METHOD AND APPARATUS FOR SIMULTANEOUS DETECTION AND MEASUREMENT OF CHARGED PARTICLES AT ONE OR MORE LEVELS OF PARTICLE FLUX FOR ANALYSIS OF SAME
A charged particle detector and method are disclosed providing for simultaneous detection and measurement of charged particles at one or more levels of particle flux in a measurement cycle. The detector provides multiple and independently selectable levels of integration and/or gain in a fully addre...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A charged particle detector and method are disclosed providing for simultaneous detection and measurement of charged particles at one or more levels of particle flux in a measurement cycle. The detector provides multiple and independently selectable levels of integration and/or gain in a fully addressable readout manner.
La présente invention concerne un détecteur de particules chargées et un procédé permettant d'effectuer une détection et une mesure simultanées de particules chargées à un ou plusieurs niveaux de flux de particules dans un cycle de mesure. Le détecteur fournit de multiples niveaux d'intégration et/ou de gain indépendamment sélectionnable d'une manière entièrement adressable en lecture. |
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