METHOD AND SYSTEM FOR SENSOR CALIBRATION SUPPORT
A computer implemented method, computer program product and computer system for sensor calibration support. The computer system receives measurement data from at least one sensor node out of a plurality of sensor nodes. The measurement data is validated against an associated sensor state model and a...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A computer implemented method, computer program product and computer system for sensor calibration support. The computer system receives measurement data from at least one sensor node out of a plurality of sensor nodes. The measurement data is validated against an associated sensor state model and a global model, wherein the global model has knowledge about spatio-temporal phenomena observed by the plurality of sensor nodes and wherein the associated sensor state model is associated with the at least one sensor node and the associated sensor state model is based on at least one sensor parameter of the associated at least one sensor node. A de-calibration of the at least one sensor node is detected based on the measurement data validation and a local model is retrieved from the global model for the at least one de-calibrated sensor node, wherein the local model is a spatio-temporal snapshot of the global model. At least one sensor parameter of the at least one de-calibrated sensor node is optimized by comparing the at least one de-calibrated sensor node to at least one calibrated neighboring sensor node from the local model and the at least one optimized sensor parameter is provided to update the at least one sensor state model associated with the at least one de-calibrated sensor node.
La présente invention concerne un procédé mis en oeuvre par ordinateur, un produit programme d'ordinateur et un système informatique destinés à l'assistance à l'étalonnage de capteurs. Le système informatique reçoit des données de mesure à partir d'au moins un noeud de capteur parmi une pluralité de noeuds de capteur. Les données de mesure sont validées par rapport à un modèle d'état de capteur associé et un modèle global, le modèle global ayant une connaissance des phénomènes spatio-temporels observés par la pluralité de noeuds de capteur et le modèle d'état de capteur associé étant associé au(x) noeud(s) de capteur; le modèle d'état de capteur associé est basé sur au moins un paramètre de capteur du ou des noeuds de capteur associés. Un désétalonnage du ou des noeuds de capteurs est détecté sur la base de la validation des données de mesure et un modèle local est récupéré à partir du modèle global pour le ou les noeuds de capteur désétalonné, le modèle local étant un instantané spatio-temporel du modèle global. Au moins un paramètre de capteur du ou des noeuds de capteur désétalonné est optimisé par comparaison du ou des noeuds de capteur désétalonné avec au moins un noeud |
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