SENSOR CALIBRATION METHOD AND APPARATUS
Disclosed is a method of calibrating an apparatus comprising at least one sensor for detecting one or more analytes of interest in a sample, the method comprising measuring a first set of responses of the at least one sensor to at least one first calibration solution having a known composition of th...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | TROUGHTON, GAVIN HENDRY, STUART |
| description | Disclosed is a method of calibrating an apparatus comprising at least one sensor for detecting one or more analytes of interest in a sample, the method comprising measuring a first set of responses of the at least one sensor to at least one first calibration solution having a known composition of the one or more analytes of interest; measuring a second response of the at least one sensor to a second calibration solution having an approximately known composition of the one or more analytes of interest; determining the composition of the second calibration solution from the difference between the first set of responses and the second response; and periodically calibrating the at least one sensor with the second calibration solution using said determined composition. An apparatus and computer program product for executing this method are also disclosed.
L'invention porte sur un procédé d'étalonnage d'un appareil comprenant au moins un capteur pour la détection d'un ou plusieurs analytes présentant un intérêt dans un échantillon, le procédé comprenant la mesure d'un premier ensemble de réponses dudit ou desdits capteurs à au moins une première solution d'étalonnage ayant une composition connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la mesure d'une seconde réponse dudit ou desdits capteurs à une seconde solution d'étalonnage ayant une composition approximativement connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la détermination de la composition de la seconde solution d'étalonnage à partir de la différence entre le premier ensemble de réponses et la seconde réponse ; et périodiquement l'étalonnage dudit ou desdits capteurs avec la seconde solution d'étalonnage à l'aide de ladite composition déterminée. L'invention porte également sur un appareil et un produit programme informatique pour l'exécution de ce procédé. |
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L'invention porte sur un procédé d'étalonnage d'un appareil comprenant au moins un capteur pour la détection d'un ou plusieurs analytes présentant un intérêt dans un échantillon, le procédé comprenant la mesure d'un premier ensemble de réponses dudit ou desdits capteurs à au moins une première solution d'étalonnage ayant une composition connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la mesure d'une seconde réponse dudit ou desdits capteurs à une seconde solution d'étalonnage ayant une composition approximativement connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la détermination de la composition de la seconde solution d'étalonnage à partir de la différence entre le premier ensemble de réponses et la seconde réponse ; et périodiquement l'étalonnage dudit ou desdits capteurs avec la seconde solution d'étalonnage à l'aide de ladite composition déterminée. L'invention porte également sur un appareil et un produit programme informatique pour l'exécution de ce procédé.</description><language>eng ; fre</language><subject>DIAGNOSIS ; HUMAN NECESSITIES ; HYGIENE ; IDENTIFICATION ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE ; PHYSICS ; SURGERY ; TESTING</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140109&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2014006406A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140109&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2014006406A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TROUGHTON, GAVIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HENDRY, STUART</creatorcontrib><title>SENSOR CALIBRATION METHOD AND APPARATUS</title><description>Disclosed is a method of calibrating an apparatus comprising at least one sensor for detecting one or more analytes of interest in a sample, the method comprising measuring a first set of responses of the at least one sensor to at least one first calibration solution having a known composition of the one or more analytes of interest; measuring a second response of the at least one sensor to a second calibration solution having an approximately known composition of the one or more analytes of interest; determining the composition of the second calibration solution from the difference between the first set of responses and the second response; and periodically calibrating the at least one sensor with the second calibration solution using said determined composition. An apparatus and computer program product for executing this method are also disclosed.
L'invention porte sur un procédé d'étalonnage d'un appareil comprenant au moins un capteur pour la détection d'un ou plusieurs analytes présentant un intérêt dans un échantillon, le procédé comprenant la mesure d'un premier ensemble de réponses dudit ou desdits capteurs à au moins une première solution d'étalonnage ayant une composition connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la mesure d'une seconde réponse dudit ou desdits capteurs à une seconde solution d'étalonnage ayant une composition approximativement connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la détermination de la composition de la seconde solution d'étalonnage à partir de la différence entre le premier ensemble de réponses et la seconde réponse ; et périodiquement l'étalonnage dudit ou desdits capteurs avec la seconde solution d'étalonnage à l'aide de ladite composition déterminée. L'invention porte également sur un appareil et un produit programme informatique pour l'exécution de ce procédé.</description><subject>DIAGNOSIS</subject><subject>HUMAN NECESSITIES</subject><subject>HYGIENE</subject><subject>IDENTIFICATION</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SURGERY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFAPdvUL9g9ScHb08XQKcgzx9PdT8HUN8fB3UXD0A-KAAEegaGgwDwNrWmJOcSovlOZmUHZzDXH20E0tyI9PLS5ITE7NSy2JD_c3MjA0MTAwMzEwczQ0Jk4VAHZkJLM</recordid><startdate>20140109</startdate><enddate>20140109</enddate><creator>TROUGHTON, GAVIN</creator><creator>HENDRY, STUART</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20140109</creationdate><title>SENSOR CALIBRATION METHOD AND APPARATUS</title><author>TROUGHTON, GAVIN ; HENDRY, STUART</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2014006406A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2014</creationdate><topic>DIAGNOSIS</topic><topic>HUMAN NECESSITIES</topic><topic>HYGIENE</topic><topic>IDENTIFICATION</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SURGERY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TROUGHTON, GAVIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HENDRY, STUART</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TROUGHTON, GAVIN</au><au>HENDRY, STUART</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SENSOR CALIBRATION METHOD AND APPARATUS</title><date>2014-01-09</date><risdate>2014</risdate><abstract>Disclosed is a method of calibrating an apparatus comprising at least one sensor for detecting one or more analytes of interest in a sample, the method comprising measuring a first set of responses of the at least one sensor to at least one first calibration solution having a known composition of the one or more analytes of interest; measuring a second response of the at least one sensor to a second calibration solution having an approximately known composition of the one or more analytes of interest; determining the composition of the second calibration solution from the difference between the first set of responses and the second response; and periodically calibrating the at least one sensor with the second calibration solution using said determined composition. An apparatus and computer program product for executing this method are also disclosed.
L'invention porte sur un procédé d'étalonnage d'un appareil comprenant au moins un capteur pour la détection d'un ou plusieurs analytes présentant un intérêt dans un échantillon, le procédé comprenant la mesure d'un premier ensemble de réponses dudit ou desdits capteurs à au moins une première solution d'étalonnage ayant une composition connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la mesure d'une seconde réponse dudit ou desdits capteurs à une seconde solution d'étalonnage ayant une composition approximativement connue dudit ou desdits analytes présentant un intérêt ; la détermination de la composition de la seconde solution d'étalonnage à partir de la différence entre le premier ensemble de réponses et la seconde réponse ; et périodiquement l'étalonnage dudit ou desdits capteurs avec la seconde solution d'étalonnage à l'aide de ladite composition déterminée. L'invention porte également sur un appareil et un produit programme informatique pour l'exécution de ce procédé.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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