DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY
A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | TAKIAR, HEM YU, CHEEMAN TUNG, CHIHIANG SHI, JIAMING LU, FRANK CHAVET, DIDIER |
description | A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device.
L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2012045202A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2012045202A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2012045202A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNyrEKwjAQANAsDqL-w4GzkEb9gOvlikGbk_RscSpF4iRaqP-Pi5uL01ve3LQ-NJRYGUjqs0SOCiXSscPkQRMSYxlOQa-A0UPDdSCJ_kIqCTy3gRgqST97aWb34THl1deFWVesdNjk8dXnaRxu-ZnffSfOFs7u9s46LLb_rQ9ypTHH</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><source>esp@cenet</source><creator>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</creator><creatorcontrib>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><description>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device.
L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2012</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120412&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012045202A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20120412&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2012045202A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TAKIAR, HEM</creatorcontrib><creatorcontrib>YU, CHEEMAN</creatorcontrib><creatorcontrib>TUNG, CHIHIANG</creatorcontrib><creatorcontrib>SHI, JIAMING</creatorcontrib><creatorcontrib>LU, FRANK</creatorcontrib><creatorcontrib>CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><description>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device.
L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2012</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyrEKwjAQANAsDqL-w4GzkEb9gOvlikGbk_RscSpF4iRaqP-Pi5uL01ve3LQ-NJRYGUjqs0SOCiXSscPkQRMSYxlOQa-A0UPDdSCJ_kIqCTy3gRgqST97aWb34THl1deFWVesdNjk8dXnaRxu-ZnffSfOFs7u9s46LLb_rQ9ypTHH</recordid><startdate>20120412</startdate><enddate>20120412</enddate><creator>TAKIAR, HEM</creator><creator>YU, CHEEMAN</creator><creator>TUNG, CHIHIANG</creator><creator>SHI, JIAMING</creator><creator>LU, FRANK</creator><creator>CHAVET, DIDIER</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20120412</creationdate><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><author>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2012045202A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2012</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TAKIAR, HEM</creatorcontrib><creatorcontrib>YU, CHEEMAN</creatorcontrib><creatorcontrib>TUNG, CHIHIANG</creatorcontrib><creatorcontrib>SHI, JIAMING</creatorcontrib><creatorcontrib>LU, FRANK</creatorcontrib><creatorcontrib>CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TAKIAR, HEM</au><au>YU, CHEEMAN</au><au>TUNG, CHIHIANG</au><au>SHI, JIAMING</au><au>LU, FRANK</au><au>CHAVET, DIDIER</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><date>2012-04-12</date><risdate>2012</risdate><abstract>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device.
L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; fre |
recordid | cdi_epo_espacenet_WO2012045202A1 |
source | esp@cenet |
subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES |
title | DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-30T08%3A12%3A18IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=TAKIAR,%20HEM&rft.date=2012-04-12&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2012045202A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |