ULTRASHORT LASER PULSE CHARACTERIZATION AND COMPRESSION METHOD

The present disclosure generally relates to laser systems and laser pulse characterization methods and respective systems. An embodiment of the method comprises generating two collinear replicas of the pulse being characterized; applying two different predetermined spectral phases to each replica, s...

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Hauptverfasser: MAIA DA SILVA, Francisco Jose, PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel, ROMERO MUÑIZ, Rosa María, FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator MAIA DA SILVA, Francisco Jose
PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel
ROMERO MUÑIZ, Rosa María
FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago
description The present disclosure generally relates to laser systems and laser pulse characterization methods and respective systems. An embodiment of the method comprises generating two collinear replicas of the pulse being characterized; applying two different predetermined spectral phases to each replica, so as to simultaneously scan delay and dispersion; applying a nonlinear process to the pulse to be characterized; measuring the resulting signal from the application of the predetermined spectral phases and nonlinear process; applying a numerical iterative algorithm to the measured signal to retrieve the spectral phase of the pulse to be characterized; such process being done as a scanning procedure or in parallel utilizing a single laser shot. The two time-delayed replicas may be generated using a birefringent etalon; a controllable amount of dispersion and delay between replicas may be provided by a pair of birefringent wedges, one of them being translated for phase control; dispersion and delay between replicas can also be imparted in parallel by using a single birefringent wedge, which encodes these along a spatial dimension; opposite dispersion to that of the wedges may be introduced by an appropriate optical element, such as chirped mirrors or a dispersive geometric arrangement; the frequency spectrum may be measured as well as the dispersion and delay dependent second-harmonic of the signal being phase modulated. La présente invention concerne d'une manière générale des systèmes laser, ainsi que des procédés de caractérisation d'impulsion laser et des systèmes respectifs. Selon un mode de réalisation, le procédé consiste : à générer deux répliques colinéaires de l'impulsion devant être caractérisée ; à appliquer deux phases spectrales prédéfinies différentes à chaque réplique, de façon à balayer simultanément un retard et une dispersion ; à appliquer un processus non linéaire à l'impulsion devant être caractérisée ; à mesurer le signal résultant à partir de l'application des phases spectrales prédéfinies et du processus non linéaire ; à appliquer un algorithme itératif numérique au signal mesuré afin de récupérer la phase spectrale de l'impulsion devant être caractérisée. Ce processus est mis en œuvre sous la forme d'une procédure de balayage ou en parallèle à l'aide d'un seul tir laser. Les deux répliques retardées dans le temps peuvent être générées à l'aide d'un étalon biréfringent, une quantité pouvant être régulée de dispersion et de retard entre les
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An embodiment of the method comprises generating two collinear replicas of the pulse being characterized; applying two different predetermined spectral phases to each replica, so as to simultaneously scan delay and dispersion; applying a nonlinear process to the pulse to be characterized; measuring the resulting signal from the application of the predetermined spectral phases and nonlinear process; applying a numerical iterative algorithm to the measured signal to retrieve the spectral phase of the pulse to be characterized; such process being done as a scanning procedure or in parallel utilizing a single laser shot. The two time-delayed replicas may be generated using a birefringent etalon; a controllable amount of dispersion and delay between replicas may be provided by a pair of birefringent wedges, one of them being translated for phase control; dispersion and delay between replicas can also be imparted in parallel by using a single birefringent wedge, which encodes these along a spatial dimension; opposite dispersion to that of the wedges may be introduced by an appropriate optical element, such as chirped mirrors or a dispersive geometric arrangement; the frequency spectrum may be measured as well as the dispersion and delay dependent second-harmonic of the signal being phase modulated. La présente invention concerne d'une manière générale des systèmes laser, ainsi que des procédés de caractérisation d'impulsion laser et des systèmes respectifs. Selon un mode de réalisation, le procédé consiste : à générer deux répliques colinéaires de l'impulsion devant être caractérisée ; à appliquer deux phases spectrales prédéfinies différentes à chaque réplique, de façon à balayer simultanément un retard et une dispersion ; à appliquer un processus non linéaire à l'impulsion devant être caractérisée ; à mesurer le signal résultant à partir de l'application des phases spectrales prédéfinies et du processus non linéaire ; à appliquer un algorithme itératif numérique au signal mesuré afin de récupérer la phase spectrale de l'impulsion devant être caractérisée. Ce processus est mis en œuvre sous la forme d'une procédure de balayage ou en parallèle à l'aide d'un seul tir laser. Les deux répliques retardées dans le temps peuvent être générées à l'aide d'un étalon biréfringent, une quantité pouvant être régulée de dispersion et de retard entre les répliques peut être procurée par une paire de coins biréfringents, l'un d'eux étant translaté pour un réglage de phase, la dispersion et le retard entre les répliques peuvent également être fournis en parallèle à l'aide d'un seul coin biréfringent, qui les code le long d'une dimension spatiale, une dispersion opposée à celle des coins peut être introduite par un élément optique approprié, par exemple des miroirs chirpés ou un agencement géométrique dispersif, le spectre de fréquence peut être mesuré ainsi que la deuxième harmonique, dépendant de la dispersion et du retard, du signal qui est modulé en phase.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; COLORIMETRY ; DEVICES USING STIMULATED EMISSION ; ELECTRICITY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180215&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2018029615A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180215&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2018029615A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MAIA DA SILVA, Francisco Jose</creatorcontrib><creatorcontrib>PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMERO MUÑIZ, Rosa María</creatorcontrib><creatorcontrib>FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago</creatorcontrib><title>ULTRASHORT LASER PULSE CHARACTERIZATION AND COMPRESSION METHOD</title><description>The present disclosure generally relates to laser systems and laser pulse characterization methods and respective systems. 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The two time-delayed replicas may be generated using a birefringent etalon; a controllable amount of dispersion and delay between replicas may be provided by a pair of birefringent wedges, one of them being translated for phase control; dispersion and delay between replicas can also be imparted in parallel by using a single birefringent wedge, which encodes these along a spatial dimension; opposite dispersion to that of the wedges may be introduced by an appropriate optical element, such as chirped mirrors or a dispersive geometric arrangement; the frequency spectrum may be measured as well as the dispersion and delay dependent second-harmonic of the signal being phase modulated. La présente invention concerne d'une manière générale des systèmes laser, ainsi que des procédés de caractérisation d'impulsion laser et des systèmes respectifs. Selon un mode de réalisation, le procédé consiste : à générer deux répliques colinéaires de l'impulsion devant être caractérisée ; à appliquer deux phases spectrales prédéfinies différentes à chaque réplique, de façon à balayer simultanément un retard et une dispersion ; à appliquer un processus non linéaire à l'impulsion devant être caractérisée ; à mesurer le signal résultant à partir de l'application des phases spectrales prédéfinies et du processus non linéaire ; à appliquer un algorithme itératif numérique au signal mesuré afin de récupérer la phase spectrale de l'impulsion devant être caractérisée. Ce processus est mis en œuvre sous la forme d'une procédure de balayage ou en parallèle à l'aide d'un seul tir laser. Les deux répliques retardées dans le temps peuvent être générées à l'aide d'un étalon biréfringent, une quantité pouvant être régulée de dispersion et de retard entre les répliques peut être procurée par une paire de coins biréfringents, l'un d'eux étant translaté pour un réglage de phase, la dispersion et le retard entre les répliques peuvent également être fournis en parallèle à l'aide d'un seul coin biréfringent, qui les code le long d'une dimension spatiale, une dispersion opposée à celle des coins peut être introduite par un élément optique approprié, par exemple des miroirs chirpés ou un agencement géométrique dispersif, le spectre de fréquence peut être mesuré ainsi que la deuxième harmonique, dépendant de la dispersion et du retard, du signal qui est modulé en phase.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>COLORIMETRY</subject><subject>DEVICES USING STIMULATED EMISSION</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLAL9QkJcgz28A8KUfBxDHYNUggI9Ql2VXD2cAxydA5xDfKMcgzx9PdTcPRzUXD29w0Icg0OBvF9XUM8_F14GFjTEnOKU3mhNDeDsptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakl8uL-RgaGFgZGlmaGpo6ExcaoAPXwrgg</recordid><startdate>20180215</startdate><enddate>20180215</enddate><creator>MAIA DA SILVA, Francisco Jose</creator><creator>PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel</creator><creator>ROMERO MUÑIZ, Rosa María</creator><creator>FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20180215</creationdate><title>ULTRASHORT LASER PULSE CHARACTERIZATION AND COMPRESSION METHOD</title><author>MAIA DA SILVA, Francisco Jose ; PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel ; ROMERO MUÑIZ, Rosa María ; FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2018029615A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2018</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>COLORIMETRY</topic><topic>DEVICES USING STIMULATED EMISSION</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MAIA DA SILVA, Francisco Jose</creatorcontrib><creatorcontrib>PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel</creatorcontrib><creatorcontrib>ROMERO MUÑIZ, Rosa María</creatorcontrib><creatorcontrib>FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MAIA DA SILVA, Francisco Jose</au><au>PAIVA REBELO CEREJO CRESPO, Helder Manuel</au><au>ROMERO MUÑIZ, Rosa María</au><au>FERRAZ DE MEIRA GUERREIRO, Paulo Tiago</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>ULTRASHORT LASER PULSE CHARACTERIZATION AND COMPRESSION METHOD</title><date>2018-02-15</date><risdate>2018</risdate><abstract>The present disclosure generally relates to laser systems and laser pulse characterization methods and respective systems. 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The two time-delayed replicas may be generated using a birefringent etalon; a controllable amount of dispersion and delay between replicas may be provided by a pair of birefringent wedges, one of them being translated for phase control; dispersion and delay between replicas can also be imparted in parallel by using a single birefringent wedge, which encodes these along a spatial dimension; opposite dispersion to that of the wedges may be introduced by an appropriate optical element, such as chirped mirrors or a dispersive geometric arrangement; the frequency spectrum may be measured as well as the dispersion and delay dependent second-harmonic of the signal being phase modulated. La présente invention concerne d'une manière générale des systèmes laser, ainsi que des procédés de caractérisation d'impulsion laser et des systèmes respectifs. Selon un mode de réalisation, le procédé consiste : à générer deux répliques colinéaires de l'impulsion devant être caractérisée ; à appliquer deux phases spectrales prédéfinies différentes à chaque réplique, de façon à balayer simultanément un retard et une dispersion ; à appliquer un processus non linéaire à l'impulsion devant être caractérisée ; à mesurer le signal résultant à partir de l'application des phases spectrales prédéfinies et du processus non linéaire ; à appliquer un algorithme itératif numérique au signal mesuré afin de récupérer la phase spectrale de l'impulsion devant être caractérisée. Ce processus est mis en œuvre sous la forme d'une procédure de balayage ou en parallèle à l'aide d'un seul tir laser. Les deux répliques retardées dans le temps peuvent être générées à l'aide d'un étalon biréfringent, une quantité pouvant être régulée de dispersion et de retard entre les répliques peut être procurée par une paire de coins biréfringents, l'un d'eux étant translaté pour un réglage de phase, la dispersion et le retard entre les répliques peuvent également être fournis en parallèle à l'aide d'un seul coin biréfringent, qui les code le long d'une dimension spatiale, une dispersion opposée à celle des coins peut être introduite par un élément optique approprié, par exemple des miroirs chirpés ou un agencement géométrique dispersif, le spectre de fréquence peut être mesuré ainsi que la deuxième harmonique, dépendant de la dispersion et du retard, du signal qui est modulé en phase.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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