MULTI DETECTOR MASS SPECTROMETER AND SPECTROMETRY METHOD

The present invention can be directed to a mass spectrometer, relevant parts thereof like replacement kits or upgrading kits and/or mass spectrometry methods. A mass spectrometer according to the present invention can comprise at least one ion source for generating a beam of ions from a sample. More...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: COATH, Chris, SCHWIETERS, Johannes, ELLIOTT, Tim
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator COATH, Chris
SCHWIETERS, Johannes
ELLIOTT, Tim
description The present invention can be directed to a mass spectrometer, relevant parts thereof like replacement kits or upgrading kits and/or mass spectrometry methods. A mass spectrometer according to the present invention can comprise at least one ion source for generating a beam of ions from a sample. Moreover at least one mass filter downstream of the ion source can be provided and adapted to select ions from the beam by their mass-to-charge ratio (m/z). Furthermore at least one collision cell arranged downstream of the mass filter can be arranged. At least one sector field mass analyser arranged downstream of the collision cell can be further provided and at least one ion multicollector comprising a plurality of ion detectors arranged downstream of the mass analyser, for detecting a plurality of different ion species in parallel and/or simultaneously. La présente invention peut porter sur un spectromètre de masse, des parties pertinentes de ces dernières telles que des kits de remplacement ou des kits de mise à niveau, et/ou des procédés de spectrométrie de masse. Un spectromètre de masse selon la présente invention peut comprendre au moins une source d'ions pour générer un faisceau d'ions à partir d'un échantillon. De plus, au moins un filtre de masse peut être disposé en aval de la source d'ions et conçu pour sélectionner des ions du faisceau par leur rapport masse sur charge (m/z). En outre, au moins une cellule de collision peut être agencée en aval du filtre de masse. Au moins un analyseur de masse à champ sectoriel peut être en outre agencé en aval de la cellule de collision, et au moins un multicollecteur d'ions comprenant une pluralité de détecteurs d'ions peut être agencé en aval de l'analyseur de masse, pour détecter une pluralité d'espèces ioniques différentes en parallèle et/ou simultanément.
format Patent
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A mass spectrometer according to the present invention can comprise at least one ion source for generating a beam of ions from a sample. Moreover at least one mass filter downstream of the ion source can be provided and adapted to select ions from the beam by their mass-to-charge ratio (m/z). Furthermore at least one collision cell arranged downstream of the mass filter can be arranged. At least one sector field mass analyser arranged downstream of the collision cell can be further provided and at least one ion multicollector comprising a plurality of ion detectors arranged downstream of the mass analyser, for detecting a plurality of different ion species in parallel and/or simultaneously. La présente invention peut porter sur un spectromètre de masse, des parties pertinentes de ces dernières telles que des kits de remplacement ou des kits de mise à niveau, et/ou des procédés de spectrométrie de masse. Un spectromètre de masse selon la présente invention peut comprendre au moins une source d'ions pour générer un faisceau d'ions à partir d'un échantillon. De plus, au moins un filtre de masse peut être disposé en aval de la source d'ions et conçu pour sélectionner des ions du faisceau par leur rapport masse sur charge (m/z). En outre, au moins une cellule de collision peut être agencée en aval du filtre de masse. Au moins un analyseur de masse à champ sectoriel peut être en outre agencé en aval de la cellule de collision, et au moins un multicollecteur d'ions comprenant une pluralité de détecteurs d'ions peut être agencé en aval de l'analyseur de masse, pour détecter une pluralité d'espèces ioniques différentes en parallèle et/ou simultanément.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170223&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2017029200A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170223&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2017029200A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>COATH, Chris</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHWIETERS, Johannes</creatorcontrib><creatorcontrib>ELLIOTT, Tim</creatorcontrib><title>MULTI DETECTOR MASS SPECTROMETER AND SPECTROMETRY METHOD</title><description>The present invention can be directed to a mass spectrometer, relevant parts thereof like replacement kits or upgrading kits and/or mass spectrometry methods. 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Un spectromètre de masse selon la présente invention peut comprendre au moins une source d'ions pour générer un faisceau d'ions à partir d'un échantillon. De plus, au moins un filtre de masse peut être disposé en aval de la source d'ions et conçu pour sélectionner des ions du faisceau par leur rapport masse sur charge (m/z). En outre, au moins une cellule de collision peut être agencée en aval du filtre de masse. 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