METAL OXIDE TFT STABILITY IMPROVEMENT

A metal oxide thin film transistor incorporating reduced hydrogen silicon-containing layers and methods of making the same are disclosed herein. The thin film transistor can include a substrate, a metal oxide semiconductor layer, a substantially hydrogen free channel interface layer and a cap layer...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: YIM, DONG-KIL, PARK, BEOM SOO, CHOI, SOO YOUNG, WON, TAE K
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!