ERROR DETECTION AND REJECTION FOR A DIAGNOSTIC TESTING SYSTEM

A system for measuring a property of a sample is provided. The system comprises a diagnostic measuring device having a memory and a diagnostic test strip for collecting the sample. The strip has embedded thereon a pattern representative of at least first data and second data, the first data being data representing at least one of parameters related to measuring the property, codes usable for calibration of the diagnostic measuring device, or parameters indicating proper connection between the measuring device and the test strip and the second data usable for detecting and rejecting potential errors affecting the proper measurement of the property. La présente invention concerne un système pour mesurer une propriété d'un échantillon. Le système comprend un dispositif de mesure de diagnostic doté d'une mémoire et d'une bande d'analyse de diagnostic pour collecter l'échantillon. La bande intègre un schéma représentant au moins les premières données et les secondes données, les premières données étant des données représentant au moins un des paramètres associés à la mesure de propriété, des codes utilisables pour le calibrage du dispositif de mesure de diagnostic ou des paramètres indiquant la connexion adéquate entre le dispositif de mesure et la bande de test, et les secondes données pouvant être utilisés pour détecter et rejeter des erreurs potentielles affectant la mesure même de la propriété.