) agencé sur le photo-détecteur (206), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour recueillir et transmettre sélectivement la lumière vers le photo-détecteur (206) sur la base d'un angle d'incidence de la lumière en direction du filtre d'interférence (204 304), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour transmettre sélectivement la lumière émise selon des angles supercritiques depuis l'échantillon vers le photo-détecteur (206) et supprimer la lumière émise selon des angles sous-critiques depuis l'échantillon.</description><language>eng ; fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200910&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2020178004A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200910&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2020178004A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>VAN DORPE, Pol</creatorcontrib><creatorcontrib>JAMES SHIRLEY, Finub</creatorcontrib><title>AN APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING PHOTOLUMINESCENT LIGHT EMITTED FROM A SAMPLE</title><description>The present invention provides an apparatus for detecting photoluminescent light emitted from a sample, said apparatus (200; 300) comprising at least one light source (210; 310, 318), which is configured to emit light of a first and a second wavelength towards a sample comprising photoluminescent particles, wherein said first wavelength is an excitation wavelength for inducing photoluminescent light from said photoluminescent particles, and wherein said second wavelength is longer than said first wavelength and for gathering background noise information from said sample. The apparatus further comprises a photo-detector (206) for detecting light incident on the photo-detector (206); and an interference filter (204; 304) arranged on the photo-detector (206), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively collect and transmit light towards the photo-detector (206) based on an angle of incidence of the light towards the interference filter (204; 304), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively transmit supercritical angle light from the sample towards the photo-detector (206) and suppress undercritical angle light from the sample.
La présente invention concerne un appareil de détection d'une lumière photoluminescente émise par un échantillon, ledit appareil (200 ; 300) comprenant au moins une source de lumière (210 ; 310, 318), qui est conçue pour émettre de la lumière d'une première et d'une seconde longueur d'onde vers un échantillon comprenant des particules photoluminescentes, ladite première longueur d'onde étant une longueur d'onde d'excitation pour l'induction d'une lumière photoluminescente à partir desdites particules photoluminescentes, et ladite seconde longueur d'onde étant plus longue que ladite première longueur d'onde et servant à recueillir des informations de bruit de fond à partir dudit échantillon. L'appareil comprend en outre un photo-détecteur (206), conçu pour détecter une lumière incidente sur le photo-détecteur (206) ; et un filtre d'interférence (204 ; 304) agencé sur le photo-détecteur (206), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour recueillir et transmettre sélectivement la lumière vers le photo-détecteur (206) sur la base d'un angle d'incidence de la lumière en direction du filtre d'interférence (204 304), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour transmettre sélectivement la lumière émise selon des angles supercritiques depuis l'échantillon vers le photo-détecteur (206) et supprimer la lumière émise selon des angles sous-critiques depuis l'échantillon.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyr0KwjAQAOAsDqK-w4GzkFZB1yO5NoH8kVxxLEXiJFqo748OPoDTt3xrkTEApoQZeSiAQYMnNlFDFzNoYlJsQw_JRI5u8DZQURQYnO0NA3nLTN-coweEgj452orVfXosdfdzI_YdsTKHOr_GuszTrT7re7zGVrayOV-kPGFz_G99AH3FMFc</recordid><startdate>20200910</startdate><enddate>20200910</enddate><creator>VAN DORPE, Pol</creator><creator>JAMES SHIRLEY, Finub</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200910</creationdate><title>AN APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING PHOTOLUMINESCENT LIGHT EMITTED FROM A SAMPLE</title><author>VAN DORPE, Pol ; JAMES SHIRLEY, Finub</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2020178004A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2020</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>VAN DORPE, Pol</creatorcontrib><creatorcontrib>JAMES SHIRLEY, Finub</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>VAN DORPE, Pol</au><au>JAMES SHIRLEY, Finub</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>AN APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING PHOTOLUMINESCENT LIGHT EMITTED FROM A SAMPLE</title><date>2020-09-10</date><risdate>2020</risdate><abstract>The present invention provides an apparatus for detecting photoluminescent light emitted from a sample, said apparatus (200; 300) comprising at least one light source (210; 310, 318), which is configured to emit light of a first and a second wavelength towards a sample comprising photoluminescent particles, wherein said first wavelength is an excitation wavelength for inducing photoluminescent light from said photoluminescent particles, and wherein said second wavelength is longer than said first wavelength and for gathering background noise information from said sample. The apparatus further comprises a photo-detector (206) for detecting light incident on the photo-detector (206); and an interference filter (204; 304) arranged on the photo-detector (206), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively collect and transmit light towards the photo-detector (206) based on an angle of incidence of the light towards the interference filter (204; 304), wherein the interference filter (204; 304) is configured to selectively transmit supercritical angle light from the sample towards the photo-detector (206) and suppress undercritical angle light from the sample.
La présente invention concerne un appareil de détection d'une lumière photoluminescente émise par un échantillon, ledit appareil (200 ; 300) comprenant au moins une source de lumière (210 ; 310, 318), qui est conçue pour émettre de la lumière d'une première et d'une seconde longueur d'onde vers un échantillon comprenant des particules photoluminescentes, ladite première longueur d'onde étant une longueur d'onde d'excitation pour l'induction d'une lumière photoluminescente à partir desdites particules photoluminescentes, et ladite seconde longueur d'onde étant plus longue que ladite première longueur d'onde et servant à recueillir des informations de bruit de fond à partir dudit échantillon. L'appareil comprend en outre un photo-détecteur (206), conçu pour détecter une lumière incidente sur le photo-détecteur (206) ; et un filtre d'interférence (204 ; 304) agencé sur le photo-détecteur (206), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour recueillir et transmettre sélectivement la lumière vers le photo-détecteur (206) sur la base d'un angle d'incidence de la lumière en direction du filtre d'interférence (204 304), le filtre d'interférence (204 ; 304) étant conçu pour transmettre sélectivement la lumière émise selon des angles supercritiques depuis l'échantillon vers le photo-détecteur (206) et supprimer la lumière émise selon des angles sous-critiques depuis l'échantillon.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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