DISPLACEMENT SENSOR

The invention relates to a computer-implemented method for processing images of a 2D coded mask pattern that is imaged by an optical system on an image sensor, the method comprising: multiplying an image of the 2D coded mask pattern comprising a chess board pattern by a window function to obtain an...

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1. Verfasser: BOUWENS, Bram Theodorus
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator BOUWENS, Bram Theodorus
description The invention relates to a computer-implemented method for processing images of a 2D coded mask pattern that is imaged by an optical system on an image sensor, the method comprising: multiplying an image of the 2D coded mask pattern comprising a chess board pattern by a window function to obtain an input image; applying a two-dimensional (2D) Fast Fourier Transform (FFT) to the input image to obtain a complex matrix; determining a plurality of local maxima in the absolute values of the complex matrix; performing a 2D fit of positions of the determined plurality of the local maxima to obtain a position; calculate complex arguments of the peak values using interpolation in 2D; and, calculate positions of the squares by combining the peak positions that provide the square sizes and the complex arguments that provide the shift. L'invention concerne un procédé mis en œuvre par ordinateur de traitement d'images d'un motif de masque codé bidimensionnel qui est imagé par un système optique sur un capteur d'image, le procédé consistant : à multiplier une image du motif de masque codé bidimensionnel comprenant un motif d'échiquier par une fonction de fenêtre pour obtenir une image d'entrée ; à appliquer une transformée de Fourier Rapide (FFT) bidimensionnelle (2D) sur l'image d'entrée pour obtenir une matrice complexe ; à déterminer une pluralité de maxima locaux dans les valeurs absolues de la matrice complexe ; à effectuer un ajustement bidimensionnel de positions de la pluralité déterminée de maxima locaux pour obtenir une position ; à calculer des arguments complexes des valeurs de crête par interpolation en deux dimensions ; et à calculer des positions des carrés en combinant les positions de crête qui fournissent les tailles des carrés et les arguments complexes qui fournissent le décalage.
format Patent
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L'invention concerne un procédé mis en œuvre par ordinateur de traitement d'images d'un motif de masque codé bidimensionnel qui est imagé par un système optique sur un capteur d'image, le procédé consistant : à multiplier une image du motif de masque codé bidimensionnel comprenant un motif d'échiquier par une fonction de fenêtre pour obtenir une image d'entrée ; à appliquer une transformée de Fourier Rapide (FFT) bidimensionnelle (2D) sur l'image d'entrée pour obtenir une matrice complexe ; à déterminer une pluralité de maxima locaux dans les valeurs absolues de la matrice complexe ; à effectuer un ajustement bidimensionnel de positions de la pluralité déterminée de maxima locaux pour obtenir une position ; à calculer des arguments complexes des valeurs de crête par interpolation en deux dimensions ; et à calculer des positions des carrés en combinant les positions de crête qui fournissent les tailles des carrés et les arguments complexes qui fournissent le décalage.</description><language>eng ; fre</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170824&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2017142408A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170824&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2017142408A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BOUWENS, Bram Theodorus</creatorcontrib><title>DISPLACEMENT SENSOR</title><description>The invention relates to a computer-implemented method for processing images of a 2D coded mask pattern that is imaged by an optical system on an image sensor, the method comprising: multiplying an image of the 2D coded mask pattern comprising a chess board pattern by a window function to obtain an input image; applying a two-dimensional (2D) Fast Fourier Transform (FFT) to the input image to obtain a complex matrix; determining a plurality of local maxima in the absolute values of the complex matrix; performing a 2D fit of positions of the determined plurality of the local maxima to obtain a position; calculate complex arguments of the peak values using interpolation in 2D; and, calculate positions of the squares by combining the peak positions that provide the square sizes and the complex arguments that provide the shift. L'invention concerne un procédé mis en œuvre par ordinateur de traitement d'images d'un motif de masque codé bidimensionnel qui est imagé par un système optique sur un capteur d'image, le procédé consistant : à multiplier une image du motif de masque codé bidimensionnel comprenant un motif d'échiquier par une fonction de fenêtre pour obtenir une image d'entrée ; à appliquer une transformée de Fourier Rapide (FFT) bidimensionnelle (2D) sur l'image d'entrée pour obtenir une matrice complexe ; à déterminer une pluralité de maxima locaux dans les valeurs absolues de la matrice complexe ; à effectuer un ajustement bidimensionnel de positions de la pluralité déterminée de maxima locaux pour obtenir une position ; à calculer des arguments complexes des valeurs de crête par interpolation en deux dimensions ; et à calculer des positions des carrés en combinant les positions de crête qui fournissent les tailles des carrés et les arguments complexes qui fournissent le décalage.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2017</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBB28QwO8HF0dvV19QtRCHb1C_YP4mFgTUvMKU7lhdLcDMpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8eH-RgaG5oYmRiYGFo6GxsSpAgDfBR9X</recordid><startdate>20170824</startdate><enddate>20170824</enddate><creator>BOUWENS, Bram Theodorus</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20170824</creationdate><title>DISPLACEMENT SENSOR</title><author>BOUWENS, Bram Theodorus</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2017142408A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2017</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BOUWENS, Bram Theodorus</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BOUWENS, Bram Theodorus</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DISPLACEMENT SENSOR</title><date>2017-08-24</date><risdate>2017</risdate><abstract>The invention relates to a computer-implemented method for processing images of a 2D coded mask pattern that is imaged by an optical system on an image sensor, the method comprising: multiplying an image of the 2D coded mask pattern comprising a chess board pattern by a window function to obtain an input image; applying a two-dimensional (2D) Fast Fourier Transform (FFT) to the input image to obtain a complex matrix; determining a plurality of local maxima in the absolute values of the complex matrix; performing a 2D fit of positions of the determined plurality of the local maxima to obtain a position; calculate complex arguments of the peak values using interpolation in 2D; and, calculate positions of the squares by combining the peak positions that provide the square sizes and the complex arguments that provide the shift. 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issn
language eng ; fre
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source esp@cenet
subjects ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS
MEASURING
MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE
MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
PHYSICS
TARIFF METERING APPARATUS
TESTING
title DISPLACEMENT SENSOR
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