PROCESS AND A DEVICE FOR IMPROVEMENT OF OPERATION OF SILICON PHOTOMULTIPLIERS IN THE REGIME OF PILED-UP PULSES OF LIGHT
The present invention belongs to the field of silicon photomultipliers based sensor systems, more precisely to the field of processes for extending the usability of sensor systems with silicon photomultipliers in the regime of piled-up pulses of light and devices, which are based on these processes....
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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creator | LIKAR, ANDREJ CANKAR, MIHA VENCELJ, MATJAZ |
description | The present invention belongs to the field of silicon photomultipliers based sensor systems, more precisely to the field of processes for extending the usability of sensor systems with silicon photomultipliers in the regime of piled-up pulses of light and devices, which are based on these processes. The extension of the silicon photomultiplier performance into the piled-up regime is made by adding an intermediate step into the measurement of the incident light intensity. This step takes into account the properties of the sensor and dynamically compensates for the gain loss due to temporary inhibition of parts of sensor. On the basis of this estimation the system reports numerically modified estimations for brightness of flashes.
La présente invention appartient au domaine des systèmes de capteur basés sur des photomultiplicateurs de silicium, plus précisément au domaine des procédés permettant de prolonger la facilité d'utilisation de systèmes de capteur à l'aide de photomultiplicateurs de silicium en régime d'impulsions de lumière empilées, et des dispositifs qui sont basés sur ces procédés. La prolongation des performances du photomultiplicateur de silicium en régime empilé s'obtient en ajoutant une étape lors de la mesure de l'intensité de la lumière incidente. Cette étape prend en compte les propriétés du capteur et compense de façon dynamique la perte de gain due à l'inhibition temporaire de parties du capteur. Sur la base de cette estimation, le système transmet des estimations numériquement modifiées pour la luminosité des flashs. |
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La présente invention appartient au domaine des systèmes de capteur basés sur des photomultiplicateurs de silicium, plus précisément au domaine des procédés permettant de prolonger la facilité d'utilisation de systèmes de capteur à l'aide de photomultiplicateurs de silicium en régime d'impulsions de lumière empilées, et des dispositifs qui sont basés sur ces procédés. La prolongation des performances du photomultiplicateur de silicium en régime empilé s'obtient en ajoutant une étape lors de la mesure de l'intensité de la lumière incidente. Cette étape prend en compte les propriétés du capteur et compense de façon dynamique la perte de gain due à l'inhibition temporaire de parties du capteur. Sur la base de cette estimation, le système transmet des estimations numériquement modifiées pour la luminosité des flashs.</description><language>eng ; fre</language><subject>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160421&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2016060622A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160421&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2016060622A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LIKAR, ANDREJ</creatorcontrib><creatorcontrib>CANKAR, MIHA</creatorcontrib><creatorcontrib>VENCELJ, MATJAZ</creatorcontrib><title>PROCESS AND A DEVICE FOR IMPROVEMENT OF OPERATION OF SILICON PHOTOMULTIPLIERS IN THE REGIME OF PILED-UP PULSES OF LIGHT</title><description>The present invention belongs to the field of silicon photomultipliers based sensor systems, more precisely to the field of processes for extending the usability of sensor systems with silicon photomultipliers in the regime of piled-up pulses of light and devices, which are based on these processes. The extension of the silicon photomultiplier performance into the piled-up regime is made by adding an intermediate step into the measurement of the incident light intensity. This step takes into account the properties of the sensor and dynamically compensates for the gain loss due to temporary inhibition of parts of sensor. On the basis of this estimation the system reports numerically modified estimations for brightness of flashes.
La présente invention appartient au domaine des systèmes de capteur basés sur des photomultiplicateurs de silicium, plus précisément au domaine des procédés permettant de prolonger la facilité d'utilisation de systèmes de capteur à l'aide de photomultiplicateurs de silicium en régime d'impulsions de lumière empilées, et des dispositifs qui sont basés sur ces procédés. La prolongation des performances du photomultiplicateur de silicium en régime empilé s'obtient en ajoutant une étape lors de la mesure de l'intensité de la lumière incidente. Cette étape prend en compte les propriétés du capteur et compense de façon dynamique la perte de gain due à l'inhibition temporaire de parties du capteur. Sur la base de cette estimation, le système transmet des estimations numériquement modifiées pour la luminosité des flashs.</description><subject>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNik0KwjAQhbtxIeodBlwX2gruQzptBpJMSNJ2WYrElWihgte3BQ8gb_H-vn32cZ4lhgDC1iCgxp4kQsMeyKxXjwZtBG6AHXoRie1WAmmSa3SKI5tOR3Ka0AcgC1EheGzJ4EY60ljnnQPX6YBhmzS1Kh6z3X16LOn080N2bjBKlaf5NaZlnm7pmd7jwFVRXotVVSXKy3_UFyRZOl8</recordid><startdate>20160421</startdate><enddate>20160421</enddate><creator>LIKAR, ANDREJ</creator><creator>CANKAR, MIHA</creator><creator>VENCELJ, MATJAZ</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20160421</creationdate><title>PROCESS AND A DEVICE FOR IMPROVEMENT OF OPERATION OF SILICON PHOTOMULTIPLIERS IN THE REGIME OF PILED-UP PULSES OF LIGHT</title><author>LIKAR, ANDREJ ; CANKAR, MIHA ; VENCELJ, MATJAZ</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2016060622A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2016</creationdate><topic>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LIKAR, ANDREJ</creatorcontrib><creatorcontrib>CANKAR, MIHA</creatorcontrib><creatorcontrib>VENCELJ, MATJAZ</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LIKAR, ANDREJ</au><au>CANKAR, MIHA</au><au>VENCELJ, MATJAZ</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>PROCESS AND A DEVICE FOR IMPROVEMENT OF OPERATION OF SILICON PHOTOMULTIPLIERS IN THE REGIME OF PILED-UP PULSES OF LIGHT</title><date>2016-04-21</date><risdate>2016</risdate><abstract>The present invention belongs to the field of silicon photomultipliers based sensor systems, more precisely to the field of processes for extending the usability of sensor systems with silicon photomultipliers in the regime of piled-up pulses of light and devices, which are based on these processes. The extension of the silicon photomultiplier performance into the piled-up regime is made by adding an intermediate step into the measurement of the incident light intensity. This step takes into account the properties of the sensor and dynamically compensates for the gain loss due to temporary inhibition of parts of sensor. On the basis of this estimation the system reports numerically modified estimations for brightness of flashes.
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