DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY

A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: TAKIAR, HEM, YU, CHEEMAN, TUNG, CHIHIANG, SHI, JIAMING, LU, FRANK, CHAVET, DIDIER
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator TAKIAR, HEM
YU, CHEEMAN
TUNG, CHIHIANG
SHI, JIAMING
LU, FRANK
CHAVET, DIDIER
description A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device. L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2012045202A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2012045202A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2012045202A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNyrEKwjAQANAsDqL-w4GzkEb9gOvlikGbk_RscSpF4iRaqP-Pi5uL01ve3LQ-NJRYGUjqs0SOCiXSscPkQRMSYxlOQa-A0UPDdSCJ_kIqCTy3gRgqST97aWb34THl1deFWVesdNjk8dXnaRxu-ZnffSfOFs7u9s46LLb_rQ9ypTHH</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><source>esp@cenet</source><creator>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</creator><creatorcontrib>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><description>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device. L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2012</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20120412&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2012045202A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20120412&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2012045202A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TAKIAR, HEM</creatorcontrib><creatorcontrib>YU, CHEEMAN</creatorcontrib><creatorcontrib>TUNG, CHIHIANG</creatorcontrib><creatorcontrib>SHI, JIAMING</creatorcontrib><creatorcontrib>LU, FRANK</creatorcontrib><creatorcontrib>CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><description>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device. L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2012</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyrEKwjAQANAsDqL-w4GzkEb9gOvlikGbk_RscSpF4iRaqP-Pi5uL01ve3LQ-NJRYGUjqs0SOCiXSscPkQRMSYxlOQa-A0UPDdSCJ_kIqCTy3gRgqST97aWb34THl1deFWVesdNjk8dXnaRxu-ZnffSfOFs7u9s46LLb_rQ9ypTHH</recordid><startdate>20120412</startdate><enddate>20120412</enddate><creator>TAKIAR, HEM</creator><creator>YU, CHEEMAN</creator><creator>TUNG, CHIHIANG</creator><creator>SHI, JIAMING</creator><creator>LU, FRANK</creator><creator>CHAVET, DIDIER</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20120412</creationdate><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><author>TAKIAR, HEM ; YU, CHEEMAN ; TUNG, CHIHIANG ; SHI, JIAMING ; LU, FRANK ; CHAVET, DIDIER</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2012045202A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2012</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TAKIAR, HEM</creatorcontrib><creatorcontrib>YU, CHEEMAN</creatorcontrib><creatorcontrib>TUNG, CHIHIANG</creatorcontrib><creatorcontrib>SHI, JIAMING</creatorcontrib><creatorcontrib>LU, FRANK</creatorcontrib><creatorcontrib>CHAVET, DIDIER</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TAKIAR, HEM</au><au>YU, CHEEMAN</au><au>TUNG, CHIHIANG</au><au>SHI, JIAMING</au><au>LU, FRANK</au><au>CHAVET, DIDIER</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY</title><date>2012-04-12</date><risdate>2012</risdate><abstract>A system is disclosed for providing backward and forward traceability by a methodology which identifies discrete components (die, substrate and/or passives) that are included in a semiconductor device. The present technology further includes a system for generating a unique identifier and marking a semiconductor device with the unique identifier enabling the semiconductor device, and the discrete components within that device, to be tracked and traced through each process and test in the production of the semiconductor device. L'invention concerne un système destiné à assurer la traçabilité arrière et avant par une méthodologie qui identifie des composants discrets (puce, substrat et/ou éléments passifs) qui sont inclus dans un dispositif à semi-conducteur. La présente technologie comprend en outre un système destiné à produire un identificateur unique et à marquer un dispositif à semi-conducteur à l'aide de l'identificateur unique, ce qui permet la traçabilité du dispositif à semi-conducteur, et des composants discrets qui s'y trouvent, au fil de tous les processus et essais au cours de la production du dispositif à semi-conducteur.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2012045202A1
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
title DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-30T08%3A12%3A18IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=TAKIAR,%20HEM&rft.date=2012-04-12&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2012045202A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true