METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OPTICAL EYE DIAGRAM OF A MODULATED OPTICAL BEAM OF AN INTERFEROMETER DEVICE
A method and a system for determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device, a method of evaluating system performance of electro-optic devices, and a data storage medium having stored thereon data code means for instructing a computing device to execute the...
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| Format: | Patent |
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| creator | DIXIT, VIVEK LIM, SOON THOR PNG, CHING ENG JASON |
| description | A method and a system for determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device, a method of evaluating system performance of electro-optic devices, and a data storage medium having stored thereon data code means for instructing a computing device to execute the methods. The method of determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device comprises obtaining AC parameters for one or more modulator structures of the interferometer device at respective DC bias voltages within a predetermined bias voltage range at an operating frequency of the one or more modulator structures from electrical simulation; obtaining a carrier concentration profile from the electrical simulation; obtaining optical parameters for the one or more modulator structures from optical simulation based on the carrier concentration profile; and determining the optical eye diagram of the modulated optical beam based on the AC parameters and the optical parameters.
La présente invention concerne un procédé et un système de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre, un procédé d'évaluation de l'efficacité de système de dispositifs électro-optiques, et un support de stockage de données ayant stocké sur celui-ci un moyen de code de données destiné à instruire un dispositif informatique pour exécuter les procédés. Le procédé de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre consiste à obtenir des paramètres de courant alternatif (CA) pour une ou plusieurs structures de modulateur du dispositif d'interféromètre à des tensions de polarisation de courant continu (CC) respectives dans une plage de tension de polarisation prédéterminée à une fréquence de fonctionnement de la ou des structures de modulateur par une simulation électrique ; à obtenir un profil de concentration de porteuse par la simulation électrique ; à obtenir des paramètres optiques pour la ou les structures de modulateur par une simulation optique sur la base du profil de concentration de porteuse ; à déterminer le diagramme d'œil optique du faisceau optique modulé sur la base des paramètres CA et des paramètres optiques. |
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La présente invention concerne un procédé et un système de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre, un procédé d'évaluation de l'efficacité de système de dispositifs électro-optiques, et un support de stockage de données ayant stocké sur celui-ci un moyen de code de données destiné à instruire un dispositif informatique pour exécuter les procédés. Le procédé de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre consiste à obtenir des paramètres de courant alternatif (CA) pour une ou plusieurs structures de modulateur du dispositif d'interféromètre à des tensions de polarisation de courant continu (CC) respectives dans une plage de tension de polarisation prédéterminée à une fréquence de fonctionnement de la ou des structures de modulateur par une simulation électrique ; à obtenir un profil de concentration de porteuse par la simulation électrique ; à obtenir des paramètres optiques pour la ou les structures de modulateur par une simulation optique sur la base du profil de concentration de porteuse ; à déterminer le diagramme d'œil optique du faisceau optique modulé sur la base des paramètres CA et des paramètres optiques.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COLORIMETRY ; COMPUTING ; COUNTING ; DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING ; ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; ELECTRICITY ; FREQUENCY-CHANGING ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; NON-LINEAR OPTICS ; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS ; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS ; OPTICAL LOGIC ELEMENTS ; OPTICS ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF ; TESTING ; TRANSMISSION</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150326&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2015041609A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150326&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2015041609A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DIXIT, VIVEK</creatorcontrib><creatorcontrib>LIM, SOON THOR</creatorcontrib><creatorcontrib>PNG, CHING ENG JASON</creatorcontrib><title>METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OPTICAL EYE DIAGRAM OF A MODULATED OPTICAL BEAM OF AN INTERFEROMETER DEVICE</title><description>A method and a system for determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device, a method of evaluating system performance of electro-optic devices, and a data storage medium having stored thereon data code means for instructing a computing device to execute the methods. The method of determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device comprises obtaining AC parameters for one or more modulator structures of the interferometer device at respective DC bias voltages within a predetermined bias voltage range at an operating frequency of the one or more modulator structures from electrical simulation; obtaining a carrier concentration profile from the electrical simulation; obtaining optical parameters for the one or more modulator structures from optical simulation based on the carrier concentration profile; and determining the optical eye diagram of the modulated optical beam based on the AC parameters and the optical parameters.
La présente invention concerne un procédé et un système de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre, un procédé d'évaluation de l'efficacité de système de dispositifs électro-optiques, et un support de stockage de données ayant stocké sur celui-ci un moyen de code de données destiné à instruire un dispositif informatique pour exécuter les procédés. Le procédé de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre consiste à obtenir des paramètres de courant alternatif (CA) pour une ou plusieurs structures de modulateur du dispositif d'interféromètre à des tensions de polarisation de courant continu (CC) respectives dans une plage de tension de polarisation prédéterminée à une fréquence de fonctionnement de la ou des structures de modulateur par une simulation électrique ; à obtenir un profil de concentration de porteuse par la simulation électrique ; à obtenir des paramètres optiques pour la ou les structures de modulateur par une simulation optique sur la base du profil de concentration de porteuse ; à déterminer le diagramme d'œil optique du faisceau optique modulé sur la base des paramètres CA et des paramètres optiques.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COLORIMETRY</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING</subject><subject>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>FREQUENCY-CHANGING</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>NON-LINEAR OPTICS</subject><subject>OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS</subject><subject>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</subject><subject>OPTICAL LOGIC ELEMENTS</subject><subject>OPTICS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF</subject><subject>TESTING</subject><subject>TRANSMISSION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjD0LwjAUALs4iPofHjgLiV_g-Exe2kCTJ2lUOpUicRIt1P-PFYqz0w133DTrHMWCNaDXUNVVJAeGA2iKFJz11ueDAj5Fq7AEqgm0xTygAzaA4FifS4ykf8mRRufB-mFiKLD73obnxSqaZ5N7--jTYuQsWxqKqlil7tWkvmtv6ZnezZXXQu7EVu7FAeXmv-oDS7E3_Q</recordid><startdate>20150326</startdate><enddate>20150326</enddate><creator>DIXIT, VIVEK</creator><creator>LIM, SOON THOR</creator><creator>PNG, CHING ENG JASON</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20150326</creationdate><title>METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OPTICAL EYE DIAGRAM OF A MODULATED OPTICAL BEAM OF AN INTERFEROMETER DEVICE</title><author>DIXIT, VIVEK ; 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The method of determining an optical eye diagram of a modulated optical beam of an interferometer device comprises obtaining AC parameters for one or more modulator structures of the interferometer device at respective DC bias voltages within a predetermined bias voltage range at an operating frequency of the one or more modulator structures from electrical simulation; obtaining a carrier concentration profile from the electrical simulation; obtaining optical parameters for the one or more modulator structures from optical simulation based on the carrier concentration profile; and determining the optical eye diagram of the modulated optical beam based on the AC parameters and the optical parameters.
La présente invention concerne un procédé et un système de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre, un procédé d'évaluation de l'efficacité de système de dispositifs électro-optiques, et un support de stockage de données ayant stocké sur celui-ci un moyen de code de données destiné à instruire un dispositif informatique pour exécuter les procédés. Le procédé de détermination de diagramme d'œil optique d'un faisceau optique modulé de dispositif d'interféromètre consiste à obtenir des paramètres de courant alternatif (CA) pour une ou plusieurs structures de modulateur du dispositif d'interféromètre à des tensions de polarisation de courant continu (CC) respectives dans une plage de tension de polarisation prédéterminée à une fréquence de fonctionnement de la ou des structures de modulateur par une simulation électrique ; à obtenir un profil de concentration de porteuse par la simulation électrique ; à obtenir des paramètres optiques pour la ou les structures de modulateur par une simulation optique sur la base du profil de concentration de porteuse ; à déterminer le diagramme d'œil optique du faisceau optique modulé sur la base des paramètres CA et des paramètres optiques.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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