AUTOMATIC MATERIAL LABELING DURING SPECTRAL IMAGE DATA ACQUISITION
A system for performing spectral microanalysis delivers analysis results during the course of data collection. As spectra are collected from pixels on a specimen, the system periodically analyzes the spectra to statistically derive underlying spectra representing proposed specimen components, wherei...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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creator | ROHDE, DAVID, B CAMUS, PATRICK, P |
description | A system for performing spectral microanalysis delivers analysis results during the course of data collection. As spectra are collected from pixels on a specimen, the system periodically analyzes the spectra to statistically derive underlying spectra representing proposed specimen components, wherein the derived spectra combine in varying proportions to result (at least approximately) in the measured spectra at each pixel. Those pixels having the same dominant proposed component, and/or which contain at least approximately the same proportions of the proposed components, may then have their measured spectra combined (i.e., added or averaged). These spectra may then be cross-referenced via reference libraries to identify the components actually present. During the foregoing analysis, the measured spectra are preferably condensed, as by reducing the number of energy channels/intervals making up the measured spectra and/or by combining the measured spectra of adjacent pixels, to reduce the size of the data cube and expedite analysis results.
L'invention concerne un système pour réaliser une microanalyse spectrale, qui donne des résultats d'analyse pendant le déroulement de la collecte de données. A mesure que des spectres sont collectés à partir des pixels d'un spécimen, le système analyse de manière périodique le spectre pour déduire de manière statistique un spectre sous-jacent représentant les composants spécimen proposés, les spectres dérivés se combinant en proportions diverses pour arriver (au moins approximativement) aux spectres mesurés à chaque pixel. Les pixels ayant le même composant proposé dominant, et/ou contenant au moins approximativement les mêmes proportions des composants proposés, peuvent ensuite avoir leurs spectres mesurés combinés (c'est-à-dire, ajoutés ou moyennés). Ces spectres peuvent ensuite être recoupés par l'intermédiaire de bibliothèques de référence pour identifier les composants qui sont réellement présents. Pendant l'analyse précédente, les spectres mesurés sont de préférence condensés, par exemple par réduction du nombre de canaux/intervalles d'énergie réalisant les spectres mesurés, et/ou par combinaison des spectres mesurés des pixels adjacents, pour réduire la taille du cube de données et accélérer les résultats d'analyse. |
format | Patent |
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L'invention concerne un système pour réaliser une microanalyse spectrale, qui donne des résultats d'analyse pendant le déroulement de la collecte de données. A mesure que des spectres sont collectés à partir des pixels d'un spécimen, le système analyse de manière périodique le spectre pour déduire de manière statistique un spectre sous-jacent représentant les composants spécimen proposés, les spectres dérivés se combinant en proportions diverses pour arriver (au moins approximativement) aux spectres mesurés à chaque pixel. Les pixels ayant le même composant proposé dominant, et/ou contenant au moins approximativement les mêmes proportions des composants proposés, peuvent ensuite avoir leurs spectres mesurés combinés (c'est-à-dire, ajoutés ou moyennés). Ces spectres peuvent ensuite être recoupés par l'intermédiaire de bibliothèques de référence pour identifier les composants qui sont réellement présents. Pendant l'analyse précédente, les spectres mesurés sont de préférence condensés, par exemple par réduction du nombre de canaux/intervalles d'énergie réalisant les spectres mesurés, et/ou par combinaison des spectres mesurés des pixels adjacents, pour réduire la taille du cube de données et accélérer les résultats d'analyse.</description><language>eng ; fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; PHYSICS</subject><creationdate>2008</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20080131&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2008014463A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20080131&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2008014463A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ROHDE, DAVID, B</creatorcontrib><creatorcontrib>CAMUS, PATRICK, P</creatorcontrib><title>AUTOMATIC MATERIAL LABELING DURING SPECTRAL IMAGE DATA ACQUISITION</title><description>A system for performing spectral microanalysis delivers analysis results during the course of data collection. As spectra are collected from pixels on a specimen, the system periodically analyzes the spectra to statistically derive underlying spectra representing proposed specimen components, wherein the derived spectra combine in varying proportions to result (at least approximately) in the measured spectra at each pixel. Those pixels having the same dominant proposed component, and/or which contain at least approximately the same proportions of the proposed components, may then have their measured spectra combined (i.e., added or averaged). These spectra may then be cross-referenced via reference libraries to identify the components actually present. During the foregoing analysis, the measured spectra are preferably condensed, as by reducing the number of energy channels/intervals making up the measured spectra and/or by combining the measured spectra of adjacent pixels, to reduce the size of the data cube and expedite analysis results.
L'invention concerne un système pour réaliser une microanalyse spectrale, qui donne des résultats d'analyse pendant le déroulement de la collecte de données. A mesure que des spectres sont collectés à partir des pixels d'un spécimen, le système analyse de manière périodique le spectre pour déduire de manière statistique un spectre sous-jacent représentant les composants spécimen proposés, les spectres dérivés se combinant en proportions diverses pour arriver (au moins approximativement) aux spectres mesurés à chaque pixel. Les pixels ayant le même composant proposé dominant, et/ou contenant au moins approximativement les mêmes proportions des composants proposés, peuvent ensuite avoir leurs spectres mesurés combinés (c'est-à-dire, ajoutés ou moyennés). Ces spectres peuvent ensuite être recoupés par l'intermédiaire de bibliothèques de référence pour identifier les composants qui sont réellement présents. Pendant l'analyse précédente, les spectres mesurés sont de préférence condensés, par exemple par réduction du nombre de canaux/intervalles d'énergie réalisant les spectres mesurés, et/ou par combinaison des spectres mesurés des pixels adjacents, pour réduire la taille du cube de données et accélérer les résultats d'analyse.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>PHYSICS</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2008</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHByDA3x93UM8XRWAJKuQZ6OPgo-jk6uPp5-7gouoUEgKjjA1TkkCCjh6evo7qrg4hjiqODoHBjqGewZ4unvx8PAmpaYU5zKC6W5GZTdXEOcPXRTC_LjU4sLEpNT81JL4sP9jQwMLAwMTUzMjB2NjIlTBQCqcSwU</recordid><startdate>20080131</startdate><enddate>20080131</enddate><creator>ROHDE, DAVID, B</creator><creator>CAMUS, PATRICK, P</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20080131</creationdate><title>AUTOMATIC MATERIAL LABELING DURING SPECTRAL IMAGE DATA ACQUISITION</title><author>ROHDE, DAVID, B ; CAMUS, PATRICK, P</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2008014463A23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2008</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>PHYSICS</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ROHDE, DAVID, B</creatorcontrib><creatorcontrib>CAMUS, PATRICK, P</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ROHDE, DAVID, B</au><au>CAMUS, PATRICK, P</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>AUTOMATIC MATERIAL LABELING DURING SPECTRAL IMAGE DATA ACQUISITION</title><date>2008-01-31</date><risdate>2008</risdate><abstract>A system for performing spectral microanalysis delivers analysis results during the course of data collection. As spectra are collected from pixels on a specimen, the system periodically analyzes the spectra to statistically derive underlying spectra representing proposed specimen components, wherein the derived spectra combine in varying proportions to result (at least approximately) in the measured spectra at each pixel. Those pixels having the same dominant proposed component, and/or which contain at least approximately the same proportions of the proposed components, may then have their measured spectra combined (i.e., added or averaged). These spectra may then be cross-referenced via reference libraries to identify the components actually present. During the foregoing analysis, the measured spectra are preferably condensed, as by reducing the number of energy channels/intervals making up the measured spectra and/or by combining the measured spectra of adjacent pixels, to reduce the size of the data cube and expedite analysis results.
L'invention concerne un système pour réaliser une microanalyse spectrale, qui donne des résultats d'analyse pendant le déroulement de la collecte de données. A mesure que des spectres sont collectés à partir des pixels d'un spécimen, le système analyse de manière périodique le spectre pour déduire de manière statistique un spectre sous-jacent représentant les composants spécimen proposés, les spectres dérivés se combinant en proportions diverses pour arriver (au moins approximativement) aux spectres mesurés à chaque pixel. Les pixels ayant le même composant proposé dominant, et/ou contenant au moins approximativement les mêmes proportions des composants proposés, peuvent ensuite avoir leurs spectres mesurés combinés (c'est-à-dire, ajoutés ou moyennés). Ces spectres peuvent ensuite être recoupés par l'intermédiaire de bibliothèques de référence pour identifier les composants qui sont réellement présents. Pendant l'analyse précédente, les spectres mesurés sont de préférence condensés, par exemple par réduction du nombre de canaux/intervalles d'énergie réalisant les spectres mesurés, et/ou par combinaison des spectres mesurés des pixels adjacents, pour réduire la taille du cube de données et accélérer les résultats d'analyse.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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