X-RAY ANALYSER

An x-ray analyser for a transmission electron microscope is described. The analyser has a silicon drift detector (16) moveable in use between an analysis position and a retracted position. The analyser has a housing having an end portion (12) within which the silicon drift detector is retained. The...

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Hauptverfasser: BHADARE, SANTOKH SINGH, BEWICK, ANGUS
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator BHADARE, SANTOKH SINGH
BEWICK, ANGUS
description An x-ray analyser for a transmission electron microscope is described. The analyser has a silicon drift detector (16) moveable in use between an analysis position and a retracted position. The analyser has a housing having an end portion (12) within which the silicon drift detector is retained. The end portion is formed from a material with a relative magnetic permeability of less than 1.004. The analyser also has an automatic retraction system adapted to move the silicon drift detector from the analysis position to the retracted position upon receipt of a trigger signal indicative of a condition in which the power level received by the silicon drift detector from impinging x-rays or electrons is above a predetermined threshold. La présente invention concerne un analyseur aux rayons X destiné à un microscope électronique à transmission. L'analyseur comporte un détecteur au silicium à diffusion (SDD) (16) pouvant bouger en utilisation entre une position d'analyse et une position rétractée. L'analyseur comporte un logement ayant une partie d'extrémité (12) dans laquelle est retenu le détecteur au silicium à diffusion. La partie d'extrémité est formée à partir d'un matériau avec une perméabilité magnétique relative inférieure à 1,004. L'analyseur comporte également un système de rétraction automatique adapté pour déplacer le détecteur au silicium à diffusion de la position d'analyse à la position rétractée lors de la réception d'un signal de déclenchement indiquant une condition dans laquelle le niveau de puissance reçue par le détecteur au silicium à diffusion provenant de l'impact des rayons X ou des électrons est supérieur à un seuil prédéterminé.
format Patent
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The analyser has a housing having an end portion (12) within which the silicon drift detector is retained. The end portion is formed from a material with a relative magnetic permeability of less than 1.004. The analyser also has an automatic retraction system adapted to move the silicon drift detector from the analysis position to the retracted position upon receipt of a trigger signal indicative of a condition in which the power level received by the silicon drift detector from impinging x-rays or electrons is above a predetermined threshold. La présente invention concerne un analyseur aux rayons X destiné à un microscope électronique à transmission. L'analyseur comporte un détecteur au silicium à diffusion (SDD) (16) pouvant bouger en utilisation entre une position d'analyse et une position rétractée. L'analyseur comporte un logement ayant une partie d'extrémité (12) dans laquelle est retenu le détecteur au silicium à diffusion. La partie d'extrémité est formée à partir d'un matériau avec une perméabilité magnétique relative inférieure à 1,004. L'analyseur comporte également un système de rétraction automatique adapté pour déplacer le détecteur au silicium à diffusion de la position d'analyse à la position rétractée lors de la réception d'un signal de déclenchement indiquant une condition dans laquelle le niveau de puissance reçue par le détecteur au silicium à diffusion provenant de l'impact des rayons X ou des électrons est supérieur à un seuil prédéterminé.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY</subject><creationdate>2011</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20110616&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2011070309A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76294</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20110616&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2011070309A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BHADARE, SANTOKH SINGH</creatorcontrib><creatorcontrib>BEWICK, ANGUS</creatorcontrib><title>X-RAY ANALYSER</title><description>An x-ray analyser for a transmission electron microscope is described. 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L'analyseur comporte un logement ayant une partie d'extrémité (12) dans laquelle est retenu le détecteur au silicium à diffusion. La partie d'extrémité est formée à partir d'un matériau avec une perméabilité magnétique relative inférieure à 1,004. 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