FREE SPACE SEGMENT TESTER (FSST)
Methods and apparatuses are disclosed for a free space segment tester (FSST). In one example, an apparatus includes a frame, a first horn antenna, a second horn antenna, a controller, and an analyzer. The frame has a platform to support a thin film transistor (TFT) segment of a flat panel antenna. T...
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| Format: | Patent |
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| creator | HOWER, Tom SAZEGAR, Mohsen REPP, Jacob Tyler CEESAY, Lamin FORNES, Matthew ASH, Benjamin PEDLER, William |
| description | Methods and apparatuses are disclosed for a free space segment tester (FSST). In one example, an apparatus includes a frame, a first horn antenna, a second horn antenna, a controller, and an analyzer. The frame has a platform to support a thin film transistor (TFT) segment of a flat panel antenna. The first horn antenna transmits microwave energy to the TFT segment and receives reflected energy from the TFT segment. The second horn antenna receives microwave energy transmitted through the TFT segment. The controller is coupled to the TFT segment and provides at least one stimulus or condition to the TFT segment. The analyzer measures a characteristic of the TFT segment using the first horn antenna and the second horn antenna. Examples of a measured characteristic includes a measured microwave frequency response, transmission response, or reflection response for the TFT segment. In one example, the TFT segment is used for integration into a flat panel antenna if the measured characteristic of the TFT segment indicates the TFT segment is acceptable.
L'invention concerne des procédés et des appareils pour un testeur de segments d'espace libre (FSST). Dans un exemple, un appareil comprend un cadre, une première antenne à cornet, une seconde antenne à cornet, un dispositif de commande et un analyseur. Le cadre comporte une plate-forme pour supporter un segment de transistor à film mince (TFT) d'une antenne plate. La première antenne à cornet émet de l'énergie à micro-ondes vers le segment TFT et reçoit l'énergie réfléchie provenant du segment TFT. La seconde antenne à cornet reçoit de l'énergie à micro-ondes transmise par le biais du segment TFT. Le dispositif de commande est couplé au segment TFT et fournit au moins un stimulus ou état au segment TFT. L'analyseur mesure une caractéristique du segment TFT à l'aide de la première antenne à cornet et de la seconde antenne à cornet. Des exemples d'une caractéristique mesurée comprennent une réponse de fréquence à micro-ondes, une réponse de transmission ou une réponse de réflexion mesurée pour le segment TFT. Dans un exemple, le segment TFT est utilisé pour l'intégration dans une antenne plate si la caractéristique mesurée du segment TFT indique que le segment TFT est acceptable. |
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L'invention concerne des procédés et des appareils pour un testeur de segments d'espace libre (FSST). Dans un exemple, un appareil comprend un cadre, une première antenne à cornet, une seconde antenne à cornet, un dispositif de commande et un analyseur. Le cadre comporte une plate-forme pour supporter un segment de transistor à film mince (TFT) d'une antenne plate. La première antenne à cornet émet de l'énergie à micro-ondes vers le segment TFT et reçoit l'énergie réfléchie provenant du segment TFT. La seconde antenne à cornet reçoit de l'énergie à micro-ondes transmise par le biais du segment TFT. Le dispositif de commande est couplé au segment TFT et fournit au moins un stimulus ou état au segment TFT. L'analyseur mesure une caractéristique du segment TFT à l'aide de la première antenne à cornet et de la seconde antenne à cornet. Des exemples d'une caractéristique mesurée comprennent une réponse de fréquence à micro-ondes, une réponse de transmission ou une réponse de réflexion mesurée pour le segment TFT. Dans un exemple, le segment TFT est utilisé pour l'intégration dans une antenne plate si la caractéristique mesurée du segment TFT indique que le segment TFT est acceptable.</description><language>eng ; fre</language><subject>ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS ; BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20171123&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2017201197A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20171123&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2017201197A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>HOWER, Tom</creatorcontrib><creatorcontrib>SAZEGAR, Mohsen</creatorcontrib><creatorcontrib>REPP, Jacob Tyler</creatorcontrib><creatorcontrib>CEESAY, Lamin</creatorcontrib><creatorcontrib>FORNES, Matthew</creatorcontrib><creatorcontrib>ASH, Benjamin</creatorcontrib><creatorcontrib>PEDLER, William</creatorcontrib><title>FREE SPACE SEGMENT TESTER (FSST)</title><description>Methods and apparatuses are disclosed for a free space segment tester (FSST). In one example, an apparatus includes a frame, a first horn antenna, a second horn antenna, a controller, and an analyzer. The frame has a platform to support a thin film transistor (TFT) segment of a flat panel antenna. The first horn antenna transmits microwave energy to the TFT segment and receives reflected energy from the TFT segment. The second horn antenna receives microwave energy transmitted through the TFT segment. The controller is coupled to the TFT segment and provides at least one stimulus or condition to the TFT segment. The analyzer measures a characteristic of the TFT segment using the first horn antenna and the second horn antenna. Examples of a measured characteristic includes a measured microwave frequency response, transmission response, or reflection response for the TFT segment. In one example, the TFT segment is used for integration into a flat panel antenna if the measured characteristic of the TFT segment indicates the TFT segment is acceptable.
L'invention concerne des procédés et des appareils pour un testeur de segments d'espace libre (FSST). Dans un exemple, un appareil comprend un cadre, une première antenne à cornet, une seconde antenne à cornet, un dispositif de commande et un analyseur. Le cadre comporte une plate-forme pour supporter un segment de transistor à film mince (TFT) d'une antenne plate. La première antenne à cornet émet de l'énergie à micro-ondes vers le segment TFT et reçoit l'énergie réfléchie provenant du segment TFT. La seconde antenne à cornet reçoit de l'énergie à micro-ondes transmise par le biais du segment TFT. Le dispositif de commande est couplé au segment TFT et fournit au moins un stimulus ou état au segment TFT. L'analyseur mesure une caractéristique du segment TFT à l'aide de la première antenne à cornet et de la seconde antenne à cornet. 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In one example, an apparatus includes a frame, a first horn antenna, a second horn antenna, a controller, and an analyzer. The frame has a platform to support a thin film transistor (TFT) segment of a flat panel antenna. The first horn antenna transmits microwave energy to the TFT segment and receives reflected energy from the TFT segment. The second horn antenna receives microwave energy transmitted through the TFT segment. The controller is coupled to the TFT segment and provides at least one stimulus or condition to the TFT segment. The analyzer measures a characteristic of the TFT segment using the first horn antenna and the second horn antenna. Examples of a measured characteristic includes a measured microwave frequency response, transmission response, or reflection response for the TFT segment. In one example, the TFT segment is used for integration into a flat panel antenna if the measured characteristic of the TFT segment indicates the TFT segment is acceptable.
L'invention concerne des procédés et des appareils pour un testeur de segments d'espace libre (FSST). Dans un exemple, un appareil comprend un cadre, une première antenne à cornet, une seconde antenne à cornet, un dispositif de commande et un analyseur. Le cadre comporte une plate-forme pour supporter un segment de transistor à film mince (TFT) d'une antenne plate. La première antenne à cornet émet de l'énergie à micro-ondes vers le segment TFT et reçoit l'énergie réfléchie provenant du segment TFT. La seconde antenne à cornet reçoit de l'énergie à micro-ondes transmise par le biais du segment TFT. Le dispositif de commande est couplé au segment TFT et fournit au moins un stimulus ou état au segment TFT. L'analyseur mesure une caractéristique du segment TFT à l'aide de la première antenne à cornet et de la seconde antenne à cornet. Des exemples d'une caractéristique mesurée comprennent une réponse de fréquence à micro-ondes, une réponse de transmission ou une réponse de réflexion mesurée pour le segment TFT. Dans un exemple, le segment TFT est utilisé pour l'intégration dans une antenne plate si la caractéristique mesurée du segment TFT indique que le segment TFT est acceptable.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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