DISPLAY OF IMAGES FROM AN IMAGING TOOL EMBEDDED OR ATTACHED TO A TEST AND MEASUREMENT TOOL
Systems include a test and measurement tool configured to acquire measurement data representative of at least one parameter of a device under test, an imaging tool configured to acquire image data representative of a target scene, and a display device. The display device can include a display and ca...
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|---|---|
| Format: | Patent |
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| creator | HEYDRON, PAUL H STUART, MICHAEL D MOREY, TERRY G |
| description | Systems include a test and measurement tool configured to acquire measurement data representative of at least one parameter of a device under test, an imaging tool configured to acquire image data representative of a target scene, and a display device. The display device can include a display and can be in communication with the test and measurement tool and the imaging tool. The display device can receive measurement data from the test and measurement tool and image data from the imaging tool, and present a display representative of at least one of the measurement data and the image data on the display.
L'invention concerne des systèmes comprenant un outil d'essais-mesures configuré pour acquérir des données de mesures représentatives d'au moins un paramètre d'un dispositif en cours de test, un outil d'imagerie configuré pour acquérir des données d'images représentatives d'une scène visée, et un dispositif d'affichage. Le dispositif d'affichage peut comprendre un afficheur et peut être en communication avec l'outil d'essais-mesures et l'outil d'imagerie. Le dispositif d'affichage peut recevoir des données de mesures provenant de l'outil d'essais-mesures et des données d'images provenant de l'outil d'imagerie, et présenter un affichage représentatif d'au moins une catégorie parmi les données de mesures et les données d'images sur l'afficheur. |
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L'invention concerne des systèmes comprenant un outil d'essais-mesures configuré pour acquérir des données de mesures représentatives d'au moins un paramètre d'un dispositif en cours de test, un outil d'imagerie configuré pour acquérir des données d'images représentatives d'une scène visée, et un dispositif d'affichage. Le dispositif d'affichage peut comprendre un afficheur et peut être en communication avec l'outil d'essais-mesures et l'outil d'imagerie. Le dispositif d'affichage peut recevoir des données de mesures provenant de l'outil d'essais-mesures et des données d'images provenant de l'outil d'imagerie, et présenter un affichage représentatif d'au moins une catégorie parmi les données de mesures et les données d'images sur l'afficheur.</description><language>eng ; fre</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160324&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2016044526A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25555,76308</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160324&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2016044526A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>HEYDRON, PAUL H</creatorcontrib><creatorcontrib>STUART, MICHAEL D</creatorcontrib><creatorcontrib>MOREY, TERRY G</creatorcontrib><title>DISPLAY OF IMAGES FROM AN IMAGING TOOL EMBEDDED OR ATTACHED TO A TEST AND MEASUREMENT TOOL</title><description>Systems include a test and measurement tool configured to acquire measurement data representative of at least one parameter of a device under test, an imaging tool configured to acquire image data representative of a target scene, and a display device. The display device can include a display and can be in communication with the test and measurement tool and the imaging tool. The display device can receive measurement data from the test and measurement tool and image data from the imaging tool, and present a display representative of at least one of the measurement data and the image data on the display.
L'invention concerne des systèmes comprenant un outil d'essais-mesures configuré pour acquérir des données de mesures représentatives d'au moins un paramètre d'un dispositif en cours de test, un outil d'imagerie configuré pour acquérir des données d'images représentatives d'une scène visée, et un dispositif d'affichage. Le dispositif d'affichage peut comprendre un afficheur et peut être en communication avec l'outil d'essais-mesures et l'outil d'imagerie. Le dispositif d'affichage peut recevoir des données de mesures provenant de l'outil d'essais-mesures et des données d'images provenant de l'outil d'imagerie, et présenter un affichage représentatif d'au moins une catégorie parmi les données de mesures et les données d'images sur l'afficheur.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNi0EKwjAQRbtxIeodBlwLba3dj82kDTQZSUZEN6VIXIkW6v2xFA_g6r8H7y-TmzLh1OIVWIOxWFMA7dkCulmNq0GYWyB7JKVIAXtAEayaiYUBQSjIlCuwhOHsyZKT-bNOFo_-OcbNb1fJVpNUzS4O7y6OQ3-Pr_jpLpynWZkWxSEvMdv_V30Bq8Ex7w</recordid><startdate>20160324</startdate><enddate>20160324</enddate><creator>HEYDRON, PAUL H</creator><creator>STUART, MICHAEL D</creator><creator>MOREY, TERRY G</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20160324</creationdate><title>DISPLAY OF IMAGES FROM AN IMAGING TOOL EMBEDDED OR ATTACHED TO A TEST AND MEASUREMENT TOOL</title><author>HEYDRON, PAUL H ; STUART, MICHAEL D ; MOREY, TERRY G</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2016044526A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2016</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>HEYDRON, PAUL H</creatorcontrib><creatorcontrib>STUART, MICHAEL D</creatorcontrib><creatorcontrib>MOREY, TERRY G</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>HEYDRON, PAUL H</au><au>STUART, MICHAEL D</au><au>MOREY, TERRY G</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DISPLAY OF IMAGES FROM AN IMAGING TOOL EMBEDDED OR ATTACHED TO A TEST AND MEASUREMENT TOOL</title><date>2016-03-24</date><risdate>2016</risdate><abstract>Systems include a test and measurement tool configured to acquire measurement data representative of at least one parameter of a device under test, an imaging tool configured to acquire image data representative of a target scene, and a display device. The display device can include a display and can be in communication with the test and measurement tool and the imaging tool. The display device can receive measurement data from the test and measurement tool and image data from the imaging tool, and present a display representative of at least one of the measurement data and the image data on the display.
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| subjects | ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING |
| title | DISPLAY OF IMAGES FROM AN IMAGING TOOL EMBEDDED OR ATTACHED TO A TEST AND MEASUREMENT TOOL |
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