INSPECTION SYSTEM AND METHOD

INSPECTION SYSTEM AND METHOD

A method and system for illuminating a target such as a device under test. Light is projected from a light source to a light controller having a plurality of pixels. The pixels are controlled to establish first and second illumination characteristics and, the target is illuminated with the first and...

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1. Verfasser: FISHBAINE, DAVID
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
ELECTRICITY
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creator FISHBAINE, DAVID
description A method and system for illuminating a target such as a device under test. Light is projected from a light source to a light controller having a plurality of pixels. The pixels are controlled to establish first and second illumination characteristics and, the target is illuminated with the first and second illumination characteristics from the light controller. L'invention concerne un procédé et un système d'éclairage d'une cible telle qu'un dispositif l'essai. Une lumière est projetée à partir d'une source de lumière vers un dispositif de commande d'éclairage présentant une pluralité de pixels. Les pixels sont commandés afin d'établir des première et seconde caractéristiques d'éclairage et la cible est éclairée avec les première et seconde caractéristiques d'éclairage du dispositif de commande d'éclairage.
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The pixels are controlled to establish first and second illumination characteristics and, the target is illuminated with the first and second illumination characteristics from the light controller. L'invention concerne un procédé et un système d'éclairage d'une cible telle qu'un dispositif l'essai. Une lumière est projetée à partir d'une source de lumière vers un dispositif de commande d'éclairage présentant une pluralité de pixels. 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