TESTING DEVICE FOR TESTING A DISTANCE SENSOR THAT OPERATES USING ELECTROMAGNETIC WAVES

Dargestellt und beschrieben ist eine Prüfvorrichtung (1) zum Test eines mit elektromagnetischen Wellen arbeitenden Abstandssensors (2), mit einem Empfangselement (3) zum Empfangen einer elektromagnetischen Freiraumwelle als Empfangssignal SRX, mit einem Abstrahlelement (4) zur Abstrahlung eines simulierten elektromagnetischen Reflexionssignals STX, wobei das Empfangssignal SRX oder ein von dem Empfangssignal SRX abgeleitetes Signal S'RX über eine Zeitverzögerungsschaltung (5) mit einer vorgebbaren Zeitverzögerung tdelay, soll geführt wird und so zu einem zeitverzögerten Signal Sdelay zeitverzögert wird, wobei das zeitverzögerte Signal Sdelay oder ein von dem zeitverzögerten Signal Sdelay abgeleitetes Signal S'delay als das simulierte Reflexionssignal STX über das Abstrahlelement (4) abgestrahlt wird. Ein großer Bereich vorgebbarer Zeitverzögerungen kann dadurch abgedeckt werden, dass die Zeitverzögerungsschaltung (5) eine analoge Verzögerungsstrecke (5a) mit einer vorgebbaren Zeitverzögerung tdelay, soll und eine digitale Verzögerungsstrecke (5b) mit einer ebenfalls vorgebbaren Zeitverzögerung tdelay, soll aufweist, dass die analoge Verzögerungsstrecke (5a) kürzere Zeitverzögerungen realisiert als die digitale Verzögerungsstrecke (5b), abgesehen von einem möglichen Überlappungsbereich und dass mit einer Eingangsschalteinrichtung (6) das Empfangssignal SRX oder das von dem Empfangssignal SRX abgeleitete Signal S'RX entweder auf den Eingang der analogen Verzögerungsstrecke (5a) oder auf den Eingang der digitalen Verzögerungsstrecke (5b) geschaltet wird und das Signal nach Durchlaufen der geschalteten Verzögerungsstrecke zu dem zeitverzögerten Signal Sdelay wird. The invention relates to a testing device (1) for testing a distance sensor (2) that operates using electromagnetic waves, comprising a receiving element (3) for receiving an electromagnetic free-space wave as a received signal SRX and an emission element (4) for emitting a simulated electromagnetic reflection signal STX, the received signal SRX or a signal S'RX derived from the received signal SRX being fed through a time-delay circuit (5) having a specifiable time delay tdelay, soll and thus being time-delayed to form a time-delayed signal Sdelay, the time-delayed signal Sdelay or a signal S'delay derived from the time-delayed signal Sdelay being emitted as the simulated reflection signal STX by means of the emission element (4). A large range of specifiable time delays can be covered because the t