METER ELECTRONICS AND METHODS FOR DETERMINING A PHASE DIFFERENCE BETWEEN A FIRST SENSOR SIGNAL AND A SECOND SENSOR SIGNAL OF A FLOW METER

METER ELECTRONICS AND METHODS FOR DETERMINING A PHASE DIFFERENCE BETWEEN A FIRST SENSOR SIGNAL AND A SECOND SENSOR SIGNAL OF A FLOW METER

Meter electronics (20) for processing sensor signals in a flow meter is provided according to an embodiment of the invention. The meter electronics (20) includes an interface (201) for receiving a first sensor signal and a second sensor signal and a processing system (203) in communication with the...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: HENROT, DENIS, M, MCANALLY, CRAIG, B
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL
METERING BY VOLUME
PHYSICS
TESTING
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creator HENROT, DENIS, M
MCANALLY, CRAIG, B
description Meter electronics (20) for processing sensor signals in a flow meter is provided according to an embodiment of the invention. The meter electronics (20) includes an interface (201) for receiving a first sensor signal and a second sensor signal and a processing system (203) in communication with the interface (201) and configured to receive the first sensor signal and the second sensor signal, generate a ninety degree phase shift from the first sensor signal, and compute a frequency from the first sensor signal and the ninety degree phase shift. The processing system (203) is further configured to generate sine and cosine signals using the frequency, and quadrature demodulate the first sensor signal and the second sensor signal using the sine and cosine signals in order to determine the phase difference. L'invention concerne un dispositif électronique (20) de mesure destiné à traiter les signaux de détection d'un débitmètre selon un mode de réalisation de l'invention. Le dispositif électronique (20) de mesure comprend une interface (201) destinée à recevoir un premier signal de détection et un second signal de détection, et un système (203) de traitement en communication avec l'interface (201) et configuré pour recevoir le premier signal de détection et le second signal de détection, générer un décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés à partir du premier signal de détection, et calculer une fréquence à partir du premier signal de détection et du décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés. Le système (203) de traitement est également configuré pour générer des signaux sinusoïdaux et cosinusoïdaux à l'aide de la fréquence, et démoduler en quadrature le premier signal de détection et le seond signal de détection à l'aide des signaux sinusoïdaux et cosinusoïdaux afin de déterminer la différence de phase.
format Patent
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Le dispositif électronique (20) de mesure comprend une interface (201) destinée à recevoir un premier signal de détection et un second signal de détection, et un système (203) de traitement en communication avec l'interface (201) et configuré pour recevoir le premier signal de détection et le second signal de détection, générer un décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés à partir du premier signal de détection, et calculer une fréquence à partir du premier signal de détection et du décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés. 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Le dispositif électronique (20) de mesure comprend une interface (201) destinée à recevoir un premier signal de détection et un second signal de détection, et un système (203) de traitement en communication avec l'interface (201) et configuré pour recevoir le premier signal de détection et le second signal de détection, générer un décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés à partir du premier signal de détection, et calculer une fréquence à partir du premier signal de détection et du décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés. 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Le dispositif électronique (20) de mesure comprend une interface (201) destinée à recevoir un premier signal de détection et un second signal de détection, et un système (203) de traitement en communication avec l'interface (201) et configuré pour recevoir le premier signal de détection et le second signal de détection, générer un décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés à partir du premier signal de détection, et calculer une fréquence à partir du premier signal de détection et du décalage de phase de quatre-vingt-dix degrés. Le système (203) de traitement est également configuré pour générer des signaux sinusoïdaux et cosinusoïdaux à l'aide de la fréquence, et démoduler en quadrature le premier signal de détection et le seond signal de détection à l'aide des signaux sinusoïdaux et cosinusoïdaux afin de déterminer la différence de phase.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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