SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION
A method and system for particle detection and characterization including a current confming pixel and a light source. The pair of light detectors may comprise a first light detector and a second light detector electrically coupled to one another. Further, the first and the second light detectors ma...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | CHOW, Vincent Y |
| description | A method and system for particle detection and characterization including a current confming pixel and a light source. The pair of light detectors may comprise a first light detector and a second light detector electrically coupled to one another. Further, the first and the second light detectors may be situated in parallel and may have inverse polarities. Further, the particle detector method and system can comprise a boundary vernier-line having a width separating the first and the second light detectors. It may comprise a signal processor for processing an output waveform generated by a particle as it flows unobstructed on or near the detector surface; wherein the output waveform is bipolar and a polarity of the output waveform may flip when the particle crosses the boundary vernier-line; and wherein the signal processor may analyze the output waveform to ascertain at least one property of the particle. Methods of using the same are also disclosed.
L'invention concerne un procédé et un système de détection et de caractérisation de particules comprenant un pixel de confinement en cours et une source de lumière. La paire de détecteurs de lumière peut comprendre un premier détecteur de lumière et un second détecteur de lumière couplés électriquement l'un à l'autre. En outre, les premier et second détecteurs de lumière peuvent être situés en parallèle et peuvent présenter des polarités inverses. En outre, le procédé et le système de détection de particules peuvent comprendre une ligne de vernier de limite présentant une largeur séparant les premier et second détecteurs de lumière. Ledit système peut comprendre un processeur de signal permettant de traiter une forme d'onde de sortie générée par une particule lorsqu'elle circule librement sur ou à proximité de la surface de détecteur ; la forme d'onde de sortie étant bipolaire et une polarité de la forme d'onde de sortie pouvant être retournée lorsque la particule croise la ligne vernier de limite ; et le processeur de signal pouvant analyser la forme d'onde de sortie afin de déterminer au moins une propriété de la particule. L'invention concerne également des procédés d'exploitation correspondants. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2018170257A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2018170257A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2018170257A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZNAPjgwOcfVVcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9SCHAMCvF09nFVcPZwDHJ0DnEN8oxyDPH09-NhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGhhaG5gZGpuaOhsbEqQIAp2AnBw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION</title><source>esp@cenet</source><creator>CHOW, Vincent Y</creator><creatorcontrib>CHOW, Vincent Y</creatorcontrib><description>A method and system for particle detection and characterization including a current confming pixel and a light source. The pair of light detectors may comprise a first light detector and a second light detector electrically coupled to one another. Further, the first and the second light detectors may be situated in parallel and may have inverse polarities. Further, the particle detector method and system can comprise a boundary vernier-line having a width separating the first and the second light detectors. It may comprise a signal processor for processing an output waveform generated by a particle as it flows unobstructed on or near the detector surface; wherein the output waveform is bipolar and a polarity of the output waveform may flip when the particle crosses the boundary vernier-line; and wherein the signal processor may analyze the output waveform to ascertain at least one property of the particle. Methods of using the same are also disclosed.
L'invention concerne un procédé et un système de détection et de caractérisation de particules comprenant un pixel de confinement en cours et une source de lumière. La paire de détecteurs de lumière peut comprendre un premier détecteur de lumière et un second détecteur de lumière couplés électriquement l'un à l'autre. En outre, les premier et second détecteurs de lumière peuvent être situés en parallèle et peuvent présenter des polarités inverses. En outre, le procédé et le système de détection de particules peuvent comprendre une ligne de vernier de limite présentant une largeur séparant les premier et second détecteurs de lumière. Ledit système peut comprendre un processeur de signal permettant de traiter une forme d'onde de sortie générée par une particule lorsqu'elle circule librement sur ou à proximité de la surface de détecteur ; la forme d'onde de sortie étant bipolaire et une polarité de la forme d'onde de sortie pouvant être retournée lorsque la particule croise la ligne vernier de limite ; et le processeur de signal pouvant analyser la forme d'onde de sortie afin de déterminer au moins une propriété de la particule. L'invention concerne également des procédés d'exploitation correspondants.</description><language>eng ; fre</language><subject>ALARM SYSTEMS ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; ORDER TELEGRAPHS ; PHYSICS ; SIGNALLING ; SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS ; TESTING</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20180920&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2018170257A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76304</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20180920&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2018170257A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>CHOW, Vincent Y</creatorcontrib><title>SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION</title><description>A method and system for particle detection and characterization including a current confming pixel and a light source. The pair of light detectors may comprise a first light detector and a second light detector electrically coupled to one another. Further, the first and the second light detectors may be situated in parallel and may have inverse polarities. Further, the particle detector method and system can comprise a boundary vernier-line having a width separating the first and the second light detectors. It may comprise a signal processor for processing an output waveform generated by a particle as it flows unobstructed on or near the detector surface; wherein the output waveform is bipolar and a polarity of the output waveform may flip when the particle crosses the boundary vernier-line; and wherein the signal processor may analyze the output waveform to ascertain at least one property of the particle. Methods of using the same are also disclosed.
L'invention concerne un procédé et un système de détection et de caractérisation de particules comprenant un pixel de confinement en cours et une source de lumière. La paire de détecteurs de lumière peut comprendre un premier détecteur de lumière et un second détecteur de lumière couplés électriquement l'un à l'autre. En outre, les premier et second détecteurs de lumière peuvent être situés en parallèle et peuvent présenter des polarités inverses. En outre, le procédé et le système de détection de particules peuvent comprendre une ligne de vernier de limite présentant une largeur séparant les premier et second détecteurs de lumière. Ledit système peut comprendre un processeur de signal permettant de traiter une forme d'onde de sortie générée par une particule lorsqu'elle circule librement sur ou à proximité de la surface de détecteur ; la forme d'onde de sortie étant bipolaire et une polarité de la forme d'onde de sortie pouvant être retournée lorsque la particule croise la ligne vernier de limite ; et le processeur de signal pouvant analyser la forme d'onde de sortie afin de déterminer au moins une propriété de la particule. L'invention concerne également des procédés d'exploitation correspondants.</description><subject>ALARM SYSTEMS</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>ORDER TELEGRAPHS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SIGNALLING</subject><subject>SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNAPjgwOcfVVcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9SCHAMCvF09nFVcPZwDHJ0DnEN8oxyDPH09-NhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGhhaG5gZGpuaOhsbEqQIAp2AnBw</recordid><startdate>20180920</startdate><enddate>20180920</enddate><creator>CHOW, Vincent Y</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20180920</creationdate><title>SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION</title><author>CHOW, Vincent Y</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2018170257A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2018</creationdate><topic>ALARM SYSTEMS</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>ORDER TELEGRAPHS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SIGNALLING</topic><topic>SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>CHOW, Vincent Y</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>CHOW, Vincent Y</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION</title><date>2018-09-20</date><risdate>2018</risdate><abstract>A method and system for particle detection and characterization including a current confming pixel and a light source. The pair of light detectors may comprise a first light detector and a second light detector electrically coupled to one another. Further, the first and the second light detectors may be situated in parallel and may have inverse polarities. Further, the particle detector method and system can comprise a boundary vernier-line having a width separating the first and the second light detectors. It may comprise a signal processor for processing an output waveform generated by a particle as it flows unobstructed on or near the detector surface; wherein the output waveform is bipolar and a polarity of the output waveform may flip when the particle crosses the boundary vernier-line; and wherein the signal processor may analyze the output waveform to ascertain at least one property of the particle. Methods of using the same are also disclosed.
L'invention concerne un procédé et un système de détection et de caractérisation de particules comprenant un pixel de confinement en cours et une source de lumière. La paire de détecteurs de lumière peut comprendre un premier détecteur de lumière et un second détecteur de lumière couplés électriquement l'un à l'autre. En outre, les premier et second détecteurs de lumière peuvent être situés en parallèle et peuvent présenter des polarités inverses. En outre, le procédé et le système de détection de particules peuvent comprendre une ligne de vernier de limite présentant une largeur séparant les premier et second détecteurs de lumière. Ledit système peut comprendre un processeur de signal permettant de traiter une forme d'onde de sortie générée par une particule lorsqu'elle circule librement sur ou à proximité de la surface de détecteur ; la forme d'onde de sortie étant bipolaire et une polarité de la forme d'onde de sortie pouvant être retournée lorsque la particule croise la ligne vernier de limite ; et le processeur de signal pouvant analyser la forme d'onde de sortie afin de déterminer au moins une propriété de la particule. L'invention concerne également des procédés d'exploitation correspondants.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; fre |
| recordid | cdi_epo_espacenet_WO2018170257A1 |
| source | esp@cenet |
| subjects | ALARM SYSTEMS INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING ORDER TELEGRAPHS PHYSICS SIGNALLING SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS TESTING |
| title | SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE CHARACTERIZATION |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-15T11%3A55%3A35IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=CHOW,%20Vincent%20Y&rft.date=2018-09-20&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2018170257A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |