ABNORMAL CLOCK RATE DETECTION IN IMAGING SENSOR ARRAYS
Techniques are provided to detect abnormal clock rates in devices such as imaging sensor devices (e.g., infrared or visible light imaging devices). In one example, a device may include a clock rate detection circuit that may be readily integrated as part of the device to provide effective detection...
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Format: | Patent |
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creator | SIMOLON, BRIAN SHARP, BARBARA STRANDEMAR, KATRIN HOELTER, THEODORE R NUSSMEIER, MARK BOULANGER, PIERRE GOODLAND, JIM KURTH, ERIC A HÖGASTEN, NICHOLAS |
description | Techniques are provided to detect abnormal clock rates in devices such as imaging sensor devices (e.g., infrared or visible light imaging devices). In one example, a device may include a clock rate detection circuit that may be readily integrated as part of the device to provide effective detection of an abnormal clock rate. The device may include a ramp generator, a counter, and/or other components. The ramp generator may generate a ramp signal independent of a clock signal provided to the device, while the counter may increment/decrement a count value in response to the clock signal. The device may include a comparator adapted to select the current count value of the counter when the ramp signal reaches a reference signal. A processor of the device may be adapted to determine whether the clock signal is operating in an acceptable frequency range, based on the selected count value.
La présente invention se rapporte à des techniques permettant de détecter des fréquences d'horloge anormales dans des dispositifs tels que des dispositifs de capteur d'imagerie (par exemple, des dispositifs d'imagerie à lumière visible ou infrarouge). Selon un exemple, un dispositif peut comprendre un circuit de détection de fréquence d'horloge qui peut être facilement intégré en faisant partie du dispositif pour fournir une détection efficace d'une fréquence d'horloge anormale. Le dispositif peut comprendre un générateur de signal rampe, un compteur et/ou d'autres composants. Le générateur de signal rampe peut générer un signal rampe indépendant d'un signal d'horloge transmis au dispositif tandis que le compteur peut incrémenter/décrémenter une valeur de comptage en réponse au signal d'horloge. Le dispositif peut comprendre un comparateur destiné à sélectionner la valeur de comptage actuelle du compteur lorsque le signal de rampe atteint un signal de référence. Un processeur du dispositif peut être destiné à déterminer si le signal d'horloge fonctionne dans une plage de fréquences acceptable sur la base de la valeur de comptage sélectionnée. |
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La présente invention se rapporte à des techniques permettant de détecter des fréquences d'horloge anormales dans des dispositifs tels que des dispositifs de capteur d'imagerie (par exemple, des dispositifs d'imagerie à lumière visible ou infrarouge). Selon un exemple, un dispositif peut comprendre un circuit de détection de fréquence d'horloge qui peut être facilement intégré en faisant partie du dispositif pour fournir une détection efficace d'une fréquence d'horloge anormale. Le dispositif peut comprendre un générateur de signal rampe, un compteur et/ou d'autres composants. Le générateur de signal rampe peut générer un signal rampe indépendant d'un signal d'horloge transmis au dispositif tandis que le compteur peut incrémenter/décrémenter une valeur de comptage en réponse au signal d'horloge. Le dispositif peut comprendre un comparateur destiné à sélectionner la valeur de comptage actuelle du compteur lorsque le signal de rampe atteint un signal de référence. Un processeur du dispositif peut être destiné à déterminer si le signal d'horloge fonctionne dans une plage de fréquences acceptable sur la base de la valeur de comptage sélectionnée.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; COLORIMETRY ; ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; PHYSICS ; PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION ; RADIATION PYROMETRY ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; TESTING</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140807&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2014093721A3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140807&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2014093721A3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SIMOLON, BRIAN</creatorcontrib><creatorcontrib>SHARP, BARBARA</creatorcontrib><creatorcontrib>STRANDEMAR, KATRIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HOELTER, THEODORE R</creatorcontrib><creatorcontrib>NUSSMEIER, MARK</creatorcontrib><creatorcontrib>BOULANGER, PIERRE</creatorcontrib><creatorcontrib>GOODLAND, JIM</creatorcontrib><creatorcontrib>KURTH, ERIC A</creatorcontrib><creatorcontrib>HÖGASTEN, NICHOLAS</creatorcontrib><title>ABNORMAL CLOCK RATE DETECTION IN IMAGING SENSOR ARRAYS</title><description>Techniques are provided to detect abnormal clock rates in devices such as imaging sensor devices (e.g., infrared or visible light imaging devices). In one example, a device may include a clock rate detection circuit that may be readily integrated as part of the device to provide effective detection of an abnormal clock rate. The device may include a ramp generator, a counter, and/or other components. The ramp generator may generate a ramp signal independent of a clock signal provided to the device, while the counter may increment/decrement a count value in response to the clock signal. The device may include a comparator adapted to select the current count value of the counter when the ramp signal reaches a reference signal. A processor of the device may be adapted to determine whether the clock signal is operating in an acceptable frequency range, based on the selected count value.
La présente invention se rapporte à des techniques permettant de détecter des fréquences d'horloge anormales dans des dispositifs tels que des dispositifs de capteur d'imagerie (par exemple, des dispositifs d'imagerie à lumière visible ou infrarouge). Selon un exemple, un dispositif peut comprendre un circuit de détection de fréquence d'horloge qui peut être facilement intégré en faisant partie du dispositif pour fournir une détection efficace d'une fréquence d'horloge anormale. Le dispositif peut comprendre un générateur de signal rampe, un compteur et/ou d'autres composants. Le générateur de signal rampe peut générer un signal rampe indépendant d'un signal d'horloge transmis au dispositif tandis que le compteur peut incrémenter/décrémenter une valeur de comptage en réponse au signal d'horloge. Le dispositif peut comprendre un comparateur destiné à sélectionner la valeur de comptage actuelle du compteur lorsque le signal de rampe atteint un signal de référence. Un processeur du dispositif peut être destiné à déterminer si le signal d'horloge fonctionne dans une plage de fréquences acceptable sur la base de la valeur de comptage sélectionnée.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>COLORIMETRY</subject><subject>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDBzdPLzD_J19FFw9vF39lYIcgxxVXBxDXF1DvH091PwBCJfR3dPP3eFYFe_YP8gBcegIMfIYB4G1rTEnOJUXijNzaDs5hri7KGbWpAfn1pckJicmpdaEh_ub2RgaGJgaWxuZOhobEycKgCcvSit</recordid><startdate>20140807</startdate><enddate>20140807</enddate><creator>SIMOLON, BRIAN</creator><creator>SHARP, BARBARA</creator><creator>STRANDEMAR, KATRIN</creator><creator>HOELTER, THEODORE R</creator><creator>NUSSMEIER, MARK</creator><creator>BOULANGER, PIERRE</creator><creator>GOODLAND, JIM</creator><creator>KURTH, ERIC A</creator><creator>HÖGASTEN, NICHOLAS</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20140807</creationdate><title>ABNORMAL CLOCK RATE DETECTION IN IMAGING SENSOR ARRAYS</title><author>SIMOLON, BRIAN ; SHARP, BARBARA ; STRANDEMAR, KATRIN ; HOELTER, THEODORE R ; NUSSMEIER, MARK ; BOULANGER, PIERRE ; GOODLAND, JIM ; KURTH, ERIC A ; HÖGASTEN, NICHOLAS</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2014093721A33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2014</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>COLORIMETRY</topic><topic>ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SIMOLON, BRIAN</creatorcontrib><creatorcontrib>SHARP, BARBARA</creatorcontrib><creatorcontrib>STRANDEMAR, KATRIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HOELTER, THEODORE R</creatorcontrib><creatorcontrib>NUSSMEIER, MARK</creatorcontrib><creatorcontrib>BOULANGER, PIERRE</creatorcontrib><creatorcontrib>GOODLAND, JIM</creatorcontrib><creatorcontrib>KURTH, ERIC A</creatorcontrib><creatorcontrib>HÖGASTEN, NICHOLAS</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SIMOLON, BRIAN</au><au>SHARP, BARBARA</au><au>STRANDEMAR, KATRIN</au><au>HOELTER, THEODORE R</au><au>NUSSMEIER, MARK</au><au>BOULANGER, PIERRE</au><au>GOODLAND, JIM</au><au>KURTH, ERIC A</au><au>HÖGASTEN, NICHOLAS</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>ABNORMAL CLOCK RATE DETECTION IN IMAGING SENSOR ARRAYS</title><date>2014-08-07</date><risdate>2014</risdate><abstract>Techniques are provided to detect abnormal clock rates in devices such as imaging sensor devices (e.g., infrared or visible light imaging devices). 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La présente invention se rapporte à des techniques permettant de détecter des fréquences d'horloge anormales dans des dispositifs tels que des dispositifs de capteur d'imagerie (par exemple, des dispositifs d'imagerie à lumière visible ou infrarouge). Selon un exemple, un dispositif peut comprendre un circuit de détection de fréquence d'horloge qui peut être facilement intégré en faisant partie du dispositif pour fournir une détection efficace d'une fréquence d'horloge anormale. Le dispositif peut comprendre un générateur de signal rampe, un compteur et/ou d'autres composants. Le générateur de signal rampe peut générer un signal rampe indépendant d'un signal d'horloge transmis au dispositif tandis que le compteur peut incrémenter/décrémenter une valeur de comptage en réponse au signal d'horloge. Le dispositif peut comprendre un comparateur destiné à sélectionner la valeur de comptage actuelle du compteur lorsque le signal de rampe atteint un signal de référence. Un processeur du dispositif peut être destiné à déterminer si le signal d'horloge fonctionne dans une plage de fréquences acceptable sur la base de la valeur de comptage sélectionnée.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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