CLASSIFYING A CRITICALITY OF A SOFT ERROR AND MITIGATING THE SOFT ERROR BASED ON THE CRITICALITY
Methods and systems mitigate a soft error in an integrated circuit (200, 302). A map (350, 352) is stored (112) that specifies a criticality class for each storage bit (332, 334) in the integrated circuit. A mitigation technique is associated with each criticality class. The soft error is detected (...
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|---|---|
| Format: | Patent |
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| creator | RODRIGUEZ, ALFRED, L POSSLEY, NICHOLAS, J BOSHEARS, KEVIN HUSSEIN, JAMEEL LESEA, AUSTIN, H |
| description | Methods and systems mitigate a soft error in an integrated circuit (200, 302). A map (350, 352) is stored (112) that specifies a criticality class for each storage bit (332, 334) in the integrated circuit. A mitigation technique is associated with each criticality class. The soft error is detected (114) in a corrupted one of the storage bits. The mitigation technique is performed (116) that is associated with the criticality class specified in the map for the corrupted storage bit.
Des procédés et des systèmes atténuent une erreur logicielle dans un circuit intégré (200, 302). Une carte (350, 352) est stockée en mémoire (112) et spécifie une catégorie de criticité pour chaque bit de stockage (332, 334) dans le circuit intégré. Une technique d'atténuation est associée à chaque catégorie de criticité. L'erreur logicielle est détectée (114) dans un bit altéré parmi les bits de stockage. On applique ensuite (116) une technique d'atténuation qui est associée à la catégorie de criticité spécifiée dans la carte pour le bit de stockage altéré. |
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Des procédés et des systèmes atténuent une erreur logicielle dans un circuit intégré (200, 302). Une carte (350, 352) est stockée en mémoire (112) et spécifie une catégorie de criticité pour chaque bit de stockage (332, 334) dans le circuit intégré. Une technique d'atténuation est associée à chaque catégorie de criticité. L'erreur logicielle est détectée (114) dans un bit altéré parmi les bits de stockage. On applique ensuite (116) une technique d'atténuation qui est associée à la catégorie de criticité spécifiée dans la carte pour le bit de stockage altéré.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY ; CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; ELECTRICITY ; PHYSICS ; PULSE TECHNIQUE</subject><creationdate>2012</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120524&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012067733A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120524&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012067733A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>RODRIGUEZ, ALFRED, L</creatorcontrib><creatorcontrib>POSSLEY, NICHOLAS, J</creatorcontrib><creatorcontrib>BOSHEARS, KEVIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HUSSEIN, JAMEEL</creatorcontrib><creatorcontrib>LESEA, AUSTIN, H</creatorcontrib><title>CLASSIFYING A CRITICALITY OF A SOFT ERROR AND MITIGATING THE SOFT ERROR BASED ON THE CRITICALITY</title><description>Methods and systems mitigate a soft error in an integrated circuit (200, 302). A map (350, 352) is stored (112) that specifies a criticality class for each storage bit (332, 334) in the integrated circuit. A mitigation technique is associated with each criticality class. The soft error is detected (114) in a corrupted one of the storage bits. The mitigation technique is performed (116) that is associated with the criticality class specified in the map for the corrupted storage bit.
Des procédés et des systèmes atténuent une erreur logicielle dans un circuit intégré (200, 302). Une carte (350, 352) est stockée en mémoire (112) et spécifie une catégorie de criticité pour chaque bit de stockage (332, 334) dans le circuit intégré. Une technique d'atténuation est associée à chaque catégorie de criticité. L'erreur logicielle est détectée (114) dans un bit altéré parmi les bits de stockage. On applique ensuite (116) une technique d'atténuation qui est associée à la catégorie de criticité spécifiée dans la carte pour le bit de stockage altéré.</description><subject>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</subject><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PULSE TECHNIQUE</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2012</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZEhw9nEMDvZ0i_T0c1dwVHAO8gzxdHb08QyJVPB3AwoE-7uFKLgGBfkHKTj6uSj4AqXdHUNAikM8XJFlnRyDXV0U_P3A4kjG8DCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSS-HB_IwNDIwMzc3NjY0dDY-JUAQAWqTP0</recordid><startdate>20120524</startdate><enddate>20120524</enddate><creator>RODRIGUEZ, ALFRED, L</creator><creator>POSSLEY, NICHOLAS, J</creator><creator>BOSHEARS, KEVIN</creator><creator>HUSSEIN, JAMEEL</creator><creator>LESEA, AUSTIN, H</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20120524</creationdate><title>CLASSIFYING A CRITICALITY OF A SOFT ERROR AND MITIGATING THE SOFT ERROR BASED ON THE CRITICALITY</title><author>RODRIGUEZ, ALFRED, L ; POSSLEY, NICHOLAS, J ; BOSHEARS, KEVIN ; HUSSEIN, JAMEEL ; LESEA, AUSTIN, H</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2012067733A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2012</creationdate><topic>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</topic><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>PULSE TECHNIQUE</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>RODRIGUEZ, ALFRED, L</creatorcontrib><creatorcontrib>POSSLEY, NICHOLAS, J</creatorcontrib><creatorcontrib>BOSHEARS, KEVIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HUSSEIN, JAMEEL</creatorcontrib><creatorcontrib>LESEA, AUSTIN, H</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>RODRIGUEZ, ALFRED, L</au><au>POSSLEY, NICHOLAS, J</au><au>BOSHEARS, KEVIN</au><au>HUSSEIN, JAMEEL</au><au>LESEA, AUSTIN, H</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>CLASSIFYING A CRITICALITY OF A SOFT ERROR AND MITIGATING THE SOFT ERROR BASED ON THE CRITICALITY</title><date>2012-05-24</date><risdate>2012</risdate><abstract>Methods and systems mitigate a soft error in an integrated circuit (200, 302). A map (350, 352) is stored (112) that specifies a criticality class for each storage bit (332, 334) in the integrated circuit. A mitigation technique is associated with each criticality class. The soft error is detected (114) in a corrupted one of the storage bits. The mitigation technique is performed (116) that is associated with the criticality class specified in the map for the corrupted storage bit.
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