WIRELESS CHIPSET WITH A NON-TEMPERATURE COMPENSATED CRYSTAL REFERENCE
An apparatus includes a temperature measuring device within a thermally conductive package. A crystal within the package is thermally coupled to the temperature measuring device and subjected to a same temperature as the temperature measuring device. A controller external to the package is configure...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | WILCOX, RICK A FILIPOVIC, DANIEL F CHI, XU MIKE ROSOLOWSKI, CHRIS M |
| description | An apparatus includes a temperature measuring device within a thermally conductive package. A crystal within the package is thermally coupled to the temperature measuring device and subjected to a same temperature as the temperature measuring device. A controller external to the package is configured to receive a signal from the crystal and a temperature measurement from the temperature measuring device. The controller is configured to estimate a frequency error of the crystal based on the temperature measurement and to provide a frequency error estimate to an external system.
La présente invention se rapporte à un appareil qui comprend un dispositif de mesure de température agencé dans un boîtier thermoconducteur. Un cristal agencé dans le boîtier est couplé thermiquement au dispositif de mesure de température et soumis à la même température que le dispositif de mesure de température. Un dispositif de commande agencé dans une position externe au boîtier est configuré pour recevoir un signal du cristal et une mesure de la température du dispositif de mesure de température. Le dispositif de commande est configuré pour estimer une erreur de fréquence du cristal sur la base de la mesure de la température et pour transmettre à un système externe une estimation d'erreur de fréquence. |
| format | Patent |
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La présente invention se rapporte à un appareil qui comprend un dispositif de mesure de température agencé dans un boîtier thermoconducteur. Un cristal agencé dans le boîtier est couplé thermiquement au dispositif de mesure de température et soumis à la même température que le dispositif de mesure de température. Un dispositif de commande agencé dans une position externe au boîtier est configuré pour recevoir un signal du cristal et une mesure de la température du dispositif de mesure de température. Le dispositif de commande est configuré pour estimer une erreur de fréquence du cristal sur la base de la mesure de la température et pour transmettre à un système externe une estimation d'erreur de fréquence.</description><language>eng ; fre</language><subject>AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATIONOF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES ; BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY ; ELECTRICITY ; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS ; GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING,BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN ANON-SWITCHING MANNER</subject><creationdate>2012</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120823&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012112621A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120823&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012112621A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>WILCOX, RICK A</creatorcontrib><creatorcontrib>FILIPOVIC, DANIEL F</creatorcontrib><creatorcontrib>CHI, XU MIKE</creatorcontrib><creatorcontrib>ROSOLOWSKI, CHRIS M</creatorcontrib><title>WIRELESS CHIPSET WITH A NON-TEMPERATURE COMPENSATED CRYSTAL REFERENCE</title><description>An apparatus includes a temperature measuring device within a thermally conductive package. A crystal within the package is thermally coupled to the temperature measuring device and subjected to a same temperature as the temperature measuring device. A controller external to the package is configured to receive a signal from the crystal and a temperature measurement from the temperature measuring device. The controller is configured to estimate a frequency error of the crystal based on the temperature measurement and to provide a frequency error estimate to an external system.
La présente invention se rapporte à un appareil qui comprend un dispositif de mesure de température agencé dans un boîtier thermoconducteur. Un cristal agencé dans le boîtier est couplé thermiquement au dispositif de mesure de température et soumis à la même température que le dispositif de mesure de température. Un dispositif de commande agencé dans une position externe au boîtier est configuré pour recevoir un signal du cristal et une mesure de la température du dispositif de mesure de température. Le dispositif de commande est configuré pour estimer une erreur de fréquence du cristal sur la base de la mesure de la température et pour transmettre à un système externe une estimation d'erreur de fréquence.</description><subject>AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATIONOF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES</subject><subject>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS</subject><subject>GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING,BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN ANON-SWITCHING MANNER</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2012</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHAN9wxy9XENDlZw9vAMCHYNUQj3DPFQcFTw8_fTDXH1DXANcgwJDXJVcPYHsv2CHUNcXRScgyKDQxx9FIJc3VyDXP2cXXkYWNMSc4pTeaE0N4Oym2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXy4v5GBoZGhoZGZkaGjoTFxqgBXFS0l</recordid><startdate>20120823</startdate><enddate>20120823</enddate><creator>WILCOX, RICK A</creator><creator>FILIPOVIC, DANIEL F</creator><creator>CHI, XU MIKE</creator><creator>ROSOLOWSKI, CHRIS M</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20120823</creationdate><title>WIRELESS CHIPSET WITH A NON-TEMPERATURE COMPENSATED CRYSTAL REFERENCE</title><author>WILCOX, RICK A ; FILIPOVIC, DANIEL F ; CHI, XU MIKE ; ROSOLOWSKI, CHRIS M</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2012112621A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2012</creationdate><topic>AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATIONOF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES</topic><topic>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS</topic><topic>GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING,BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN ANON-SWITCHING MANNER</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>WILCOX, RICK A</creatorcontrib><creatorcontrib>FILIPOVIC, DANIEL F</creatorcontrib><creatorcontrib>CHI, XU MIKE</creatorcontrib><creatorcontrib>ROSOLOWSKI, CHRIS M</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>WILCOX, RICK A</au><au>FILIPOVIC, DANIEL F</au><au>CHI, XU MIKE</au><au>ROSOLOWSKI, CHRIS M</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>WIRELESS CHIPSET WITH A NON-TEMPERATURE COMPENSATED CRYSTAL REFERENCE</title><date>2012-08-23</date><risdate>2012</risdate><abstract>An apparatus includes a temperature measuring device within a thermally conductive package. A crystal within the package is thermally coupled to the temperature measuring device and subjected to a same temperature as the temperature measuring device. A controller external to the package is configured to receive a signal from the crystal and a temperature measurement from the temperature measuring device. The controller is configured to estimate a frequency error of the crystal based on the temperature measurement and to provide a frequency error estimate to an external system.
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