UNIVERSAL X-RAY TEST BED

Systems and methods presented herein provide for the testing and reconfiguration of x-ray devices. In one embodiment, a test bed effectuates testing of an acquired x-ray device to determine a cause of the inoperability of the device. The x-ray device test bed may be provided to test a plurality of x...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: MARKOFF, NICK, CONE, CHRIS, TESIC, MIKE
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Systems and methods presented herein provide for the testing and reconfiguration of x-ray devices. In one embodiment, a test bed effectuates testing of an acquired x-ray device to determine a cause of the inoperability of the device. The x-ray device test bed may be provided to test a plurality of x-ray devices and, therefore, readily adaptable to such devices. The x-ray device test bed may include a mount for an x-ray tube. A variable power supply may be coupled to the x-ray tube to provide the requisite high-voltage electrical energy thereto. The x-ray device test bed may also include a mount for an imaging module (e.g., a 'flat-panel sensor'). A processor may be coupled to the imaging module to determine the operational characteristics thereof. If certain x-ray components are deemed inoperable, the x-ray components may be replaced such that the x-ray device may be reintroduced to a medical industry segment. L'invention porte sur des systèmes et des procédés pour le test et la reconfiguration de dispositifs de rayons X. Dans un mode de réalisation, un lit de test effectue le test d'un dispositif de rayons X acquis pour déterminer une cause du non-fonctionnement du dispositif. Le lit de test de dispositif de rayons X peut être fourni pour tester une pluralité de dispositifs de rayons X et, par conséquent, être facilement adaptable à de tels dispositifs. Le lit de test de dispositif de rayons X peut comprendre une monture pour un tube de rayons X. Une alimentation électrique variable peut être couplée au tube de rayons X pour fournir l'énergie électrique haute tension requise à celui-ci. Le lit de test de dispositif de rayons X peut également comprendre une monture pour un module d'imagerie (par exemple, un « détecteur à panneau plat »). Un processeur peut être couplé au module d'imagerie pour déterminer les caractéristiques fonctionnelles de celui-ci. Si certains composants de rayons X sont estimés sans effet, les composants de rayons X peuvent être remplacés de telle sorte que le dispositif de rayons X peut être réintroduit dans un segment d'industrie médicale.