SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS FOR A WIDE DYNAMIC RANGE CURRENT MEASUREMENT WITH CONSUMPTION EVENT ANALYSIS

Systems, devices, and methods for a wide dynamic range current measurement with consumption event analysis are disclosed. According to an aspect, a method includes analyzing a plurality of a set of input data characteristics from a device under test. The method also includes totalizing the set of in...

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1. Verfasser: BORLESKE, Andrew, J
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator BORLESKE, Andrew, J
description Systems, devices, and methods for a wide dynamic range current measurement with consumption event analysis are disclosed. According to an aspect, a method includes analyzing a plurality of a set of input data characteristics from a device under test. The method also includes totalizing the set of input data characteristics. The method also includes determining whether at least one of the plurality of the set of input data characteristics occurs above a quiescent level. Further, the method includes establishing an event in response to determining that at least one of the plurality of the set of input data characteristics occurs above the quiescent level. The method also includes creating a summary statistic based on the plurality of the set of input data characteristics. Further, the method includes storing the summary statistic and the event as a result. La présente invention concerne des systèmes, des dispositifs et des procédés pour une mesure de courant à plage dynamique large avec analyse d'événement de consommation. Selon un aspect, un procédé comprend l'analyse d'une pluralité d'un ensemble de caractéristiques de données d'entrée provenant d'un dispositif à l'essai. Le procédé comprend en outre la totalisation de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée. Le procédé comprend en outre la détermination qu'au moins un des ensembles de caractéristiques de données d'entrée est ou non au-dessus d'un niveau de repos. En outre, le procédé comprend l'établissement d'un événement en réponse à la détermination qu'au moins l'une de la pluralité de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée survient au-dessus du niveau de repos. Le procédé comprend en outre la création d'une statistique résumée sur la base de la pluralité de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée. En outre, le procédé comprend le stockage de la statistique résumée et de l'événement en tant que résultat.
format Patent
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According to an aspect, a method includes analyzing a plurality of a set of input data characteristics from a device under test. The method also includes totalizing the set of input data characteristics. The method also includes determining whether at least one of the plurality of the set of input data characteristics occurs above a quiescent level. Further, the method includes establishing an event in response to determining that at least one of the plurality of the set of input data characteristics occurs above the quiescent level. The method also includes creating a summary statistic based on the plurality of the set of input data characteristics. Further, the method includes storing the summary statistic and the event as a result. La présente invention concerne des systèmes, des dispositifs et des procédés pour une mesure de courant à plage dynamique large avec analyse d'événement de consommation. Selon un aspect, un procédé comprend l'analyse d'une pluralité d'un ensemble de caractéristiques de données d'entrée provenant d'un dispositif à l'essai. Le procédé comprend en outre la totalisation de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée. Le procédé comprend en outre la détermination qu'au moins un des ensembles de caractéristiques de données d'entrée est ou non au-dessus d'un niveau de repos. En outre, le procédé comprend l'établissement d'un événement en réponse à la détermination qu'au moins l'une de la pluralité de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée survient au-dessus du niveau de repos. Le procédé comprend en outre la création d'une statistique résumée sur la base de la pluralité de l'ensemble de caractéristiques de données d'entrée. 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source esp@cenet
subjects ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS
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MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE
MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
PHYSICS
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