SENSOR UNIT AND METHOD FOR FUNCTIONAL TESTING OF A SENSOR OF THE SENSOR UNIT

Die Erfindung geht aus von einer Sensoreinheit(10) mit wenigstens einem mik- roelektromechanischen Sensor (20), einer Verarbeitungseinheit (30) und einer Speichereinheit (40). Die Verarbeitungseinheit (30) ist dazu eingerichtet, wenigs- tens einen ersten Messwert (x1) zu einem ersten Zeitpunkt (t1) und einen zweiten Messwert (x2) zu einem zweiten Zeitpunkt (t2) vom Sensor (20) zu erfassen und in der Speichereinheit (40) abzuspeichern. Der Kern der Erfindung besteht darin, dass die Verarbeitungseinheit (30) dazu eingerichtet ist, wenigstens den ersten Messwert (x1) mit dem zweiten Messwert (x2) zu vergleichen sowie bei einer Übereinstimmung des ersten Messwerts (x1) mit dem zweiten Messwert (x2) den Sensor (20) ein Signal (35) zu erzeugen, welches den Sensor (20) als defekt darstellt. Die Erfindung betrifft zudem ein Verfahren zur Funktionsprüfung eines mikro- elektromechanischen Sensors (20). The invention relates to a sensor unit (10) having at least one microelectromechanical sensor (20), a processing unit (30) and a memory unit (40). The processing unit (30) is configured to acquire from the sensor (20) at least a first measured value (x1) at a first time (t1) and a second measured value (x2) at a second time (t2) and to store said values in the memory unit (40). The essence of the invention consists in that the processing unit (30) is configured to compare at least the first measured value (x1) with the second measured value (x2) and, if the first measured value (x1) and the second measured value (x2) correspond, to generate a signal (35) which indicates that the sensor (20) is defective. The invention also relates to a method for the functional testing of a microelectromechanical sensor (20). L'invention concerne une unité de détection (10) comportant au moins un capteur micro-électromécanique (20), une unité de traitement (30) et une unité de mémoire (40). L'unité de traitement (30) est conçue pour acquérir au moins à un premier instant (t1) une première valeur de mesure (x1) et à un second instant (t2) une seconde valeur de mesure (x2) provenant du capteur (20), et pour les mémoriser dans l'unité de mémoire (40). L'essentiel de l'invention réside en ce que l'unité de traitement (30) est conçue pour au moins comparer la première valeur de mesure (x1) à la seconde valeur de mesure (x2) et pour, si la première valeur de mesure (x1) concorde avec la seconde valeur de mesure (x2), produire un signal (35) qui indique que le capteur (20) est défectueux. L'